超聲波掃描顯微鏡怎麼樣

A. 超聲顯微鏡的介紹

超聲顯微鏡，ultrasonic microscope，利用樣品聲學性能的差別，用聲成像的方法來生成高反差、高放大倍率的超聲像的裝置。有吸收式超聲顯微鏡、激光掃描法超聲顯微鏡和布拉格衍射成像法超聲顯微鏡等。用於顯示介質材料內部的微小結構。能觀察材料內部與聲學性質差別有關的結構，這是用普通光學顯微鏡和電子顯微鏡所不能觀察到的。超聲顯微鏡利用物體聲學特性的差異來顯示物體。聲學特性指的是聲阻抗率和聲衰減，它們與物質的彈性和粘彈性有關。聲鏡給出的是物體的聲學像或彈性像。聲鏡還具有一些引人注目的特點，如被測物體不需透光；對於生物組織切片或樣品無需染色，觀察及時；對於大規模集成電路，毋需損壞樣品表面即可直接進行內層觀察。聲鏡與光鏡和電鏡相互補充，為增進對物質性質的了解提供一種新工具。

B. 超聲波顯微鏡是用什麼來進行觀察的

超聲波顯微鏡，全稱應該是：超聲波掃描顯微鏡，英文Scanning Acoustic Microscope，簡稱C-SAM，是一種在半導體業界、材料研究領域，廣泛使用的一種高分辨無損檢測設備。
顧名思義，超聲顯微鏡，當然就是以超聲波為主要的探測手段，超聲探頭頻率從5M~1000M不等，應對不同材料、不同解析度、不同的穿透特性來決定！它的主要原理是：探頭發出一定頻率的超聲波，射到被測物體上，在物體的內部形成反射，接收探頭接收的到超聲波。當掃描機構作循環往復，接收探頭就會接收到整個物體的信號，再通過工控機形成圖像！
世界上最著名的超聲顯微鏡企業是德國的KSI公司，它的V系列，如V400、V300等，堪稱業界的經典和傳奇；其次是美國的Sonoscan，它的Fastline系列，非常有創新力，能實現多工位掃描；德國還有一家叫PVATEPLA，半導體業界比較出名，它對晶圓、晶錠等測量有獨到的技術，特別是它在MEMS、晶圓鍵合等領域的應用。還有一家是Sonix，它也是很多美國企業採用的。
國內有一家知名網站，CSAM世界網，可以看下。

C. 聲掃描顯微鏡的以下為C-SAM的一些說明

近年來，超聲波掃描顯微鏡（C-SAM）已被成功地應用在電子工業，尤其是封裝技術研究及實驗室之中。由於超音波具有不用拆除組件外部封裝之非破壞性檢測能力，故C-SAM可以有效的檢出IC構裝中因水氣或熱能所造成的破壞如﹕脫層、氣孔及裂縫…等。 超聲波在行經介質時，若遇到不同密度或彈性系數之物質時，即會產生反射回波。而此種反射回波強度會因材料密度不同而有所差異.C-SAM即最利用此特性來檢出材料內部的缺陷並依所接收之訊號變化將之成像。因此，只要被檢測的IC上表面或內部晶元構裝材料的介面有脫層、氣孔、裂縫…等缺陷時，即可由C-SAM影像得知缺陷之相對位置。
C-SAM服務
超聲波掃描顯微鏡(C-SAM)主要使用於封裝內部結構的分析，因為它能提供IC封裝因水氣或熱能所造成破壞分析，例如裂縫、空洞和脫層。
C-SAM內部造影原理為電能經由聚焦轉換鏡產生超聲波觸擊在待測物品上，將聲波在不同介面上反射或穿透訊號接收後影像處理，再以影像及訊號加以分析。
C-SAM可以在不需破壞封裝的情況下探測到脫層、空洞和裂縫，且擁有類似X-Ray的穿透功能，並可以找出問題發生的位置和提供介面數據，是互補的兩種設備。

