『壹』 超聲波探傷中靈敏度和增益調節有什麼具體區別，在做DAC曲線時如何調節這兩個參數
我有點沒聽明白，增益調節是通過調節增益是波高相應提高，一般在做DAC曲線的第一點時，為了使波高達到80%而調節，做後面的點時，是為了使波高高於20%而調節的.
『貳』 超聲波探頭角度過大，應該如何調整
超聲波探傷中，超聲波的發射和接收都是通過探頭來實現的。探頭的種類很多，結構型式也不一樣。探傷前應根據被檢對象的形狀、衰減和技術要求來選擇探頭。探頭的選擇包括探頭型式、頻率、晶片尺寸和斜探頭K值的選擇等。
1.探頭型式的選擇
常用的探頭型式有縱波直探頭、橫波斜探頭表面波探頭、雙晶探頭、聚焦探頭等。一般根據工件的形狀和可能出現缺陷的部位、方向等條件來選擇探頭的型式，使聲束軸線盡量與缺陷垂直。
縱波直探頭只能發射和接收縱波，束軸線垂直於探測面，主要用於探測與探測面平行的缺陷，如鍛件、鋼板中的夾層、折疊等缺陷。
橫波斜探頭是通過波形轉換來實現橫波探傷的。主要用於探測與深測面垂直或成一定角的缺陷。如焊縫生中的未焊透、夾渣、未溶合等缺陷。
表面波探頭用於探測工件表面缺陷，雙晶探頭用於探測工件近表面缺陷。聚焦探頭用於水浸探測管材或板材。
2.探頭頻率的選擇
超聲波探傷頻率在O.5～10MHz之間，選擇范圍大。一般選擇頻率時應考慮以下因索。
(1)由於波的繞射，使超聲波探傷靈敏度約為，因此提高頻率，有利於發現更小的缺陷。
(2)頻率高，脈沖寬度小，分辨力高，有利於區分相鄰缺陷。
(3) 可知，頻率高，波長短，則半擴散角小，聲束指向性好，能量集中，有利於發現缺陷並對缺陷定位。
(4) 可知，頻率高，波長短，近場區長度大，對探傷不利。
(5) 可知，頻率增加，衰減急劇增加。
由以上分析可知，頻率的離低對探傷有較大的影響。頻率高，靈敏度和分辨力高，指向性好，對探傷有利。但頻率高，近場區長度大，衰減大，又對探傷不利。實際探傷中要全面分析考慮各方面的因索，合理選擇頻率。一般在保證探傷靈敏度的前提下盡可能選用較低的頻率。
對於晶粒較細的鍛件、軋製件和焊接件等，一般選用較高的頻率，長用2.5～5.0MHz。對晶粒較粗大的鑄件、奧氏體鋼等宜選用較低的頻率，常用O.5～2.5MHz。如果頻率過高，就會引起嚴重衰減，示波屏上出現林狀回波，信噪比下降，甚至無法探傷。
3.探頭晶片尺寸的選擇中科朴道超聲波探傷儀
探頭圓晶片尺寸一般為φ10～φ30mm，晶片大小對探傷也有一定的影響，選擇晶片尺寸時要考慮以下因素。
(l) 可知，晶片尺寸增加，半擴散角減少，波束指向性變好，超聲波能量集中，對探傷有利。
(2)由N=等可知，晶片尺寸增加，近場區長度迅速增加，對探傷不利。
(3)晶片尺寸大，輻射的超聲波能量大，探頭未擴散區掃查范圍大，遠距離掃查范圍相對變小，發現遠距離缺陷能力增強。
以上分析說明晶片大小對聲柬指向性，近場區長度、近距離掃查范圍和遠距離缺陷檢出能力有較大的影響。實際探傷中，探傷面積范圍大的工件時，為了提高探傷效率宜選用大晶片探頭。探傷厚度大的工件時，為了有效地發現遠距離的缺陷宜選用大晶片探頭。探傷小型工件時，為了提高缺陷定位定量精度宜選用小晶片探頭。探傷表面不太平整，曲率較大的工件時，為了減少耦合損失宜選用小晶片探頭。
4.橫渡斜探頭K值的選擇
在橫波探傷中，探頭的K值對探傷靈敏度、聲束軸線的方向，一次波的聲程(入射點至底面反射點的距離)有較大的影響。由圖l.39可知，對於用有機玻璃斜探頭探傷鋼制工傳，βs=40°(K=O.84)左右時，聲壓往復透射率最高，即探傷靈敏度最高。由K=tgβs可知，K值大，βs大，一次波的聲程大。因此在實際探傷中，當工件厚度較小時，應選用較大的K值，以便增加一次波的聲程，避免近場區探傷。當工件厚度較大時，應選用較小的K值。
下面給出最常用的超聲波斜探頭的選擇方案參考：
1.斜探頭K值與角度的對應關系
NO. K值 對應角度
1 K1 對應45度
2 K1.5 對應56.3度
3 K2 對應63.4度
4 K2.5 對應68.2度
5 K3 對應71.6度
2.焊縫探傷超聲波探頭的選擇方案參考
編號 被測工件厚度 選擇探頭和斜率 選擇探頭和斜率
