電路設備檢測裝置

『壹』 我公司製作的插到電路板上的電纜,如何才能檢測電纜里每根線是否有插錯孔位或者接觸不良的方法

電纜線的芯都有顏色區分的，一般排線是沒有的，首先，你如果電路板上用的纜線還是20芯的，建議直接改進設計，因為電路板上用纜線的各種比不上排線，也不好檢測，因為沒有排序，如果是排線的話，就好辦了，一一對應位置和接頭焊接，做一個檢測工裝，比如20芯的就做20個信號燈的檢測裝置，每條芯一個，1-20編號，對應1-20號芯線，這就是最簡易方便的了

『貳』 電路檢測裝置可不可以檢測材料的導電性

電路中材料的形狀和體積固定的時候，用檢測電阻和電壓的儀表或者檢測電流的儀表都可以完成這個功能要求

『叄』 電子電路檢測裝置

把插針兩頭用插頭分別接到檢測電路上，用計數器控制模擬開關檢測

『肆』 集成電路的檢測都會使用到哪些檢測設備

集成電路的檢測（IC test）分為wafer test（晶圓檢測）、chip test（晶元檢測）和package test（封裝檢測）。

wafer test是在晶圓從晶圓廠生產出來後，切割減薄之前的檢測。其設備通常是測試廠商自行開發製造或定製的，一般是將晶圓放在測試平台上，用探針探到晶元中事先確定的檢測點，探針上可以通過直流電流和交流信號，可以對其進行各種電氣參數檢測。

對於光學IC，還需要對其進行給定光照條件下的電氣性能檢測。

wefer test主要設備：探針平台。
wefer test輔助設備：無塵室及其全套設備。

wefer test是效率最高的測試，因為一個晶圓上常常有幾百個到幾千個甚至上萬個晶元，而這所有晶元可以在測試平台上一次性檢測。

chip test是在晶圓經過切割、減薄工序，成為一片片獨立的chip之後的檢測。其設備通常是測試廠商自行開發製造或定製的，一般是將晶圓放在測試平台上，用探針探到晶元中事先確定的檢測點，探針上可以通過直流電流和交流信號，可以對其進行各種電氣參數檢測。chip test和wafer test設備最主要的區別是因為被測目標形狀大小不同因而夾具不同。

對於光學IC，還需要對其進行給定光照條件下的電氣性能檢測。

chip test主要設備：探針平台（包括夾持不同規格chip的夾具）
chip test輔助設備：無塵室及其全套設備。

chip test能檢測的范圍和wafer test是差不多的，由於已經經過了切割、減薄工序，還可以將切割、減薄工序中損壞的不良品挑出來。但chip test效率比wafer test要低不少。

package test是在晶元封裝成成品之後進行的檢測。由於晶元已經封裝，所以不再需要無塵室環境，測試要求的條件大大降低。

一般package test的設備也是各個廠商自己開發或定製的，通常包含測試各種電子或光學參數的感測器，但通常不使用探針探入晶元內部（多數晶元封裝後也無法探入），而是直接從管腳連線進行測試。

由於package test無法使用探針測試晶元內部，因此其測試范圍受到限制，有很多指標無法在這一環節進行測試。但package test是最終產品的檢測，因此其檢測合格即為最終合格產品。

IC的測試是一個相當復雜的系統工程，無法簡單地告訴你怎樣判定是合格還是不合格。

一般說來，是根據設計要求進行測試，不符合設計要求的就是不合格。而設計要求，因產品不同而各不相同，有的IC需要檢測大量的參數，有的則只需要檢測很少的參數。

事實上，一個具體的IC，並不一定要經歷上面提到的全部測試，而經歷多道測試工序的IC，具體在哪個工序測試哪些參數，也是有很多種變化的，這是一個復雜的系統工程。

例如對於晶元面積大、良率高、封裝成本低的晶元，通常可以不進行wafer test，而晶元面積小、良率低、封裝成本高的晶元，最好將很多測試放在wafer test環節，及早發現不良品，避免不良品混入封裝環節，無謂地增加封裝成本。

IC檢測的設備，由於IC的生產量通常非常巨大，因此向萬用表、示波器一類手工測試一起一定是不能勝任的，目前的測試設備通常都是全自動化、多功能組合測量裝置，並由程序控制，你基本上可以認為這些測試設備就是一台測量專用工業機器人。

IC的測試是IC生產流程中一個非常重要的環節，在目前大多數的IC中，測試環節所佔成本常常要佔到總成本的1/4到一半。

『伍』 什麼是 微機繼電保護測試儀

ND2000B-6H 微機繼電保護校驗儀使用易用的Windows XP操作系統，人機界面友好，操作簡便快捷，為了方便用戶使用，定義了大量鍵盤快捷鍵，使得操作「一鍵到位」。高性能的嵌入式工業控制計算機和大屏幕高分辨力彩色TFT液晶顯示屏，可以提供豐富直觀的信息，包括設備當前的工作狀態、下一步工作提示及各種幫助信息等。配備有超薄型工業鍵盤和觸控滑鼠，可以象操作普通PC機一樣通過鍵盤或滑鼠完成各種操作。配備有外接USB介面，可以方便地進行數據存取和軟體維護。無需外接其它設備即可以完成所有項目的測試，自動顯示、記錄測試數據，完成矢量圖和特性曲線的描繪。

ND2000B-6H微機繼電保護校驗儀採用高性能D/A轉換器，產生的波形精度高、線性好，並且具備良好的瞬態響應和幅頻特性。在整個測量范圍內都能保證波形精度等指標要求。可直接輸出交流電壓、交流電流、直流電壓、直流電流，可變幅值、相角、頻率。功率放大部分採用新型大功率高保真線性功放電路，輸出功率大、紋波干擾小，在輸出電流達到最大時，波形仍能保證不失真、不削峰。開入量輸入介面能自動適應無源（空接點）、有源，並能自動適應有源輸入的極性，在輸入電壓±250V范圍內能正常工作。可以完成各種復雜的校驗工作，能方便地測試及掃描各種保護定值，可以實時存儲測試數據，顯示矢量圖，列印報表等。採用精心設計的機箱結構，體積小，散熱良好，重量輕，易攜帶，流動試驗方便。儀器具有自我保護功能，採用合理設計的散熱結構，具有可靠完善的多種保護措施及電源軟啟動，和一定的故障自診斷及閉鎖功能。

『陸』 電路檢測器和電器檢測器的區別

電路檢測器適用於對小燈泡、支流干電池，簡單電路，導體與絕緣體材料進行直接測試，操作簡單，使用方便。
電器檢測器是對某一個或某一類電器檢測的儀器，相比於電路檢測器檢測的目標更具體，更有針對性。