D. 光學顯微鏡與超顯微鏡可以觀測的最小微粒尺寸不同,原因是什麼

光學顯微鏡與超顯微鏡可以觀測的最小微粒尺寸不同，原因是：許多成像提供專業的解決方案，超聲波掃描顯微鏡與普通的光學顯微鏡有著極大的差異。

電子顯微鏡的分辨能力以它所能分辨的相鄰兩點的最小間距來表示。現在的電子顯微鏡最大放大倍率超過三百萬倍，因此通過電子顯微鏡就能直接觀察到某些重金屬的原子和晶體中排列整齊的原子點陣。

電子顯微鏡

是使用電子來展示物件的內部或表面的顯微鏡。高速的電子的波長比可見光的波長短（波粒二象性），而顯微鏡的解析度受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的理論解析度（約0.1納米）遠高於光學顯微鏡的解析度（約200納米）。

透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。

E. 超聲顯微鏡的工作原理

入射到物體上的聲波要發生反射、折射、衍射和吸收等聲學現象，經歷這些現象的聲波因與物體發生相互作用而含有物體的信息，利用聲波的某些物理效應把含有新信息的聲波顯示出來就實現了聲成像。至於顯微分辨本領則與波長相當。物質中聲速約比光速小5個數量級，當聲波的頻率為3×109時,在水中的波長就達0.5μm，這時聲鏡的分辨本領已和光鏡相近,經放大肉眼便可直觀。現就透射式SAM進一步說明（見圖）。高頻電信號激發壓電換能器發射高頻超聲，經聲透鏡聚焦成一細小聲束，穿過放在焦平面上的被測樣品，載物片是幾微米厚的聚酯樹脂薄膜，聲耦合媒質是水，當聲波到達對面共焦的聲透鏡，含有樣品信息的聲波經壓電換能器接收又變成電信號，經接收電路送到示波器，機械掃描裝置使載物台作二維掃描運動，使得聚焦聲束在樣品上作逐點逐行地照射，當機掃與示波管的電子束運動同步，屏幕上出現一幅對應於物體的被照射部位的聲像，這幅聲像是由許多像元組成。由於掃描頻率的限制，一幅聲像需幾秒才能完成。

