颗粒大小分析实验装置

❶ 土壤粒径的测量方法

干筛法是将土壤充分压碎，用不同孔径的筛子筛分。

吸管法即土粒经充分分散后在沉降筒内于静水中按斯托克斯定律进行沉降。一定时间后，在一定深度上只有小于某一粒径的土粒均匀地分布着；这时在这个深度层吸取一定量的悬液烘干称其质量，可以计算出小于该粒径土粒的含量。

比重计法也是以斯托克斯定律为依据，用特制的甲种比重计于不同时间内测定某深度处土粒悬液的密度，即可计算出小于某粒径土粒的含量。

(1)颗粒大小分析实验装置扩展阅读

土壤单粒是在岩石矿物风化、母质搬运和土壤形成过程中产生的，在完全分散时 可以单独存在，用简单的物理或化学方法不能再细分，只能通过研磨、溶解或化学处理才能细分的单个的土壤矿物颗粒。

包括各种矿物碎片、碎 肩和胶粒以及有机残体碎屑。复粒是由各种单粒在物理化学和生物化学作用下复合而成的，包 括黏团、有机矿质复合体和微团聚体。

单粒、复 粒可以进一步通过物理、化学、生物化学和生物作用而黏结或团聚，形成各种大小、形状和性质不同的团聚体、结构体。单粒、复粒和结构体构成了土体的固相部分，土粒及粒间孔隙的大小、 形状和分布对土壤理化性质有重要影响。

❷ 粒径分析仪

激光粒度分析仪原理和特点

http://www.hc360.com 2004年12月29日16时15分 慧聪网激光光电子行业

激光粒度分析仪原理

光在传播中，波前受到与波长尺度相当的隙孔或颗粒的限制，以受限波前处各元波为源的发射在空间干涉而产生衍射和散射，衍射和散射的光能的空间（角度）分布与光波波长和隙孔或颗粒的尺度有关。用激光做光源，光为波长一定的单色光后，衍射和散射的光能的空间（角度）分布就只与粒径有关。对颗粒群的衍射，各颗粒级的多少决定着对应各特定角处获得的光能量的大小，各特定角光能量在总光能量中的比例，应反映着各颗粒级的分布丰度。按照这一思路可建立表征粒度级丰度与各特定角处获取的光能量的数学物理模型，进而研制仪器，测量光能，由特定角度测得的光能与总光能的比较推出颗粒群相应粒径级的丰度比例量。

激光粒度分析仪

采用湿法分散技术，机械搅拌使样品均匀散开，超声高频震荡使团聚的颗粒充分分散，电磁循环泵使大小颗粒在整个循环系统中均匀分布，从而在根本上保证了宽分布样品测试的准确重复。

测试操作简便快捷：放入分散介质和被测样品，启动超生发生器使样品充分分散，然后启动循环泵，实际的测试过程只有几秒钟。测试结果以粒度分布数据表、分布曲线、比表面积、D10、D50、D90等方式显示、打印和记录.
输出数据丰富直观：本仪器的软件可以在各种计算机视窗平台上运行，具有操作简单直观的特点，不仅对样品进行动态检测，而且具有强大的数据处理与输出功能,用户可以选择和设计最理想的表格和图形输出。

❸ 土样颗粒大小分析试验的目的是什么只是为了得出某个筛孔的通过率吗拿那个通过率有什么用

实验目的
借以明确颗粒大小分布情况，供土的分类与概略判断土的工程性质及选料之用。

❹ 马尔文激光粒度分析仪中，体积平均粒径、表面积平均粒径什么意思

粒度学中，有多种平均粒径。平均径定义式不同，表征意义亦不同。

体积平均粒径：D(4,3) = DVM = ∑(NI DI4)/ ∑(NI DI3)
= ∑(FVI DI)/∑FVI = ∑(fVI DI)/∑fVI
= ∑(fVI DI)

表面积平均粒径：D(3,2) = DSV = ∑(NI DI3)/ ∑(NI DI2)
= ∑(FSI DI)/∑FSI = ∑(fSI DI)/∑fSI
= ∑(fSI DI)

这里上标、下标不分，所以那些式子你难看懂。请告诉我，你的QQ。

说白些，体积平均粒径是：有5个体积为3的颗粒、有8个体积为4的颗粒、有4个体积为5的颗粒，这些颗粒平均直径。

表面积平均粒径类似：有5个表面积为3的颗粒、有8个表面积为4的颗粒、有4个表面积为5的颗粒，这些颗粒平均直径。

❺ 粒径分析仪测得的纳米颗粒粒径的准确率多大

纳米颗粒粒径大小可以用TEM、SEM等技术测量
粒径分布可以采用DLS、原子力显微镜、梯度离心、电泳等方法
比表面积可以BET的方法。
其他的就不清楚了，可能还有新的方法

