顆粒大小分析實驗裝置

❶ 土壤粒徑的測量方法

干篩法是將土壤充分壓碎，用不同孔徑的篩子篩分。

吸管法即土粒經充分分散後在沉降筒內於靜水中按斯托克斯定律進行沉降。一定時間後，在一定深度上只有小於某一粒徑的土粒均勻地分布著；這時在這個深度層吸取一定量的懸液烘乾稱其質量，可以計算出小於該粒徑土粒的含量。

比重計法也是以斯托克斯定律為依據，用特製的甲種比重計於不同時間內測定某深度處土粒懸液的密度，即可計算出小於某粒徑土粒的含量。

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土壤單粒是在岩石礦物風化、母質搬運和土壤形成過程中產生的，在完全分散時 可以單獨存在，用簡單的物理或化學方法不能再細分，只能通過研磨、溶解或化學處理才能細分的單個的土壤礦物顆粒。

包括各種礦物碎片、碎 肩和膠粒以及有機殘體碎屑。復粒是由各種單粒在物理化學和生物化學作用下復合而成的，包 括黏團、有機礦質復合體和微團聚體。

單粒、復 粒可以進一步通過物理、化學、生物化學和生物作用而黏結或團聚，形成各種大小、形狀和性質不同的團聚體、結構體。單粒、復粒和結構體構成了土體的固相部分，土粒及粒間孔隙的大小、 形狀和分布對土壤理化性質有重要影響。

❷ 粒徑分析儀

激光粒度分析儀原理和特點

http://www.hc360.com 2004年12月29日16時15分 慧聰網激光光電子行業

激光粒度分析儀原理

光在傳播中，波前受到與波長尺度相當的隙孔或顆粒的限制，以受限波前處各元波為源的發射在空間干涉而產生衍射和散射，衍射和散射的光能的空間（角度）分布與光波波長和隙孔或顆粒的尺度有關。用激光做光源，光為波長一定的單色光後，衍射和散射的光能的空間（角度）分布就只與粒徑有關。對顆粒群的衍射，各顆粒級的多少決定著對應各特定角處獲得的光能量的大小，各特定角光能量在總光能量中的比例，應反映著各顆粒級的分布豐度。按照這一思路可建立表徵粒度級豐度與各特定角處獲取的光能量的數學物理模型，進而研製儀器，測量光能，由特定角度測得的光能與總光能的比較推出顆粒群相應粒徑級的豐度比例量。

激光粒度分析儀

採用濕法分散技術，機械攪拌使樣品均勻散開，超聲高頻震盪使團聚的顆粒充分分散，電磁循環泵使大小顆粒在整個循環系統中均勻分布，從而在根本上保證了寬分布樣品測試的准確重復。

測試操作簡便快捷：放入分散介質和被測樣品，啟動超生發生器使樣品充分分散，然後啟動循環泵，實際的測試過程只有幾秒鍾。測試結果以粒度分布數據表、分布曲線、比表面積、D10、D50、D90等方式顯示、列印和記錄.
輸出數據豐富直觀：本儀器的軟體可以在各種計算機視窗平台上運行，具有操作簡單直觀的特點，不僅對樣品進行動態檢測，而且具有強大的數據處理與輸出功能,用戶可以選擇和設計最理想的表格和圖形輸出。

❸ 土樣顆粒大小分析試驗的目的是什麼只是為了得出某個篩孔的通過率嗎拿那個通過率有什麼用

實驗目的
藉以明確顆粒大小分布情況，供土的分類與概略判斷土的工程性質及選料之用。

❹ 馬爾文激光粒度分析儀中，體積平均粒徑、表面積平均粒徑什麼意思

粒度學中，有多種平均粒徑。平均徑定義式不同，表徵意義亦不同。

體積平均粒徑：D(4,3) = DVM = ∑(NI DI4)/ ∑(NI DI3)
= ∑(FVI DI)/∑FVI = ∑(fVI DI)/∑fVI
= ∑(fVI DI)

表面積平均粒徑：D(3,2) = DSV = ∑(NI DI3)/ ∑(NI DI2)
= ∑(FSI DI)/∑FSI = ∑(fSI DI)/∑fSI
= ∑(fSI DI)

這里上標、下標不分，所以那些式子你難看懂。請告訴我，你的QQ。

說白些，體積平均粒徑是：有5個體積為3的顆粒、有8個體積為4的顆粒、有4個體積為5的顆粒，這些顆粒平均直徑。

表面積平均粒徑類似：有5個表面積為3的顆粒、有8個表面積為4的顆粒、有4個表面積為5的顆粒，這些顆粒平均直徑。

❺ 粒徑分析儀測得的納米顆粒粒徑的准確率多大

納米顆粒粒徑大小可以用TEM、SEM等技術測量
粒徑分布可以採用DLS、原子力顯微鏡、梯度離心、電泳等方法
比表面積可以BET的方法。
其他的就不清楚了，可能還有新的方法