F. 幾種顯微鏡的不同和用途

光學顯微鏡它是在1590年由荷蘭的楊森父子所首創。現在的光學顯微鏡可把物體放大1500倍，分辨的最小極限達 生物顯微鏡0.2微米。光學顯微鏡的種類很多，除一般的外，主要有暗視野顯微鏡一種具有暗視野聚光鏡，從而使照明的光束不從中央部分射入，而從四周射向標本的顯微鏡.熒光顯微鏡以紫外線為光源，使被照射的物體發出熒光的顯微鏡。結構為：目鏡，鏡筒，轉換器，物鏡，載物台，通光孔，遮光器，壓片夾，反光鏡，鏡座，粗准焦螺旋，細准焦螺旋，鏡臂，鏡柱。 暗視野顯微鏡暗視野顯微鏡由於不將透明光射入直接觀察系統，無物體時，視野暗黑，不可能觀察到任何物體，當有物體時，以物體衍射回的光與散射光等在暗的背景中明亮可見。在暗視野觀察物體，照明光大部分被折回，由於物體(標本)所在的位置結構，厚度不同，光的散射性，折光等都有很大的變化。 相位差顯微鏡相位差顯微鏡的結構： 相位差顯微鏡，是應用相位差法的顯微鏡。因此，比通常的顯微鏡要增加下列附件： (1) 裝有相位板(相位環形板)的物鏡，相位差物鏡。 (2) 附有相位環(環形縫板)的聚光鏡，相位差聚光鏡。 (3) 單色濾光鏡-(綠)。 各種元件的性能說明 (1) 相位板使直接光的相位移動 90°，並且吸收減弱光的強度，在物鏡後焦平面的適當位置裝置相位板，相位板必須確保亮度，為使衍射光的影響少一些，相位板做成環形狀。 (2) 相位環(環狀光圈)是根據每種物鏡的倍率，而有大小不同，可用轉盤器更換。 (3) 單色濾光鏡系用中心波長546nm(毫微米)的綠色濾光鏡。通常是用單色濾光鏡入觀察。相位板用特定的波長，移動90°看直接光的相位。當需要特定波長時，必須選擇適當的濾光鏡，濾光鏡插入後對比度就提高。此外，相位環形縫的中心，必須調整到正確方位後方能操作，對中望遠鏡就是起這個作用部件。 視頻顯微鏡將傳統的顯微鏡與攝象系統，顯示器或者電腦相結合，達到對被測物體的放大觀察的目的。 視頻顯微鏡也可叫做數碼顯微鏡最早的雛形應該是相機型顯微鏡，將顯微鏡下得到的圖像通過小孔成象的原理，投影到感光照片上，從而得到圖片。或者直接將照相機與顯微鏡對接，拍攝圖片。隨著CCD攝像機的興起，顯微鏡可以通過其將實時圖像轉移到電視機或者監視器上，直接觀察，同時也可以通過相機拍攝。80年代中期，隨著數碼產業以及電腦業的發展，顯微鏡的功能也通過它們得到提升，使其向著更簡便更容易操作的方面發展。到了90年代末，半導體行業的發展，晶圓要求顯微鏡可以帶來更加配合的功能，硬體與軟體的結合，智能化，人性化，使顯微鏡在工業上有了更大的發展。 熒光顯微鏡在螢光顯微鏡上，必須在標本的照明光中，選擇出特定波長的激發光，以產生螢光，然後必須在激發光和螢光混合的光線中，單把螢光分離出來以供觀察。因此，在選擇特定波長中，濾光鏡系統，成為極其重要的角色。 螢光顯微鏡原理： (A) 光源：光源幅射出各種波長的光(以紫外至紅外)。 (B) 激勵濾光源：透過能使標本產生螢光的特定波長的光，同時阻擋對激發螢光無用的光。 (C) 螢游標本：一般用螢光色素染色。 (D) 阻擋濾光鏡：阻擋掉沒有被標本吸收的激發光有選擇地透射螢光，在螢光中也有部分波長被選擇透過。 以紫外線為光源，使被照射的物體發出熒光的顯微鏡。電子顯微鏡是在1931年在德國柏林由克諾爾和哈羅斯卡首先裝配完成的。這種顯微鏡用高速電子束代替光束。由於電子流的波長比光波短得多，所以電子顯微鏡的放大倍數可達80萬倍，分辨的最小極限達0.2納米。1963年開始使用的掃描電子顯微鏡更可使人看到物體表面的微小結構。 顯微鏡被用來放大微小物體的圖像。一般應用於對生物、醫葯、微觀粒子等觀測。 （1）利用微微動載物台之移動，配全目鏡之十字座標線，作長度量測。 （2）利用旋轉載物台與目鏡下端之游標微分角度盤，配全合目鏡之址字座標線，作角度量測，令待測角一端對准十字線與之重合，然後再讓另一端也重合。 （3）利用標准檢測螺紋的節距、節徑、外徑、牙角及牙形等尺寸或外形。 （4）檢驗金相表面的晶粒狀況。 （5）檢驗工件加工表面的情況。 （6）檢測微小工件的尺寸或輪廓是否與標准片相符。 偏光顯微鏡偏光顯微鏡是用於研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當然這些物質也可用染色法來進行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡。 偏振光顯微鏡（1）偏光顯微鏡的特點 將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法，以鑒別某一物質是單折射（各向同行）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物、化學等領域，在生物學和植物學也有應用。 （2）偏光顯微鏡的基本原理 偏光顯微鏡的原理比較復雜，在此不作過多介紹,偏光顯微鏡必須具備以下附件：起偏鏡，檢偏鏡，補償器或相位片，專用無應力物鏡，旋轉載物台。 超聲波顯微鏡超聲波掃描顯微鏡的特點在於能夠精確的反映出聲波和微小樣品的彈性介質之間的相互作用，並對從樣品內部反饋回來的信號進行分析！圖像上（C-Scan）的每一個象素對應著從樣品內某一特定深度的一個二維空間坐標點上的信號反饋，具有良好聚焦功能的Z.A感測器同時能夠發射和接收聲波信號。一副完整的圖像就是這樣逐點逐行對樣品掃描而成的。反射回來的超聲波被附加了一個正的或負的振幅，這樣就可以用信號傳輸的時間反映樣品的深度。用戶屏幕上的數字波形展示出接收到的反饋信息（A-Scan）。設置相應的門電路，用這種定量的時間差測量（反饋時間顯示），就可以選擇您所要觀察的樣品深度。 解剖顯微鏡解剖顯微鏡，又被稱為實體顯微鏡或立體顯微鏡，是為了不同的工作需求所設計的顯微鏡。利用解剖顯微鏡觀察時，進入兩眼的光各來自一個獨立的路徑，這兩個路徑只夾一個小小的角度，因此在觀察時，樣品可以呈現立體的樣貌。解剖顯微鏡的光路設計有兩種： The Greenough Concept和The Telescope Concept。解剖顯微鏡常常用在一些固體樣本的表面觀察，或是解剖、鍾表製作和小電路板檢查等工作上。 共聚焦顯微鏡從一個點光源發射的探測光通過透鏡聚焦到被觀測物體上，如果物體恰在焦點上，那麼反射光通過原透鏡應當匯聚回到光源，這就是所謂的共聚焦，簡稱共焦。共焦顯微鏡[Confocal Laser Scanning Microscope(CLSM或LSCM)]在反射光的光路上加上了一塊半反半透鏡(dichroic mirror)，將已經通過透鏡的反射光折向其它方向，在其焦點上有一個帶有針孔(Pinhole)，小孔就位於焦點處，擋板後面是一個 光電倍增管(photomultiplier tube，PMT)。可以想像，探測光焦點前後的反射光通過這一套共焦系統，必不能聚焦到小孔上，會被擋板擋住。於是光度計測量的就是焦點處的反射光強度。其意義是：通過移動透鏡系統可以對一個半透明的物體進行三維掃描。 金相顯微鏡MC006-5XB-PC金相顯微鏡主要用於鑒定和分析金屬內部結構組織，它是金屬學研究金相的重要儀器，是工業部門鑒定產品質量的關鍵設備，該儀器配用攝像裝置，可攝取金相圖譜，並對圖譜進行測量分析，對圖象進行編輯、輸出、存儲、管理等功能。 國內廠家較多，歷史悠久。如上海中研儀器廠