❻ 粒度分析仪的粒径粒度

当被测颗粒的某种物理特性或物理行为与某一直径的同质球体（或其组合）最相近时，就是把该球体的直径（或其组合）作为被测颗粒的等效粒径（或粒度分布）。
其含义： 粒度测量实质上是通过把被测颗粒和同一种材料构成的圆球相比较而得出的； 2.不同原理的仪器选不同的物理特性或物理行为作为比较的参考量，例如：沉降仪选用沉降速度、激光粒度仪选用散射光能分布、筛分法选用颗粒能否通过筛孔等等；
3.将待测颗粒的某种物理特性或物理行为与同质球体作比较时，有时能找到一个（或一组）在该特性上完全相同的球体（如库尔特计数器），有时则只能找到最相近的球体（如激光粒度仪）。
由于理论上可以把“相同”作为“近似”的特例，所以在定义中用“相近”一词，使定义更有一般性；
4.将待测颗粒的某种物理特性或物理行为与同质球体作比较时，有时能找到某一个确定的直径的球与之对应，有时则需一组大小不同的球的组合与之对应才能最相近（如激光粒度仪） 所谓粒度分布，就是粉体样品中各种大小的颗粒占颗粒总数的比例。当样品中所有颗粒的真密度相同时，颗粒的重量分布和体积分布一致。在没有特别说明时，仪器给出的粒度分布一般指重量或体积分布。
1.公式法表达粒度分布：Rosin-Rammler公式：W(x)=1-exp[-(x/De)^N]
式中，De是与x50(中位径)成正比的常数，N则决定粒度分布的范围，N越大，力度分布范围越窄，表示样品中颗粒分布的均匀性越好。
2.中位径：中位径记作x50,表示样品中小于它和大于它的颗粒各占50%可以认为x50是平均粒径的另一种表示形式。在大多数情况下，x50与x(3, 4)很接近。
只有当样品的粒度分布出现严重不对称时，x50与x(3, 4)才表现出显著的不一致。
3.边界粒径：边界粒径用来表示样品粒度分布的范围，由一对特征粒径组成，例如：（x10, x90）、（x16 x84）、(x3 x94)等等。为便于阐明其物理意义，先假定粒度分布是重量分布，并且累积方向是从小到大的。
这时xy就表示粉体样品中，粒径小于xy的颗粒重量占总量的y%. 一对边界粒径大体上概括了样品的粒度分布范围。以（x10, x90）为例，表示小于x10的颗粒占颗粒总数的10%，大于x90的颗粒也占颗粒总数的10%，亦即80%的颗粒分布在区间[x10, x90]内。
有的仪器用户希望用最大颗粒描述样品粒度分布的上限，实际上这是不科学的。
从统计理论上讲，任何一个样品的粒度分布范围都可能小到无限小，大到无限大，因此我们一般不能用最小颗粒和最大颗粒来代表样品的下、上限，而是用一对边界粒径来表示下、上限。
三.粒度分布的离散度：离散度用来描述粒度分布的相对宽度或不均匀程度，定义为：离散度=分布宽度/平均粒度
如果用x50代表平均粒径，那么就用（x90-x10）代表粒度分布范围。

❼ 纳米颗粒粒径大小，粒径分布及表面测试的方法有哪些各种方法的特点是是什么

一楼回答的是针对纳米棒吧？
1、纳米颗粒是指在100纳米以下的，都叫纳米颗粒。
2、测试粒径分布的现在高级货都用马而文激光粒度测试仪（也有低端国产的粒度仪），可以提供粒度报告，尺寸分布报告，体积分布报告，强度分布报告等多种数据。
特点是可以测试1纳米~1000纳米范围内的样品数据可靠性高，要求纳米颗粒的粒径分布较为集中，你不要有很多1纳米级的，又有很多1000纳米的，这样出的数据可靠性相对低。会提供一个数据可靠性参数PDI。便宜，因为我们实验室就有可以帮你测。别的地方也有，行价大约是在50~100元之间吧。
粒径分为晶体粒径，和颗粒粒径，如果楼主确定是要颗粒粒径的话，还可以通过SEM，或FE-SEM来看。然后通过相关软件数据统计。SEM便宜也就100元左右，FE-SEM可能要300~500，这样看你的样品导电不导了，涉及到喷金、喷碳的问题。一楼说的紫外，我觉得的可取性不是很高，因为只是定性分析，不能给出定量数据，而且要受到浓度等多种因素影响，UIV主要用于浓度和紫外特征峰、漫反射等方面的表征。而且一般TEM随随便便就可以达到纳米级，没有那么夸张。一般的也就200元，高分辨的会比较贵也就500够了。但有个问题是TEM看到不一定是颗粒粒径，有可能是晶体粒径，你要具备分析的能力，也可以用这个表征。

