A. 通過平面鏡觀察桌面的微小形變屬於什麼實驗方法
根據光反射時,反射角等於入射角,光依次被這兩個平面鏡反射,最後射到刻度尺L上形成一個回光點P,如圖:答
B. 如圖所示是為顯示桌面微小形變的實驗裝置,M、N分別為兩面平面鏡,P為光屏,向下壓桌面的作用力為F,則(
根據光來反射時,反射角等於入射自角,光依次被這兩個平面鏡反射,最後射到刻度尺L上形成一個光點P,如圖:
若在兩鏡之間桌面用力F下壓,M、N將向中間傾斜,則M、N的位置升高,光束的位置相對降低,由光的反射定律可知,光點會在刻度尺上從P點移動到P'點,則P'的位置比P低.
故選:B.
C. 把微小變化放大以利於觀察,這是物理學中一種重要的方法.如圖是一種顯示微小形變的裝置.在桌子上放兩個
低
你可以自己根據光的反射定律作圖;
注意:中間往下壓的時候,M、N會向中間傾斜。
D. 把微小放大以利於觀察,這是物理學中一種重要的方法.如圖是一種顯示微小形變的裝置,A為激光筆,B、C是
B鏡子上放重物M後,鏡子受到彈力作用而向下凹,平面鏡B上的入射專角變大,根據鏡面反射的特點屬知反射的光線偏向右方,即光斑向D點的右側移動.
探究聲音由振動產生的實驗中,將發聲的音叉靠近乒乓球,通過乒乓球被彈開說明音叉在振動.採用的是「微小量放大法」.
故答案為:變大;右;探究聲音是由振動產生的實驗.
E. 為了顯示物體的微小形變,有下列演示實驗,其中用到的主要思想方法是()A.控制變數的思想B.放大的
桌面的受力微小形變藉助於光的反射來放大;玻璃瓶的受力微小形變藉助於液體體積變化;各個實驗均體現出放大的思想方法.
故選:B.
F. 物理中一個顯示微小形變的裝置的原理
中間加壓後,桌面可看做是兩個斜面,設與水平面夾角為a 。由於鏡子始終與桌面垂直,鏡子M偏轉a,於是入射角與反射角都變化了a。到第二面鏡子,光線已比原來向下了2a。同理光線從第二面鏡子出來,已偏差了4a,放大了4倍。
G. 用手按壓桌面,桌面要發生形變,但我們用肉眼很難觀察到。如何設計實驗來驗證形變
設計實驗進行檢驗:(採用的是放大法)
用手輕按壓桌面時,由於堅硬物體的微小彈性形變不容易觀察到,因此,可以用顯示微小形變的裝置,將微小形變「放大」到可以直接觀察出來,如下圖。
在一張桌子上放兩個平面鏡M和N,讓一束光線依次被這兩面鏡子反射,最後射到一個刻度尺上,形成一個光點,只要用力按壓桌面,鏡子就要向箭頭所指的方向傾斜。由於兩面鏡子之間的距離較大,光點就會在刻度尺上有明顯的移動,而把桌面的形變顯示出來。
附圖如下:
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H. 圖a.b是力學中的兩個實驗裝置.(1)圖a是用來顯示______,圖b是用來測量______ (2)由圖可知,兩個實
(1)因為裝置A是演示微小形變的實驗裝置,裝置B是卡文迪內許容扭秤,卡文迪許用該裝置測出萬有引力恆量. 故答案為:桌面或支持面的微小形變;萬有引力恆量. (2)第一個裝置是當支持面發生微小形變時,鏡面法線也會改變一定角度,這一變化通過電光源投影進行放大.第二個裝置都是球m,受到m對它的引力會使豎直懸線發生扭轉,從而使鏡面M的法線轉過微小角度,從而電光源的投影會在標尺上移動一定距離,從而將微小形變放大將微小形變進行放大,故都是利用放大的思想方法.這兩個裝置都是將微小形變進行放大,故都是利用放大的思想方法. 故選B |
I. 把微小放大有利於觀察如圖是一種顯示微小形變的裝置平面鏡b上的入射角變小光
平面鏡B放重物M後,鏡子受到彈力作用而向下凹,平面鏡B上的入射角變大,根據鏡面反射的特點知反射的光線偏向右方,即光斑向D點的右側移動.
故選D.