G. 顯微鏡的原理

【顯微鏡的主要構造】

普通光學顯微鏡的構造主要分為三部分：機械部分、照明部分和光學部分。

1.機械部分

（1）鏡座：是顯微鏡的底座，用以支持整個鏡體。
（2）鏡柱：是鏡座上面直立的部分，用以連接鏡座和鏡臂。
（3）鏡臂：一端連於鏡柱，一端連於鏡筒，是取放顯微鏡時手握部位。
（4）鏡筒：連在鏡臂的前上方，鏡筒上端裝有目鏡，下端裝有物鏡轉換器。
（5）物鏡轉換器(旋轉器)：接於棱鏡殼的下方，可自由轉動，盤上有3－4個圓孔，是安裝物鏡部位，轉動轉換器，可以調換不同倍數的物鏡，當聽到碰叩聲時，方可進行觀察，此時物鏡光軸恰好對准通光孔中心，光路接通。
（6）鏡台(載物台)：在鏡筒下方，形狀有方、圓兩種，用以放置玻片標本，中央有一通光孔，我們所用的顯微鏡其鏡台上裝有玻片標本推進器(推片器)，推進器左側有彈簧夾，用以夾持玻片標本，鏡台下有推進器調節輪，可使玻片標本作左右、前後方向的移動。
（7）調節器：是裝在鏡柱上的大小兩種螺旋，調節時使鏡台作上下方向的移動。
①粗調節器(粗螺旋)：大螺旋稱粗調節器，移動時可使鏡台作快速和較大幅度的升降，所以能迅速調節物鏡和標本之間的距離使物象呈現於視野中，通常在使用低倍鏡時，先用粗調節器迅速找到物象。
②細調節器(細螺旋)：小螺旋稱細調節器，移動時可使鏡台緩慢地升降，多在運用高倍鏡時使用，從而得到更清晰的物象，並藉以觀察標本的不同層次和不同深度的結構。

