图中为双棱镜干涉实验装置

Ⅰ 双棱镜干涉物理实验问题

1.请问在实验中任意两条相邻暗纹之间的距离与什么有关？
答：跟棱镜顶角有关，跟棱镜折射率有关，跟干涉屏到双棱镜距离有关！
2.当什么改变时？条纹变宽，当什么改变时？条纹变窄
答：当棱镜顶角加大，折射率变小的时候，光线偏折角度变小，光源的两个像点距离加大，就好像双缝干涉的缝宽加大，那么根据双缝干涉条纹间距公式，可以知道当双缝宽度加大的时候，条纹间隔减小。同时还跟双棱镜到屏幕的距离有关，距离越长，间隔越长。（ε=λD/d，其中ε是条纹间距，D是双缝到屏幕的距离，双棱镜的话就是光源的像点到屏幕的距离，d是双缝间距，也就是两个像点的距离）
1.还有如要观察到清晰的干涉条纹，对光路的调节要点是什么？
这个不了解，但是我觉得，至少应该让光源（也就是狭缝）正对双棱镜中心，狭缝要调节的与竖直平行。其他没什么要调的了，本来光路就简单，元器件就少！
2.如果狭缝和双棱镜不平行，或狭缝太宽，能看到干涉条纹嘛？为什么？
如果狭缝和双棱镜不平行，就如同双缝干涉的狭缝发生倾斜，倾斜的双缝，就好比是把干涉图样倾斜了，这样得到的干涉条纹是清晰的，但是会倾斜！
如果狭缝太宽，衍射光形成的新的光源线度太长，根据光的空间相干性，条纹的干涉图样的明暗对比度会下降，干涉条纹可见度变若，但是仍然是竖直的干涉条纹！
（V=|λsin(πbβ/λ)/(πbβ)|，其中b是光源线宽，V是条纹可见度，β是光源中心对狭缝的角宽带）。

Ⅱ 双棱镜干涉如果实验测量中条纹分布太密难以观测条纹间距,该如何调节实验装置

1.狭缝与棱镜之间的距离增大,干涉条纹间距基本不变(略有变小)
2.狭缝与显微镜之间的距离增大时,干涉条纹间距变大

Ⅲ 如图所示为“双棱镜干涉”实验装置，其中S为单色光源，A为一个顶角略小于180°的等腰三角形棱镜，P为光屏

光源S发出的光经棱镜作用后，相当于在没有棱镜时，两个分别位于图S₁和S₂位置的相回干光答源所发出的光的叠加．
根据双缝干涉条纹的间距公式△x=

Ⅳ Ⅰ．图1中为“双棱镜千涉”实验装置，其中s为单色光源，A为一个顶角略小于180°的等腰三角形棱镜，P为光

lkEgU．（2）如图，10.0，1.23×10³．

Ⅳ 在双棱镜干涉实验中棱镜和双棱镜不平行，能看到干涉条纹吗为什么

可以，但是倾斜了。

Ⅵ 双棱镜干涉实验的注意点！

实验装置如图3-15-4所示，除光源外各器件均需安置在光具座上，Q为钠光灯；为宽度及取向可调单缝；透镜L1将光源Q发出的光会聚于单缝S上，以提高照明单缝上的光强度；B为双棱镜；L2为辅助成像透镜，用来测量两虚光源S1、S2之间的距离d；P为观察屏，用作调节光路；M为测微目镜。根据光的干涉理论和条件，为获得对比度好、清晰的干涉条纹，调节好的光路必须满足以下条件：（1）光路中各元件同轴等高。（2）单缝与双棱镜棱脊严格平行，通过单缝的光对称地射在双棱镜的棱脊上。（3）单缝宽窄合适，否则干涉条纹对比度很差。3．光路调节实验中单缝S宽度的调节是单边移动来实现的，故单缝应置于三维可调滑块上；双棱镜B置二维可调滑块上；辅助成像透镜L2置三维可调滑块上。（1）目测各器件共轴等高。（2）调节光源Q、透镜L1及单缝S使光对称射在双棱镜B的棱脊上。（3）单缝S与双棱镜B距离合适（一方面两者距离越大，干涉条纹越蜜；另一方面经双棱镜折射后的光线汇聚在单缝上。），将测微目镜M置于双棱镜后附近处，在改变单缝宽度、取向的同时观察干涉情况，以获得对比度好、清晰的干涉条纹。（4）移动测微目镜使其与单缝的距离略大于辅助成像透镜L2四倍焦距。注意在移动测微目镜的同时观察干涉条纹，若干涉条纹朝一边移动则通过调节放置单缝的三维可调滑块，使干涉条纹处于目镜中央。（5）在双棱镜与目镜之间加入辅助成像透镜，移动其位置使通过目镜能观察到虚光源两次成像。 （6）固定各器件之间距离不变，测量有关量。3．测微目镜测微目镜是用来测量微小间距的仪器，由目镜、可动分划板、固定分划板、读数鼓轮与连接装置组成。其结构外形简图如图3-15-3所示。使用时，通过转动读数鼓轮带动丝杆可以推动可动分划板左右移动，该分划板上刻有十字交叉线，其移动方向垂直于目镜光轴，移动距离可通过带有刻度的不动鼓轮及可动读数鼓轮读出。测微目镜的读数方法与螺旋测微计相似，竖线或交叉点位置的毫米数由不动鼓轮的刻度读出，毫米以下的读数由可动鼓轮上确定。本仪器测长范围0～10mm，测量精度为0.01mm，可以估读到0.001mm。使用时应先调节接目镜，叉丝清晰后（此时待测物须成像在分划板平面上）转动鼓轮，推动分划板使叉丝的交点或竖线与待测物的像边缘重合，便可得到一个读数。转动鼓轮使叉丝的交点或竖线移动到待测物像的另一边缘上，又得到一个读数，两读数之差即为待测物像的大小。注意事项：（1）测微目镜中十字叉丝移动的方向应与被测物线度方向平行，即竖线与之垂直。（2）为消除鼓轮的丝杆螺纹与螺母之间存在间隙以及鼓轮空转所引起的系统误差，测量应缓慢朝一个方向转动鼓轮，中途不可逆转。（3）转动鼓轮观测十字叉丝的位置时，不要移出其观测范围（0~10mm）。（4）不要用手触摸任何镜头。http://jpkc.nwpu.e.cn/jp2005/10/experiment/part_sljgs/part_sljgs.htm