❻ 粒度分析儀的粒徑粒度

當被測顆粒的某種物理特性或物理行為與某一直徑的同質球體（或其組合）最相近時，就是把該球體的直徑（或其組合）作為被測顆粒的等效粒徑（或粒度分布）。
其含義： 粒度測量實質上是通過把被測顆粒和同一種材料構成的圓球相比較而得出的； 2.不同原理的儀器選不同的物理特性或物理行為作為比較的參考量，例如：沉降儀選用沉降速度、激光粒度儀選用散射光能分布、篩分法選用顆粒能否通過篩孔等等；
3.將待測顆粒的某種物理特性或物理行為與同質球體作比較時，有時能找到一個（或一組）在該特性上完全相同的球體（如庫爾特計數器），有時則只能找到最相近的球體（如激光粒度儀）。
由於理論上可以把「相同」作為「近似」的特例，所以在定義中用「相近」一詞，使定義更有一般性；
4.將待測顆粒的某種物理特性或物理行為與同質球體作比較時，有時能找到某一個確定的直徑的球與之對應，有時則需一組大小不同的球的組合與之對應才能最相近（如激光粒度儀） 所謂粒度分布，就是粉體樣品中各種大小的顆粒占顆粒總數的比例。當樣品中所有顆粒的真密度相同時，顆粒的重量分布和體積分布一致。在沒有特別說明時，儀器給出的粒度分布一般指重量或體積分布。
1.公式法表達粒度分布：Rosin-Rammler公式：W(x)=1-exp[-(x/De)^N]
式中，De是與x50(中位徑)成正比的常數，N則決定粒度分布的范圍，N越大，力度分布范圍越窄，表示樣品中顆粒分布的均勻性越好。
2.中位徑：中位徑記作x50,表示樣品中小於它和大於它的顆粒各佔50%可以認為x50是平均粒徑的另一種表示形式。在大多數情況下，x50與x(3, 4)很接近。
只有當樣品的粒度分布出現嚴重不對稱時，x50與x(3, 4)才表現出顯著的不一致。
3.邊界粒徑：邊界粒徑用來表示樣品粒度分布的范圍，由一對特徵粒徑組成，例如：（x10, x90）、（x16 x84）、(x3 x94)等等。為便於闡明其物理意義，先假定粒度分布是重量分布，並且累積方向是從小到大的。
這時xy就表示粉體樣品中，粒徑小於xy的顆粒重量占總量的y%. 一對邊界粒徑大體上概括了樣品的粒度分布范圍。以（x10, x90）為例，表示小於x10的顆粒占顆粒總數的10%，大於x90的顆粒也占顆粒總數的10%，亦即80%的顆粒分布在區間[x10, x90]內。
有的儀器用戶希望用最大顆粒描述樣品粒度分布的上限，實際上這是不科學的。
從統計理論上講，任何一個樣品的粒度分布范圍都可能小到無限小，大到無限大，因此我們一般不能用最小顆粒和最大顆粒來代表樣品的下、上限，而是用一對邊界粒徑來表示下、上限。
三.粒度分布的離散度：離散度用來描述粒度分布的相對寬度或不均勻程度，定義為：離散度=分布寬度/平均粒度
如果用x50代表平均粒徑，那麼就用（x90-x10）代表粒度分布范圍。

❼ 納米顆粒粒徑大小，粒徑分布及表面測試的方法有哪些各種方法的特點是是什麼

一樓回答的是針對納米棒吧？
1、納米顆粒是指在100納米以下的，都叫納米顆粒。
2、測試粒徑分布的現在高級貨都用馬而文激光粒度測試儀（也有低端國產的粒度儀），可以提供粒度報告，尺寸分布報告，體積分布報告，強度分布報告等多種數據。
特點是可以測試1納米~1000納米范圍內的樣品數據可靠性高，要求納米顆粒的粒徑分布較為集中，你不要有很多1納米級的，又有很多1000納米的，這樣出的數據可靠性相對低。會提供一個數據可靠性參數PDI。便宜，因為我們實驗室就有可以幫你測。別的地方也有，行價大約是在50~100元之間吧。
粒徑分為晶體粒徑，和顆粒粒徑，如果樓主確定是要顆粒粒徑的話，還可以通過SEM，或FE-SEM來看。然後通過相關軟體數據統計。SEM便宜也就100元左右，FE-SEM可能要300~500，這樣看你的樣品導電不導了，涉及到噴金、噴碳的問題。一樓說的紫外，我覺得的可取性不是很高，因為只是定性分析，不能給出定量數據，而且要受到濃度等多種因素影響，UIV主要用於濃度和紫外特徵峰、漫反射等方面的表徵。而且一般TEM隨隨便便就可以達到納米級，沒有那麼誇張。一般的也就200元，高分辨的會比較貴也就500夠了。但有個問題是TEM看到不一定是顆粒粒徑，有可能是晶體粒徑，你要具備分析的能力，也可以用這個表徵。