2．照明部分

裝在鏡台下方，包括反光鏡,集光器。
（1）反光鏡：裝在鏡座上面，可向任意方向轉動，它有平、凹兩面，其作用是將光源光線反射到聚光器上，再經通光孔照明標本，凹面鏡聚光作用強，適於光線較弱的時候使用，平面鏡聚光作用弱，適於光線較強時使用。
（2）集光器(聚光器)位於鏡台下方的集光器架上，由聚光鏡和光圈組成，其作用是把光線集中到所要觀察的標本上。
①聚光鏡：由一片或數片透鏡組成，起匯聚光線的作用，加強對標本的照明，並使光線射入物鏡內，鏡柱旁有一調節螺旋，轉動它可升降聚光器，以調節視野中光亮度的強弱。
②光圈(虹彩光圈)：在聚光鏡下方，由十幾張金屬薄片組成，其外側伸出一柄，推動它可調節其開孔的大小，以調節光量。

3.光學部分

（1）目鏡：裝在鏡筒的上端，通常備有2－3個，上面刻有5×、10×或15×符號以表示其放大倍數，一般裝的是10×的目鏡。
（2）物鏡：裝在鏡筒下端的旋轉器上，一般有3－4個物鏡，其中最短的刻有「10×」符號的為低倍鏡，較長的刻有「40×」符號的為高倍鏡，最長的刻有「100×」符號的為油鏡，此外，在高倍鏡和油鏡上還常加有一圈不同顏色的線，以示區別。
顯微鏡的放大倍數是物鏡的放大倍數與目鏡的放大倍數的乘積，如物鏡為10×，目鏡為10×，其放大倍數就為10×10=100。

顯微鏡的成像原理】

當把待觀察物體放在物鏡焦點外側靠近焦點處時，在物鏡後所成的實像恰在目鏡焦點內側靠近焦點處，經目鏡再次放大成一虛像。觀察到的是經兩次放大後的倒立虛像。

【顯微鏡的分類】

顯微鏡分光學顯微鏡和電子顯微鏡。
光學顯微鏡是在1590年由荷蘭的楊森父子所首創。現在的光學顯微鏡可把物體放大1500倍，分辨的最小極限達0.2微米。光學顯微鏡的種類很多，除一般的外，主要有暗視野顯微鏡一種具有暗視野聚光鏡，從而使照明的光束不從中央部分射入，而從四周射向標本的顯微鏡.熒光顯微鏡以紫外線為光源，使被照射的物體發出熒光的顯微鏡。
電子顯微鏡是在1931年在德國柏林由克諾爾和哈羅斯卡首先裝配完成的。這種顯微鏡用高速電子束代替光束。由於電子流的波長比光波短得多，所以電子顯微鏡的放大倍數可達80萬倍，分辨的最小極限達0.2納米。1963年開始使用的掃描電子顯微鏡更可使人看到物體表面的微小結構。
光學顯微鏡的分類，根據照明方法，有透射型與反射(落射)型二種。透射型顯微鏡是應用透射照明通過透明物體的打光方法。反射型顯微鏡是以物鏡上方打光到(落射照明)不透明的物體上。另一種分類方法，系根據觀察方法的差異，分為明視野顯微鏡、暗視野顯微鏡、相位差顯微鏡、偏光顯微鏡、干涉相位差顯微鏡、熒光顯微鏡等。每種顯微鏡一般又各有透射型和反射型二種。在這些顯微鏡中，特別是明視野顯微鏡是構成所有顯微鏡中組成最基本的基礎。通過這種顯微鏡觀察的物體，穿過透過(吸收)率、反射率，因場所不同而各不相同，這種物體被稱為隨照明光強度(振幅)變化振幅物體，無色透明物體只有在照明相位改變時，才能被肉眼觀察到，由於明視野顯微鏡不能改變相位，所以對透明不染色標本不能被觀察到。