J. 求一份<<電阻應變式感測器測微小形變>>的實驗預習報告!實驗報告也行
【實驗簡介】
電學測量方法具有靈敏度高,響應速度快,便於自動控制與處理等特點。電學測量方法一般直接測量的是電學量,如電阻、電動勢、電流、電容、電感等,因此,要用電學測量方法去測非電學量,就必須將非電學量轉換成電學量,其轉換器件稱為感測器。本實驗用電阻應變片作為感測器,將微小的形變轉換成電阻的變化來測量懸臂梁的主應變。通過本實驗了解電阻應變片(感測器)的結構及工作原理,掌握電橋測電阻的方法,理解靈敏度對測量的影響,用電橋測量應變片電阻的微小變化,進而測定懸臂梁的應變。
【預習與操作要點】
1.電橋測電阻原理
電橋分直流電橋和交流電橋兩大類。本實驗所用的自搭式單臂電橋亦即惠斯通電橋,主要用於測量1~106W范圍內的中值電阻。和伏安法比較,由於其不用電表,避免了電表內阻以及精度不夠高等因素造成的誤差,因此成為准確測量電阻的常用方法之一。
惠斯通電橋由電源、橋臂、橋路三部分組成,其原理如4-20-1所示,未知電阻Rx與另外三個已知電阻R1、R2、R3構成了電橋的四個橋臂,電橋的一個對角線AC上接直流電源E,而另一對角線BD即橋路接靈敏電流計G。改變R1、R2、R3的阻值,可以改變B、D兩點之間的電位差,當R1、R2、R3的阻值被調節成某一組合時,可以使B、D之間的電位差為零,此時電流計的指針就准確地指在零位,電橋處於平衡狀態此時有
即有
將兩式相比,得到
即
上式稱為電橋平衡條件。
由電橋平衡條件可得
綜上所述,利用電橋測量電阻的過程,就是調節R1、R2、R3使電橋達到平衡條件的過程,而平衡與否由電流計來判斷。一旦電橋平衡,就可以根據(3-9-3)式,求出待測電阻Rx。
在直流電橋中,R3是標准電阻箱,此臂稱為比較臂,而電阻R1、R2的比值可按10的整數次方變化,通常稱為電橋的比率。
在用電橋測電阻時,電橋系統的靈敏程度反映了測量的精確程度,對於等臂電橋,常用絕對電橋靈敏度,其定義為
(mm/歐姆)
它表示電橋平衡後,DRx所引起的Dd越大,電橋靈敏度S越高,所得平衡點越精確,測量誤差越小。電橋靈敏度不僅與靈敏電流計有關,還與所加電壓及各橋臂電阻值的大小和配置有關,靈敏電流計的靈敏度越高,電源電壓越大,電橋的靈敏度越高。
2.測量應變
將電阻應變片粘貼在試件的表面,應變片內電阻絲的兩端接入測量電路(電橋)。隨著試件受力變形,應變片的電阻絲也獲得相應的形變使電阻值發生變化。由應變片的工作原理可知,當應變沿應變片的主軸方向時,應變片的電阻變化率和試件(本實驗為懸臂梁)的主應變成正比,即
式中K為應變片的靈敏系數(此值由應變片廠家給出);R是未加力時應變片阻值的初始值;DR是加力變形後應變片的電阻變化。所以只要測出應變片阻值的相對變化,便可得出被測試件的應變。本實驗用平衡電橋測量應變片電阻的相對變化。實驗裝置及測量線路如圖4-20-2和圖4-20-3所示,
將被測試件一端夾持在穩固的基座上,其主體懸空,構成一懸臂梁。在懸臂梁固定端A處貼一應變片,在懸臂梁變形端B處貼一同型號同規格的應變片,在C端掛一砝碼托盤以備載入。將A處的應變片作為溫度補償片R1,B處的應變片Rx作為感測器測量應變,用多體電阻箱R2、Ra和微調電阻箱Rb以及R1、Rx組成一電橋,作為微小形變測量電路。當C處載入時,懸臂梁將向下彎曲,B處產生變形,貼在B處的應變片亦發生變形,其電阻值發生變化,此電阻值的變化可通過電橋測量出來,從而測定懸臂梁B處的形變。
3.實驗方法
(1)選擇合適的電橋靈敏度
通常,在具體的電橋線路中,為保證測量有足夠的靈敏度,往往根據比較臂電阻的最小單位步進值來選擇合適的電橋靈敏度。所謂合適的電橋靈敏度就是當電橋平衡後,將比較臂電阻改變最小單位步進值時,電流計指針有明顯的「動靜」。這里所謂「動靜」,是指電流計指針偏轉小於等於1/2mm,即半格。
通過對電橋靈敏度測量的實驗結果表明:當電橋平衡時,若某一橋臂電阻改變了DR,則電橋不再平衡,橋路上有電流通過,電流計偏轉了Dd mm。當Dd<10mm時,DR與Dd成線性關系;當Dd>10mm時,DR與Dd不成線性關系。由於電橋靈敏度是在電橋平衡點附近定義的,當用實驗的方法通過改變比較臂電阻使電流計偏轉小於10mm來測量電橋靈敏度,可以認為是在平衡點附近測量的。考慮到若Dd取值太小,導致讀數誤差加大,在具體測量時,通常選取DR使Dd =5mm較為合適。
(2)測量溫度補償片的電阻值
在圖4-20-3的測量線路中,用多體電阻箱R3替代應變片Rx,並取R3=Ra+Rb=120W(應變片初值),改變滑線變阻器阻值或電源電壓,使電橋工作電流不超過40mA,選擇合適的電橋靈敏度。調節R2使電橋平衡。此時R2的示值即為溫度補償片的阻值。
(3)測量應變
保持R2不變,去掉電阻箱R3,接入應變片Rx。選擇合適的電橋靈敏度,調Ra和Rb使電橋平衡,Ra+Rb的值即為應變片的初始值。然後加一個砝碼,由於應變導致應變片阻值變化,電橋失去平衡。調Rb使電橋重新平衡,記下此時的Ra+Rb值,依次將5個砝碼加完,此即上行(加砝碼)測量。然後取下一個砝碼,調電橋平衡,記下相應的Ra+Rb的讀數,依次將5個砝碼取完,此即下行(減砝碼)測量。將上行測量所得數據與同數量砝碼時的下行測量數據平均,得到六個數據R0、R1、R2、R3、R4、R5,將以上數據用逐差法處理,即可求出載入1牛頓力時應變片的阻值變化量DR,然後利用相應公式求出應變。
【實驗儀器】
電阻箱三個,微調電阻箱,復射式靈敏電流計,毫安表,滑線變阻器,直流電源,開關,保護電阻開關,阻尼電鍵,相同質量的砝碼五個,水平懸臂梁,應變片,溫度補償片。
【分析思考】
1.為什麼在本實驗的測量線路中要用溫度補償片?能否用普通電阻代替?在圖4-20-3中,將補償片與電阻箱R2互換,能否測量?
2.假設電路中任一條導線斷路,試分析調節電橋平衡時,可能出現的現象。
3.設計用非平衡電橋測量微小形變的方法。