❽ 土的顆粒分析試驗，一定要求是30克嗎0.075MM以下也要求是30 克嗎

土工顆粒分析試驗（篩析法）（TB10102-2004）
1.試驗項目：土工顆粒分析試驗（篩析法）（TB10102-2004）2.方法提要： 3.試驗主要儀器設備：分析篩、天平（5000g,1g;1000g,0.1g;200g,0.01g）、篩析機等4.試驗過程：（1）篩析法的取樣數量：土粒粒徑（mm）取樣數量（g）＜2100-300＜10300-1000＜201000-2000＜402000-4000＜604000以上（2）無黏聚性土的試驗① 按上表規定，用四分法取具有代表性風干試樣。② 將試樣過2mm篩，稱篩上或篩下的試樣質量。當篩下的試樣質量小於試樣總質量的10%時，不做細篩分析；當篩上的試樣質量小於試樣總質量的10%時，不做粗篩分析。③ 取過2mm篩上的試樣倒入依次疊好的粗篩最上層篩中；篩下的試樣倒入依次疊好的細篩最上層篩中，進行篩析。細篩宜置於篩析機上振篩，振篩時間為10-15分鍾。④ 按由上而下的順序將各篩取下，於瓷盤上用手拍叩搖晃，檢查各篩，直至篩凈為止，篩下的試樣應收放入下一級篩內，最後稱各級篩上及盤底內試樣的質量（m）。⑤ 篩後各級篩上和盤底內試樣質量的總和於篩前試樣總質量的差值不得大於試樣總質量的1%。（3）含有黏土粒的砂類土① 先將土樣放在橡膠板上，用木碾充分碾散黏結的土團塊，然後按規定稱取試樣，置於盛有清水的容器內充分攪拌，使試樣中的粗細顆粒完全分離。② 將容器中的 試樣懸液通過2mm篩，邊翻動、邊沖洗、邊過篩，直到篩上僅留大於2mm的土粒為止。取篩上的試樣風干後稱重，然後按上條③、④、⑤進行粗篩分析。③ 取過2mm篩下的懸液，用帶橡皮頭的研杵研磨，使通過0.075mm篩，篩上土粒反復加清水研磨過篩，直至懸液澄清為止，將篩上的試樣烘乾稱重，然後按上條③、④、⑤進行細篩分析。④ 當小於0.075mm試樣質量超過試樣總質量的10%時，應進行密度計法或移液管法測定小於0.075mm的顆粒組成。（4）計算：小於某粒徑的試樣質量占試樣總質量的百分數：X = mA / mB · dx mA:小於某粒徑的試樣質量 mB:細篩（或密度計）分析時為所取試樣質量；粗篩分析時為所取試樣總質量 dx:粒徑小於2mm或粒徑小於0.075mm的試樣質量占試樣總質量的百分數（%）;若土中無大於2mm（或無大於0.075mm的顆粒時，計算細篩（或密度計）及粗篩分析dx =100%。 （5）繪圖： 以效益某粒徑的試樣質量占試樣總質量的百分數為縱坐標，顆粒粒徑為橫坐 標，在單對數坐標紙上繪制顆粒大小分布曲線。當粗篩與細篩或密度計法聯合分析時，應將分析曲線接繪成一平滑線。（6）級配指標：① 不均勻系數：Cu=d60/ d10 計算至0.01② 曲率系數：Cc=d230/ (d60 ·d10) 計算至0.01 d60：限制粒徑，即在分布曲線上小於該粒徑的試樣含量占總質量的60%的粒徑。 d30：在分布曲線上小於該粒徑的試樣含量占總質量的30%的粒徑。 d10：有效粒徑，即在分布曲線上小於該粒徑的試樣含量占總質量的10%的粒徑。

❾ 求納米顆粒粒徑分布分析方法（詳細）

不知道你的納米分布范圍，一般激光粒度儀達不到幾個納米的地步，幾十個納米以上還是可以用激光粒度儀側的。再小的尺度可以採用動態光散射的方法測定，這是國際上比較通用的方法。
我一般不建議採用做SEM或TEM統計的方法來得到粒徑分布，因為粒徑分布是大量粒子的統計結果，就做幾張照片統計太片面，不太准，而且一般比激光粒度儀測得的數據偏小。
另外小角度XRD也可以測定粒徑的分布。