圖中為雙棱鏡干涉實驗裝置

Ⅰ 雙棱鏡干涉物理實驗問題

1.請問在實驗中任意兩條相鄰暗紋之間的距離與什麼有關？
答：跟棱鏡頂角有關，跟棱鏡折射率有關，跟干涉屏到雙棱鏡距離有關！
2.當什麼改變時？條紋變寬，當什麼改變時？條紋變窄
答：當棱鏡頂角加大，折射率變小的時候，光線偏折角度變小，光源的兩個像點距離加大，就好像雙縫干涉的縫寬加大，那麼根據雙縫干涉條紋間距公式，可以知道當雙縫寬度加大的時候，條紋間隔減小。同時還跟雙棱鏡到屏幕的距離有關，距離越長，間隔越長。（ε=λD/d，其中ε是條紋間距，D是雙縫到屏幕的距離，雙棱鏡的話就是光源的像點到屏幕的距離，d是雙縫間距，也就是兩個像點的距離）
1.還有如要觀察到清晰的干涉條紋，對光路的調節要點是什麼？
這個不了解，但是我覺得，至少應該讓光源（也就是狹縫）正對雙棱鏡中心，狹縫要調節的與豎直平行。其他沒什麼要調的了，本來光路就簡單，元器件就少！
2.如果狹縫和雙棱鏡不平行，或狹縫太寬，能看到干涉條紋嘛？為什麼？
如果狹縫和雙棱鏡不平行，就如同雙縫干涉的狹縫發生傾斜，傾斜的雙縫，就好比是把干涉圖樣傾斜了，這樣得到的干涉條紋是清晰的，但是會傾斜！
如果狹縫太寬，衍射光形成的新的光源線度太長，根據光的空間相乾性，條紋的干涉圖樣的明暗對比度會下降，干涉條紋可見度變若，但是仍然是豎直的干涉條紋！
（V=|λsin(πbβ/λ)/(πbβ)|，其中b是光源線寬，V是條紋可見度，β是光源中心對狹縫的角寬頻）。

Ⅱ 雙棱鏡干涉如果實驗測量中條紋分布太密難以觀測條紋間距,該如何調節實驗裝置

1.狹縫與棱鏡之間的距離增大,干涉條紋間距基本不變(略有變小)
2.狹縫與顯微鏡之間的距離增大時,干涉條紋間距變大

Ⅲ 如圖所示為「雙棱鏡干涉」實驗裝置，其中S為單色光源，A為一個頂角略小於180°的等腰三角形棱鏡，P為光屏

光源S發出的光經棱鏡作用後，相當於在沒有棱鏡時，兩個分別位於圖S₁和S₂位置的相回干光答源所發出的光的疊加．
根據雙縫干涉條紋的間距公式△x=

Ⅳ Ⅰ．圖1中為「雙棱鏡千涉」實驗裝置，其中s為單色光源，A為一個頂角略小於180°的等腰三角形棱鏡，P為光

lkEgU．（2）如圖，10.0，1.23×10³．

Ⅳ 在雙棱鏡干涉實驗中棱鏡和雙棱鏡不平行，能看到干涉條紋嗎為什麼

可以，但是傾斜了。

Ⅵ 雙棱鏡干涉實驗的注意點！

實驗裝置如圖3-15-4所示，除光源外各器件均需安置在光具座上，Q為鈉光燈；為寬度及取向可調單縫；透鏡L1將光源Q發出的光會聚於單縫S上，以提高照明單縫上的光強度；B為雙棱鏡；L2為輔助成像透鏡，用來測量兩虛光源S1、S2之間的距離d；P為觀察屏，用作調節光路；M為測微目鏡。根據光的干涉理論和條件，為獲得對比度好、清晰的干涉條紋，調節好的光路必須滿足以下條件：（1）光路中各元件同軸等高。（2）單縫與雙棱鏡棱脊嚴格平行，通過單縫的光對稱地射在雙棱鏡的棱脊上。（3）單縫寬窄合適，否則干涉條紋對比度很差。3．光路調節實驗中單縫S寬度的調節是單邊移動來實現的，故單縫應置於三維可調滑塊上；雙棱鏡B置二維可調滑塊上；輔助成像透鏡L2置三維可調滑塊上。（1）目測各器件共軸等高。（2）調節光源Q、透鏡L1及單縫S使光對稱射在雙棱鏡B的棱脊上。（3）單縫S與雙棱鏡B距離合適（一方面兩者距離越大，干涉條紋越蜜；另一方面經雙棱鏡折射後的光線匯聚在單縫上。），將測微目鏡M置於雙棱鏡後附近處，在改變單縫寬度、取向的同時觀察干涉情況，以獲得對比度好、清晰的干涉條紋。（4）移動測微目鏡使其與單縫的距離略大於輔助成像透鏡L2四倍焦距。注意在移動測微目鏡的同時觀察干涉條紋，若干涉條紋朝一邊移動則通過調節放置單縫的三維可調滑塊，使干涉條紋處於目鏡中央。（5）在雙棱鏡與目鏡之間加入輔助成像透鏡，移動其位置使通過目鏡能觀察到虛光源兩次成像。 （6）固定各器件之間距離不變，測量有關量。3．測微目鏡測微目鏡是用來測量微小間距的儀器，由目鏡、可動分劃板、固定分劃板、讀數鼓輪與連接裝置組成。其結構外形簡圖如圖3-15-3所示。使用時，通過轉動讀數鼓輪帶動絲桿可以推動可動分劃板左右移動，該分劃板上刻有十字交叉線，其移動方向垂直於目鏡光軸，移動距離可通過帶有刻度的不動鼓輪及可動讀數鼓輪讀出。測微目鏡的讀數方法與螺旋測微計相似，豎線或交叉點位置的毫米數由不動鼓輪的刻度讀出，毫米以下的讀數由可動鼓輪上確定。本儀器測長范圍0～10mm，測量精度為0.01mm，可以估讀到0.001mm。使用時應先調節接目鏡，叉絲清晰後（此時待測物須成像在分劃板平面上）轉動鼓輪，推動分劃板使叉絲的交點或豎線與待測物的像邊緣重合，便可得到一個讀數。轉動鼓輪使叉絲的交點或豎線移動到待測物像的另一邊緣上，又得到一個讀數，兩讀數之差即為待測物像的大小。注意事項：（1）測微目鏡中十字叉絲移動的方向應與被測物線度方向平行，即豎線與之垂直。（2）為消除鼓輪的絲桿螺紋與螺母之間存在間隙以及鼓輪空轉所引起的系統誤差，測量應緩慢朝一個方向轉動鼓輪，中途不可逆轉。（3）轉動鼓輪觀測十字叉絲的位置時，不要移出其觀測范圍（0~10mm）。（4）不要用手觸摸任何鏡頭。http://jpkc.nwpu.e.cn/jp2005/10/experiment/part_sljgs/part_sljgs.htm

