熒光分析實驗裝置圖

Ⅰ 如圖為盧瑟福和他的同事們做α 粒子散射實驗裝置的示意圖，熒光屏和顯微鏡一起分別放在圖中的A、B、C、D

Ⅱ x射線熒光光譜儀的工作原理

當能量高於原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處於不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12-10-14s，然後自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨即在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應，亦稱次級光電效應或無輻射效應，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。它的能量是特徵的，與入射輻射的能量無關。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收，而是以輻射形式放出，便產生X射線熒光，其能量等於兩能級之間的能量差。因此，X射線熒光的能量或波長是特徵性的，與元素有一一對應的關系。圖10.1給出了X射線熒光和俄歇電子產生過程示意圖。

K層電子被逐出後,其空穴可以被外層中任一電子所填充，從而可產生一系列的譜線，稱為K系譜線：由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。同樣,L層電子被逐出可以產生L系輻射(見圖10.2)。如果入射的X射線使某元素的K層電子激發成光電子後L層電子躍遷到K層，此時就有能量ΔE釋放出來，且ΔE=EK-EL，這個能量是以X射線形式釋放，產生的就是Kα射線，同樣還可以產生Kβ射線，L系射線等。莫斯萊(H.G.Moseley) 發現，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學關系如下：
λ=K(Z-s)-2
這就是莫斯萊定律，式中K和S是常數，因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。
事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干擾時，仍需人工鑒別。首先識別出X射線管靶材的特徵X射線和強峰的伴隨線，然後根據2θ角標注剩斜譜線。在分析未知譜線時，要同時考慮到樣品的來源，性質等因素，以便綜合判斷。

Ⅲ 熒光光譜儀原理

熒光分析法的基本原理

處於基態的被測物質的分子在吸收適當能量，如光、化學、物理能後，其共價電子從成鍵分子軌道或非鍵分子軌道躍遷到反鍵分子軌道上去，形成分子激發態。分子激發態不穩定，將很快衰變到基態。在分子激發態返回到基態的同時常伴隨著光子的輻射。這種現象就是發光現象。熒光則屬於分子的光致發光現象。

二、熒光分光光度計的特點

用熒光分析法分析的儀器，稱熒光分光光度計。
熒光分析法具有靈敏度高（比紫外、可見分光光度法高2~3個數量級），能提供激發光譜、發射光譜、發射強度、特徵峰值等信息，在生物、環保、醫學、葯物、石油勘探等諸多領域都有廣泛的應用。本儀器不僅能直接、間接地分析眾多的有機化合物；另外，還可利用有機試劑間的反應，進行近70種無機元素的熒光分析。熒光的光譜特徵是熒光光譜總是滯後於激發光譜即斯托克斯位移.

三、熒光強度與物質濃度的關系

1．對於某種熒光物質的稀溶液，在一定強度的激發光照射下，熒光物質的發射強度與入射光的強度以及檢測器的放大倍數成正比，
由光源發出的光經濾光片後成為單色光，樣品在此單色光的照射下，產生熒光，熒光由大孔徑非球面鏡的聚光及光柵的分光後，照射於光電倍增管上，光電倍增管把光信號轉換為電信號，經放大處理，最後由計算機輸出顯示或進行圖譜列印

Ⅳ 5、分子熒光分析法所用的比色皿為什麼要四面都是透明光滑的熒光分析儀器機構圖。

詳見熒光儀光路圖：圖中進入樣品池（比色皿）的激發光和熒光檢測器的方向是成直角的（干擾小）。為使測定誤差最小，樣品池四面都需採用光潔透明的石英玻璃。

Ⅳ 分析裝置

質子X射線熒光分析裝置，如圖11-2-1所示。主要組成部分為：質子靜電加速器，靶室和X射線測量多道能譜儀。

圖11-2-1 質子X射線熒光分析裝置簡圖

1）質子靜電加速器是用來加速質子的靜電高壓加速器。它的特點是：①被加速的質子能量連續可調；②質子能量均勻、穩定；③聚焦好，本底輻射小；④質子流通量較大。

質子X射線熒光分析選用的質子能量一般為1～3 MeV，激發產生特徵X射線的截面較大，軔致輻射本底較小；質子能量過高，引起核反應使本底增大。

2）靶室。是質子束流激發樣品的場所。主要有質子束流準直系統，使質子束在樣品面積分布均勻裝置、樣品以及抽真空設備等。

3）X射線測量的半導體探測器和多道能譜儀。

質子X射線熒光分析技術，分為真空分析和非真空分析（或稱內束和外束技術）兩種。前者質子束不被空氣吸收，分析靈敏度高；但需將樣品放入真空室，抽真空。後者是將質子束由真空室引出，在空氣中激發樣品。A.Katsanos等設計的真空分析和非真空分析兩用裝置（圖11-2-2），裝置中設計有三個鉭做的準直器，靠近樣品處用的是碳準直器是為了減小輻射本底。