Ⅶ 双棱镜干涉实验中，若点光源位置不变，接收光屏位置不变，若使干涉条纹数目增多，该如何操作

实验中若光源位置不变，接受屏位置不变，若使干涉条纹数目增多，该如
A) 该实验中回，无论先答测相邻干涉条纹的间距还是测量两个虚光源像之间的距离都是可以的。
B) 减小双棱镜与扩束镜之间的距离，干涉条纹将变密。
C) 为了使读数显微镜视场中出现10条以上干涉条纹，应尽量减小双棱镜与扩束镜之间的距离，，这对其它量的测量没有影响。
D) 虚光源的像之间的距离受到扩束镜到双棱镜之间距离的影响。

Ⅷ 干涉实验中棱镜和双棱镜不平行，能看到干涉条纹吗

实验装置如图3-15-4所示，除光源外各器件均需安置在光具座上，Q为钠光灯；S为宽度及取向可调单缝；透镜L1将光源Q发出的光会聚于单缝S上，以提高照明单缝上的光强度；B为双棱镜；L2为辅助成像透镜，用来测量两虚光源S1、S2之间的距离d；P为观察屏，用作调节光路；M为测微目镜。根据光的干涉理论和条件，为获得对比度好、清晰的干涉条纹，调节好的光路必须满足以下条件：（1）光路中各元件同轴等高。（2）单缝与双棱镜棱脊严格平行，通过单缝的光对称地射在双棱镜的棱脊上。（3）单缝宽窄合适，否则干涉条纹对比度很差。3．光路调节实验中单缝S宽度的调节是单边移动来实现的，故单缝应置于三维可调滑块上；双棱镜B置二维可调滑块上；辅助成像透镜L2置三维可调滑块上。（1）目测各器件共轴等高。（2）调节光源Q、透镜L1及单缝S使光对称射在双棱镜B的棱脊上。（3）单缝S与双棱镜B距离合适（一方面两者距离越大，干涉条纹越蜜；另一方面经双棱镜折射后的光线汇聚在单缝上。），将测微目镜M置于双棱镜后附近处，在改变单缝宽度、取向的同时观察干涉情况，以获得对比度好、清晰的干涉条纹。（4）移动测微目镜使其与单缝的距离略大于辅助成像透镜L2四倍焦距。注意在移动测微目镜的同时观察干涉条纹，若干涉条纹朝一边移动则通过调节放置单缝的三维可调滑块，使干涉条纹处于目镜中央。（5）在双棱镜与目镜之间加入辅助成像透镜，移动其位置使通过目镜能观察到虚光源两次成像。（6）固定各器件之间距离不变，测量有关量。3．测微目镜测微目镜是用来测量微小间距的仪器，由目镜、可动分划板、固定分划板、读数鼓轮与连接装置组成。其结构外形简图如图3-15-3所示。使用时，通过转动读数鼓轮带动丝杆可以推动可动分划板左右移动，该分划板上刻有十字交叉线，其移动方向垂直于目镜光轴，移动距离可通过带有刻度的不动鼓轮及可动读数鼓轮读出。测微目镜的读数方法与螺旋测微计相似，竖线或交叉点位置的毫米数由不动鼓轮的刻度读出，毫米以下的读数由可动鼓轮上确定。本仪器测长范围0～10mm，测量精度为0.01mm，可以估读到0.001mm。使用时应先调节接目镜，叉丝清晰后（此时待测物须成像在分划板平面上）转动鼓轮，推动分划板使叉丝的交点或竖线与待测物的像边缘重合，便可得到一个读数。转动鼓轮使叉丝的交点或竖线移动到待测物像的另一边缘上，又得到一个读数，两读数之差即为待测物像的大小。注意事项：（1）测微目镜中十字叉丝移动的方向应与被测物线度方向平行，即竖线与之垂直。（2）为消除鼓轮的丝杆螺纹与螺母之间存在间隙以及鼓轮空转所引起的系统误差，测量应缓慢朝一个方向转动鼓轮，中途不可逆转。（3）转动鼓轮观测十字叉丝的位置时，不要移出其观测范围（0~10mm）。（4）不要用手触摸任何镜头。/jp2005/10/experiment/part_sljgs/part_sljgs.htm