光學顯微鏡是為了使肉眼看不清楚的標本影像，人們設想經過一種裝置，使肉眼能夠觀察到該標本組織形態和其間的結構。這種設想的裝置就被後人創造問世了。當前廣泛應用在各種微小物體的觀察、測定、分析、分類、鑒定等。在波長范圍上也不限於可見光波段(4000~7000 )而且(＞2000 )到紅外(1~2u)以及用眼睛觀察、顯微、攝影和一般輻射檢測器放大。

顯微鏡的綜合倍率是物鏡倍率G1與目鏡倍率G2的乘積，G＝G1×G2。G1是1~100倍，G2是5~20的范圍。
數值孔徑(Numerical Aperture)N.A.是決定物鏡的解析度、焦深、圖像亮度的基本數據，當物鏡焦點對好後，物鏡前透鏡最邊緣處的傾斜光線與顯微鏡光軸所交角成α，此即該物鏡的半孔徑角設標本數據空間的折射率為n，則N.A.＝n×sinα。
n通常在空氣中為1，在物鏡與標本間浸入水、甘油、油脂時，該標本折射率，即隨浸液不同而異。這種物鏡稱為浸液系物鏡；如是空氣時，稱為乾燥系物鏡。
在顯微鏡上，限制視野的裝置是視野光圈。以物鏡側觀看這種視野光圈時的直徑以mm單位表示的值稱為視野數。實際視野＝視野。
實際視野＝視野數／物鏡倍率
例如，視野數為20，則10×物鏡就觀看2mm視野范圍。應用聚光鏡時，根據可變的視野光圈，再決定選用聚光鏡的N.A.值，其值是取決於可變聚光鏡孔徑光圈來確定。

顯微鏡的發明，使人看到了許多以前從未看到過的生物，如細菌、病毒等，也使人看到了生物的許多微小結構，如線粒體的結構，從而對生物學的發展起著重要的推動作用。顯微鏡是生物學研究的重要儀器之一。在醫學、工農業生產中顯微鏡也有著重要用途，例如在醫學診斷上，可對人血液中的紅細胞進行計數等。
十九世紀中期，人們發明了光學顯微鏡。
1665年，英國學者虎克(Robert Hooke)設計製造了首架光學顯微鏡，當時放大倍數為40~140倍，並用此首次觀察並描述了植物細胞，同年發表《顯微圖譜》一書。
此後，荷蘭學者列文·虎克(A。V。Leeuwenhoek)用自己設計的更先進的顯微鏡觀察了動物細胞，並描述了細胞核的形態。直到今天，光學顯微技術已從普通復式光學顯微技術發展為熒光顯微技術、共焦點激光掃描顯微鏡技術、數字成象顯微鏡技術、暗場顯微鏡技術、相差和微分干涉顯微鏡技術和錄像增加反差顯微鏡技術等等。
可見，光學顯微技術已成為人類認識微觀世界的必要工具，藉助它，使人們認識了細胞。然而，准確的理論計算表明，光學顯微鏡質量無論無何改善--不論是用多少組鏡片，使用油鏡頭還是加強光源，放大率至多1000~1500，分辨本領至多 。這就成為人類認識更小的物體：病毒和分子、原子的瓶頸問題。
著名物理學家海侖霍爾等人在理論上證明：限制光學顯微鏡分辨本領及放大率的因素是光的波長。因而人們轉向尋找一種成像媒介--波，它具有可視、可拍攝照片、波長短、且能用裝置改變波的運動路線的特點。
20世紀初，恰伊斯發明了紫外光顯微鏡，使解析度有了大提高 ，這是一次質的飛躍，但紫外線仍不是最好的成像媒介，不能滿足科研和生產需要。
1926年，德國科學家蒲許指出，具有軸對稱性的磁場對電子束起著透鏡作用。可惜研究者沒有考慮到利用它放大物體。
1932年，柏林科工大學壓力實驗室的年輕研究員盧斯卡和克諾爾對陰極射線示波器做了一些改進，成功得到放大幾倍後的銅網圖像，這大大鼓舞了人們，確立了電子顯微法。
1933年底，盧斯卡製成了能放大一萬倍的電子顯微鏡，並拍攝了金屬箔和纖維的放大像。使電子顯微鏡的放大倍數超過了光學顯微鏡。
1937年，柏林科工大學的克勞塞和穆勒成功的制出了解析度為納米級（10-9m）的電子顯微鏡，西門子公司得知後，將主要精力轉到適用電子顯微鏡的製造上，並聘請了盧斯進行研究。次年，西門子公司第一批解析度為 的電子顯微鏡上市。
隨後，在人們的研究下，電子顯微鏡的質量不斷提高。如今，其解析度和放大倍數使人們能更准確地認識了病毒、分子、原子和誇克。