質子束自真空室引出，需穿過一個薄窗，一般用的是薄片製成。

外束分析，比較方便。但空氣中含有0.9%的氬和少量氪，在質子作用下產生較強的特徵X射線，形成較強的本底，對某些輕元素分析不利。

圖11-2-2 內束和外束兩用靶室

Ⅵ 如圖所示為盧瑟福α粒子散射實驗裝置的示意圖，圖中的顯微鏡可在圓周軌道上轉動，通過顯微鏡前相連的熒光

A、放在A位置時，相同時間內觀察到屏上的閃光次數最多．說明大多數射回線基本不偏折，可知金箔原子內答部很空曠．故A錯誤；
B、放在B位置時，相同時間內觀察到屏上的閃光次數較少．說明較少射線發生偏折，可知原子內部帶正電的體積小．故B錯誤；
C、選用不同金屬箔片作為α粒子散射的靶，觀察到的實驗結果基本相似．故C正確；
D、主要原因是α粒子撞擊到金原子後，因庫侖力作用，且質量較大，從而出現的反彈．故D錯誤．
故選：C．

Ⅶ 圖為盧瑟福和他的同事們做α粒子散射實驗裝置的示意圖，熒光屏和顯微鏡一起分別放在圖中的A、B、C、D四個

Ⅷ 如圖所示為盧瑟福和他的同事們做α粒子散射實驗裝置的示意圖，熒光屏和顯微鏡一起分別放在圖中的A、B、C

Ⅸ 熒光分析系統基本操作

在石油勘探開發過程中，地質岩心的熒光發光現象是初步判斷油氣顯示層段的最簡便、最直觀實用的重要標准之一。岩心是可反復使用的寶貴實物資料，經過多次觀察和取樣分析後，其表面的油氣會逐漸逸出、揮發，或岩心本身逐漸被腐蝕、風化甚至破壞，無法再現取心時的熒光情形。因此，岩心剛出筒時的物性、含油性特徵原態永久性保存顯得尤為重要。目前大部分油田進行地質岩心的熒光圖像採集時，採用簡易的熒光照相技術，得到的熒光圖像所反映的岩心熒光特性的誤差較大。熒光錄井常用的常規熒光檢測儀也往往只能依靠肉眼觀察，根據個人經驗對岩心樣品的熒光效應進行描述、判斷和分析，分析結果帶有較大的主觀性。因此無論是岩心庫熒光照相或是常規的岩心熒光錄井，均存在主觀誤差較大、設備簡陋、紫外線傷害等缺點。

熒光檢測技術在近年內發展迅速，為彌補常規熒光檢測儀器的不足，國內外研製了各式各樣的定量熒光分析儀及應用熒光顯微技術，從微觀角度對含油熒光進行定量分析。四川大學研製的宏觀岩心熒光圖像信息系統則是從宏觀角度整體上檢測岩心熒光，及時獲取岩心出筒時的物性、含油性特徵原態，在儲集層含油評價中顯示了獨特的優勢，並在對熒光圖像資料進行含油級別和含油性質進行分析評價時，為熒光檢測及其定性與定量分析提供了一種新的技術手段，方便了對岩心熒光圖像和其他資料進行綜合管理和應用，可指導油氣田的進一步鑽探與開發。

含油岩石在紫外光的照射下會激發出熒光，根據熒光的面積、熒光強度來初步確定岩石的含油性，分析內容包括含油麵積、無油麵積、含油麵積率、無油麵積率、熒光強度和評級結果。常規熒光分析中將含油級別粗分為五級:油砂、含油、油浸、油斑、油跡。細分為7級:含油飽滿油砂、不飽滿油砂、含油砂岩、油浸砂岩、油斑砂岩、油跡砂岩、不含油砂岩。熒光分析系統能夠通過前面介紹的圖像處理演算法自動分析熒光掃描圖像中含油麵積、熒光強度等參數，並根據參數進行自動評價。