Ⅶ 雙棱鏡干涉實驗中，若點光源位置不變，接收光屏位置不變，若使干涉條紋數目增多，該如何操作

實驗中若光源位置不變，接受屏位置不變，若使干涉條紋數目增多，該如
A) 該實驗中回，無論先答測相鄰干涉條紋的間距還是測量兩個虛光源像之間的距離都是可以的。
B) 減小雙棱鏡與擴束鏡之間的距離，干涉條紋將變密。
C) 為了使讀數顯微鏡視場中出現10條以上干涉條紋，應盡量減小雙棱鏡與擴束鏡之間的距離，，這對其它量的測量沒有影響。
D) 虛光源的像之間的距離受到擴束鏡到雙棱鏡之間距離的影響。

Ⅷ 干涉實驗中棱鏡和雙棱鏡不平行，能看到干涉條紋嗎

實驗裝置如圖3-15-4所示，除光源外各器件均需安置在光具座上，Q為鈉光燈；S為寬度及取向可調單縫；透鏡L1將光源Q發出的光會聚於單縫S上，以提高照明單縫上的光強度；B為雙棱鏡；L2為輔助成像透鏡，用來測量兩虛光源S1、S2之間的距離d；P為觀察屏，用作調節光路；M為測微目鏡。根據光的干涉理論和條件，為獲得對比度好、清晰的干涉條紋，調節好的光路必須滿足以下條件：（1）光路中各元件同軸等高。（2）單縫與雙棱鏡棱脊嚴格平行，通過單縫的光對稱地射在雙棱鏡的棱脊上。（3）單縫寬窄合適，否則干涉條紋對比度很差。3．光路調節實驗中單縫S寬度的調節是單邊移動來實現的，故單縫應置於三維可調滑塊上；雙棱鏡B置二維可調滑塊上；輔助成像透鏡L2置三維可調滑塊上。（1）目測各器件共軸等高。（2）調節光源Q、透鏡L1及單縫S使光對稱射在雙棱鏡B的棱脊上。（3）單縫S與雙棱鏡B距離合適（一方面兩者距離越大，干涉條紋越蜜；另一方面經雙棱鏡折射後的光線匯聚在單縫上。），將測微目鏡M置於雙棱鏡後附近處，在改變單縫寬度、取向的同時觀察干涉情況，以獲得對比度好、清晰的干涉條紋。（4）移動測微目鏡使其與單縫的距離略大於輔助成像透鏡L2四倍焦距。注意在移動測微目鏡的同時觀察干涉條紋，若干涉條紋朝一邊移動則通過調節放置單縫的三維可調滑塊，使干涉條紋處於目鏡中央。（5）在雙棱鏡與目鏡之間加入輔助成像透鏡，移動其位置使通過目鏡能觀察到虛光源兩次成像。（6）固定各器件之間距離不變，測量有關量。3．測微目鏡測微目鏡是用來測量微小間距的儀器，由目鏡、可動分劃板、固定分劃板、讀數鼓輪與連接裝置組成。其結構外形簡圖如圖3-15-3所示。使用時，通過轉動讀數鼓輪帶動絲桿可以推動可動分劃板左右移動，該分劃板上刻有十字交叉線，其移動方向垂直於目鏡光軸，移動距離可通過帶有刻度的不動鼓輪及可動讀數鼓輪讀出。測微目鏡的讀數方法與螺旋測微計相似，豎線或交叉點位置的毫米數由不動鼓輪的刻度讀出，毫米以下的讀數由可動鼓輪上確定。本儀器測長范圍0～10mm，測量精度為0.01mm，可以估讀到0.001mm。使用時應先調節接目鏡，叉絲清晰後（此時待測物須成像在分劃板平面上）轉動鼓輪，推動分劃板使叉絲的交點或豎線與待測物的像邊緣重合，便可得到一個讀數。轉動鼓輪使叉絲的交點或豎線移動到待測物像的另一邊緣上，又得到一個讀數，兩讀數之差即為待測物像的大小。注意事項：（1）測微目鏡中十字叉絲移動的方向應與被測物線度方向平行，即豎線與之垂直。（2）為消除鼓輪的絲桿螺紋與螺母之間存在間隙以及鼓輪空轉所引起的系統誤差，測量應緩慢朝一個方向轉動鼓輪，中途不可逆轉。（3）轉動鼓輪觀測十字叉絲的位置時，不要移出其觀測范圍（0~10mm）。（4）不要用手觸摸任何鏡頭。/jp2005/10/experiment/part_sljgs/part_sljgs.htm