【暗視野顯微鏡】

暗視野顯微鏡由於不將透明光射入直接觀察系統，無物體時，視野暗黑，不可能觀察到任何物體，當有物體時，以物體衍射回的光與散射光等在暗的背景中明亮可見。在暗視野觀察物體，照明光大部分被折回，由於物體(標本)所在的位置結構，厚度不同，光的散射性，折光等都有很大的變化。

【相位差顯微鏡】

相位差顯微鏡的結構：
相位差顯微鏡，是應用相位差法的顯微鏡。因此，比通常的顯微鏡要增加下列附件：
(1) 裝有相位板(相位環形板)的物鏡，相位差物鏡。
(2) 附有相位環(環形縫板)的聚光鏡，相位差聚光鏡。
(3) 單色濾光鏡-(綠)。
各種元件的性能說明
(1) 相位板使直接光的相位移動 90°，並且吸收減弱光的強度，在物鏡後焦平面的適當位置裝置相位板，相位板必須確保亮度，為使衍射光的影響少一些，相位板做成環形狀。
(2) 相位環(環狀光圈)是根據每種物鏡的倍率，而有大小不同，可用轉盤器更換。
(3) 單色濾光鏡系用中心波長546nm(毫微米)的綠色濾光鏡。通常是用單色濾光鏡入觀察。相位板用特定的波長，移動90°看直接光的相位。當需要特定波長時，必須選擇適當的濾光鏡，濾光鏡插入後對比度就提高。此外，相位環形縫的中心，必須調整到正確方位後方能操作，對中望遠鏡就是起這個作用部件。

【視頻顯微鏡】

將傳統的顯微鏡與攝象系統，顯示器或者電腦相結合，達到對被測物體的放大觀察的目的。

最早的雛形應該是相機型顯微鏡，將顯微鏡下得到的圖像通過小孔成象的原理，投影到感光照片上，從而得到圖片。或者直接將照相機與顯微鏡對接，拍攝圖片。隨著CCD攝象機的興起，顯微鏡可以通過其將實時圖像轉移到電視機或者監視器上，直接觀察，同時也可以通過相機拍攝。80年代中期，隨著數碼產業以及電腦業的發展，顯微鏡的功能也通過它們得到提升，使其向著更簡便更容易操作的方面發展。到了90年代末，半導體行業的發展，晶圓要求顯微鏡可以帶來更加配合的功能，硬體與軟體的結合，智能化，人性化，使顯微鏡在工業上有了更大的發展。

【熒光顯微鏡】

在螢光顯微鏡上，必須在標本的照明光中，選擇出特定波長的激發光，以產生螢光，然後必須在激發光和螢光混合的光線中，單把螢光分離出來以供觀察。因此，在選擇特定波長中，濾光鏡系統，成為極其重要的角色。
螢光顯微鏡原理：
(A) 光源：光源幅射出各種波長的光(以紫外至紅外)。
(B) 激勵濾光源：透過能使標本產生螢光的特定波長的光，同時阻擋對激發螢光無用的光。
(C) 螢游標本：一般用螢光色素染色。
(D) 阻擋濾光鏡：阻擋掉沒有被標本吸收的激發光有選擇地透射螢光，在螢光中也有部分波長被選擇透過。

【偏光顯微鏡】

偏光顯微鏡是用於研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當然這些物質也可用染色法來進行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡。