岩心熒光分析系統能及時採集清晰的岩心熒光圖像，真實直觀地反映了岩心含油的實際情況，以圖像文件的形式保存，建立了岩心熒光綜合圖文庫和管理應用系統，為永久性保存岩心的含油氣現象和特徵提供了有效的工具，為今後的勘探開發研究、分析和應用含油氣岩心資料提供了完整、清晰的數字化圖像。通過對熒光圖像參數特徵的研究，利用熒光圖像飽和度與豐度曲線，為熒光檢測提供了定性和定量分析;綜合應用岩心熒光圖像資料和其他資料進行含油氣評價，可直接提高地質錄井油氣綜合評價的信息化、定量化程度。

1.讀圖

用滑鼠單擊文件菜單後，先選擇讀圖方式，即「網路讀圖」或者「本地讀圖」。如果是「網路讀圖」，點擊「讀圖像」，圖文瀏覽庫中的岩心圖像和圖像信息進行動態導入，分析結果能上傳至伺服器;如果是「本地讀圖」，在點擊「讀圖像」命令後會彈出文件選擇框，在文件選擇框里選擇所要讀入的圖像，如圖5-68所示。

圖5-68 打開文件

2.圖像預處理

圖像預處理的作用是提高圖像質量，為提出准確圖像目標打下基礎。

3.設置處理框

圖像處理框是用來設置圖像分析區域的，如圖5-69所示。

圖5-69 設置處理框

4.熒光圖像目標提取

如圖5-70所示。

圖5-70 目標提取

5.圖像目標修改增強

可用特徵提取或者手工修改，使提取目標更加准確。

6.成分分析

在分割圖像後則可對分割出來的目標進行瀝青質分類操作。瀝青質分類有粗分和細分兩種。點擊菜單中的「粗分」則對圖像目標進行粗分，同樣點擊「細分」進行進一步細分。如果認為「粗分」和「細分」的效果還不夠理想，則可啟用人工交互分類，如圖5-71所示。

圖5-71 成分分析

圖5-72 數據瀏覽

7.參數計算

選中菜單中的參數計算，系統將自動統計出分析數據。

8.數據瀏覽

選中「查看」菜單中的「數據瀏覽」命令，彈出「數據瀏覽」對話框，從中便可瀏覽和修改分析數據。操作如圖5-72所示。

9.報表預覽和數據保存

選中菜單中的數據瀏覽項，彈出「數據瀏覽」對話框，便可瀏覽和修改分析數據。選擇報表預覽中「另存為」中的不同保存格式，即可將報表數據保存在分析員指定的位置，如圖5-73所示。

單塊岩心熒光圖像分析

圖5-73 熒光報表

Ⅹ （1）如圖所示為盧瑟福和他的同事們做α粒子散射實驗的裝置示意圖，熒光屏和顯微鏡一起分別放在圖中的A、

（1）A、放在A位置時，相同時間內觀察到屏上的閃光次數最多，說明大多數射線基本不偏折，可知金箔原子內部很空曠，故A正確；
B、放在B位置時，相同時間內觀察到屏上的閃光次數較少，說明較少射線發生偏折，可知原子內部帶正電的體積小，故B正確；
C、放在C、D位置時，屏上仍能觀察一些閃光，但次數極少．說明極少數射線較大偏折，可知原子內部帶正電的體積小且質量大，故C錯誤；
D、放在D位置時，屏上可以觀察到閃光，只不過很少很少．說明很少很少射線發生大角度的偏折，故D正確．
故選：ABD．
（2）用紫外線照射鋅板時，發生光電效應，有電子從鋅板逸出，鋅板失去電子帶正電，所以驗電器帶正電而張開一定角度，鋅板、指針均帶正電，故ACD錯誤，B正確．
故選B．
（3）A、光照強度減弱，單位時間內照射到金屬表面的光子數目減小，因此單位時間內產生的光電子數目減小，但是仍能發生光電效應，故A錯誤；
B、光照強度減弱，單位時間內照射到金屬表面的光子數目減小，因此單位時間內產生的光電子數目減小，故B正確；
C、發生光電效應時，根據愛因斯坦光電效應方程可知，光電子的最大初動能為：E_k=hv-W，W為逸出功，由此可知光電子的最大初動能隨著入射光的頻率增大而增大，與光照強度無關，故C錯誤；
D、根據C選項的論述可知D正確．
故選BD．