❽ 土的颗粒分析试验，一定要求是30克吗0.075MM以下也要求是30 克吗

土工颗粒分析试验（筛析法）（TB10102-2004）
1.试验项目：土工颗粒分析试验（筛析法）（TB10102-2004）2.方法提要： 3.试验主要仪器设备：分析筛、天平（5000g,1g;1000g,0.1g;200g,0.01g）、筛析机等4.试验过程：（1）筛析法的取样数量：土粒粒径（mm）取样数量（g）＜2100-300＜10300-1000＜201000-2000＜402000-4000＜604000以上（2）无黏聚性土的试验① 按上表规定，用四分法取具有代表性风干试样。② 将试样过2mm筛，称筛上或筛下的试样质量。当筛下的试样质量小于试样总质量的10%时，不做细筛分析；当筛上的试样质量小于试样总质量的10%时，不做粗筛分析。③ 取过2mm筛上的试样倒入依次叠好的粗筛最上层筛中；筛下的试样倒入依次叠好的细筛最上层筛中，进行筛析。细筛宜置于筛析机上振筛，振筛时间为10-15分钟。④ 按由上而下的顺序将各筛取下，于瓷盘上用手拍叩摇晃，检查各筛，直至筛净为止，筛下的试样应收放入下一级筛内，最后称各级筛上及盘底内试样的质量（m）。⑤ 筛后各级筛上和盘底内试样质量的总和于筛前试样总质量的差值不得大于试样总质量的1%。（3）含有黏土粒的砂类土① 先将土样放在橡胶板上，用木碾充分碾散黏结的土团块，然后按规定称取试样，置于盛有清水的容器内充分搅拌，使试样中的粗细颗粒完全分离。② 将容器中的 试样悬液通过2mm筛，边翻动、边冲洗、边过筛，直到筛上仅留大于2mm的土粒为止。取筛上的试样风干后称重，然后按上条③、④、⑤进行粗筛分析。③ 取过2mm筛下的悬液，用带橡皮头的研杵研磨，使通过0.075mm筛，筛上土粒反复加清水研磨过筛，直至悬液澄清为止，将筛上的试样烘干称重，然后按上条③、④、⑤进行细筛分析。④ 当小于0.075mm试样质量超过试样总质量的10%时，应进行密度计法或移液管法测定小于0.075mm的颗粒组成。（4）计算：小于某粒径的试样质量占试样总质量的百分数：X = mA / mB · dx mA:小于某粒径的试样质量 mB:细筛（或密度计）分析时为所取试样质量；粗筛分析时为所取试样总质量 dx:粒径小于2mm或粒径小于0.075mm的试样质量占试样总质量的百分数（%）;若土中无大于2mm（或无大于0.075mm的颗粒时，计算细筛（或密度计）及粗筛分析dx =100%。 （5）绘图： 以效益某粒径的试样质量占试样总质量的百分数为纵坐标，颗粒粒径为横坐 标，在单对数坐标纸上绘制颗粒大小分布曲线。当粗筛与细筛或密度计法联合分析时，应将分析曲线接绘成一平滑线。（6）级配指标：① 不均匀系数：Cu=d60/ d10 计算至0.01② 曲率系数：Cc=d230/ (d60 ·d10) 计算至0.01 d60：限制粒径，即在分布曲线上小于该粒径的试样含量占总质量的60%的粒径。 d30：在分布曲线上小于该粒径的试样含量占总质量的30%的粒径。 d10：有效粒径，即在分布曲线上小于该粒径的试样含量占总质量的10%的粒径。

❾ 求纳米颗粒粒径分布分析方法（详细）

不知道你的纳米分布范围，一般激光粒度仪达不到几个纳米的地步，几十个纳米以上还是可以用激光粒度仪侧的。再小的尺度可以采用动态光散射的方法测定，这是国际上比较通用的方法。
我一般不建议采用做SEM或TEM统计的方法来得到粒径分布，因为粒径分布是大量粒子的统计结果，就做几张照片统计太片面，不太准，而且一般比激光粒度仪测得的数据偏小。
另外小角度XRD也可以测定粒径的分布。