（1）偏光顯微鏡的特點

將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法，以鑒別某一物質是單折射（各向同行）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基本特性。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物、化學等領域，在生物學和植物學也有應用。

（2）偏光顯微鏡的基本原理

偏光顯微鏡的原理比較復雜，在此不作過多介紹,偏光顯微鏡必須具備以下附件：起偏鏡，檢偏鏡，補償器或相位片，專用無應力物鏡，旋轉載物台。

【超聲波顯微鏡】

超聲波掃描顯微鏡的特點在於能夠精確的反映出聲波和微小樣品的彈性介質之間的相互作用，並對從樣品內部反饋回來的信號進行分析！圖像上（C-Scan）的每一個象素對應著從樣品內某一特定深度的一個二維空間坐標點上的信號反饋，具有良好聚焦功能的Z.A感測器同時能夠發射和接收聲波信號。一副完整的圖像就是這樣逐點逐行對樣品掃描而成的。反射回來的超聲波被附加了一個正的或負的振幅，這樣就可以用信號傳輸的時間反映樣品的深度。用戶屏幕上的數字波形展示出接收到的反饋信息（A-Scan）。設置相應的門電路，用這種定量的時間差測量（反饋時間顯示），就可以選擇您所要觀察的樣品深度。

【解剖顯微鏡】

解剖顯微鏡，又被稱為實體顯微鏡或立體顯微鏡，是為了不同的工作需求所設計的顯微鏡。利用解剖顯微鏡觀察時，進入兩眼的光各來自一個獨立的路徑，這兩個路徑只夾一個小小的角度，因此在觀察時，樣品可以呈現立體的樣貌。解剖顯微鏡的光路設計有兩種： The Greenough Concept和The Telescope Concept。解剖顯微鏡常常用在一些固體樣本的表面觀察，或是解剖、鍾表製作和小電路板檢查等工作上。

H. 超聲顯微鏡與光學顯微鏡共同點與不同點

為解決生產生活中的實際問題，超聲波掃描顯微鏡應運而生，它可為許多成像提供專業的解決方案，超聲波掃描顯微鏡與普通的光學顯微鏡有著極大的差異，從工作原理上來說，它帶有聚焦功能的高頻超聲波換能器，業內也將超聲波掃描顯微鏡的工作方式稱為逐點掃描，是對於材料內部的檢測，它的成像圖像是內部結構圖像，納米級的解析度要完勝周邊產品，下面小編就詳細的為您介紹一下超聲波掃描顯微鏡與普通的光學顯微鏡的差距。

一、首先超聲波掃描顯微鏡並非與光學掃描顯微鏡截然不同，它們之間的相同點是「顯示被測樣品的顯微圖像」，而後者是表面的顯微圖像，前者是內部顯微圖像；在一些特殊行業特殊領域中，正是需要超聲波掃描顯微鏡的內部成像，從作用原理上光學鏡為可見光，而超聲波掃描顯微鏡自然是超聲波。

二、此外，從像素角度來說它們兩個也有這根本性的差距，超聲波顯微鏡是通過像素pixel進行體現，然而光學鏡卻以CCD攝像頭為主，也正因為結構上的差異，所以超聲波掃描顯微鏡的價格是普通工顯鏡的數倍，不僅如此，它們的應用領域也有著極大的差距，超聲波掃描顯微鏡幾乎囊括了光學顯微鏡的所有領域，而且它尤其在材料半導體行業應用更廣。

三、科技含量不同，作為「門外漢」難了解掃描顯微鏡中種類的差距，但是專業的超聲波掃描顯微鏡研發人員介紹，勿從概念性上對兩種顯微鏡進行區分，可以簡而言之的說超聲波掃描顯微鏡的科技含量更高，它對於生產的要求等級更高。

雖然超聲波掃描顯微鏡與普通的光學顯微鏡有著諸多的不同點，但是它們也各司其職，並無優劣之分，在不同領域只需要根據使用情況酌情選擇即可，由於超聲波掃描顯微鏡在線下較為少見，因此許多企業對於該種顯微鏡理解上具有局限性，所以要增加對超聲波掃描顯微鏡的詳情了解。