1 4—5mm 6×6 K3 不銹鋼：1.25MHz （下同）
2 6—8mm 8×8 K3 鑄鐵：0.5—2.5 MHz（下同）
3 9—10mm 9×9 K3 普通鋼：5MHz （下同）
4 11—12mm 9×9 K2.5
5 13—16 mm 9×9 K2
6 17—25 mm 13×13 K2
7 26—30 mm 13×13 K2.5
8 31—46 mm 13×13 K1.5
9 47—120 mm 13×13( K2—K1)
10 121—400 mm 18×18 ( K2—K1)
20×20 ( K2—K1)
『叄』 超聲波怎麼調靈敏度！
超聲檢測的靈敏度認為0.5倍的波長，指極限值。主要考慮缺陷/不連續在與波束垂直方向平面的尺寸，因為隨著d/波長的減小，衍射波成份遠大於反射波，此時探頭接收到的反射波極小。缺陷/不連續對於回波的影響來說，主要考慮：缺陷/不連續本身在與聲束軸垂直平面的尺寸及聲束直徑的關系、反射面的粗糙程度、反射面的曲率、缺陷/不連續的特性等有關。
『肆』 無損檢測超聲波探傷的靈敏度調節
5大擴聲系統中常用的電聲計算公式
1.最大功率容量與最大電壓容量的計算
*公式一：最大電壓容量V=√最大功率W×負載阻抗Ω
*公式二：最大功率容量W=最大電壓V2×負載阻抗Ω
假如已知一個音箱的最大持續功率（AES/ANSI）和標明的負載阻抗，則可以計算出此音箱的最大電壓，例如A音箱的最大功率是600WRMS（ES/ANSI），阻抗是8Ω，希望通過系統的壓限器或者音箱控制器設定功放的最大輸出電壓值，對A音箱進行保護，把相關的數據套進公式一：
最大電壓容量V=√600W×8Ω
=√4800
=69.28V
由此得出69.28V電壓加在8Ω負載阻抗時，可以產生最大600WRMS的功率，所以我們要在壓限器或者音箱控制器上設定功放的最大輸出電壓值不能超過69.28V，才能有效保護A音箱不致燒毀。
2.功放電壓增益的計算
*公式三：電壓增益=輸出電壓V/輸入電壓V
增益由音頻電路的輸入和輸出之間的關系決定，增益表示為倍數（×），或者用單位dB表示，若我們想知道一台功放的增益（稱為電壓增益），則必須知道輸入信號電平和其相應的輸出信號電平。例如已知從系統前級輸入至A功放的信號電平是0.775V，輸出信號是31V，把相關的數據套進公式三可以得知A功放的電壓增益：
電壓增益=輸出電壓V/輸入電壓V
=31V/0.775V
=40×（倍）
又如已知從系統前級輸入至B功放的信號電平是0.5V，輸出信號是20V，把相關的數據套進公式三同樣可以得知B功放的電壓增益：
電壓增益=輸出電壓V/輸入電壓V
=20V/0.5V
=40×（倍）
注意，從以上兩例可以看到A、B兩台功放的電壓增益一樣是40×，所以電壓增益大小與輸入信號的大小無關。
3.輸入靈敏度與電壓增益
*公式四：輸入靈敏度V=最大電壓容量V/電壓增益×
與習慣的說法相反，功放不能自我產生功率。功放使輸入信號電平放大某一倍數輸出，輸出的電平大小由放大倍數決定，標準的說法應該是：功放的輸出電壓驅動了音箱的負載阻抗並由此轉成電聲功率。一台功放能接受的最大輸入電壓又稱為輸入靈敏度，如果輸入電壓超過了最大輸入電壓，功放的輸出容量也將會超出最大范圍，並產生較大的頻響失真。所以如果用最大電壓容量除以電壓增益，即可得到最大輸入電壓（輸入靈敏度）。例如A功放與A音箱連接，二者的相關參數如下：
A功放：FTC功率550W@8Ω，電壓增益40倍；A音箱：600WRMS（AES/ANSI），阻抗8Ω（音箱的功率比功放高50W）。
*計算步驟1：A功放的最大電壓容量計算
A功放最大電壓容量V=√550W×8Ω
=√4400
=66.33V
*計算步驟2：A功放的輸入靈敏度計算
A功放輸入靈敏度V=最大電壓容量V/電壓增益
=66.33V/40×
=1.65V（最大輸入限制閥值）
計算結果：A功放在輸入有1.65V時，輸出電壓為66.33V，加在阻抗為8Ω負載上時，相當於產生550W的功率，意味著如果我們想避免過度驅動A功放，就應避免輸入電壓達到1.65V（本系統的最大輸入限制閥值）。我們可以確信在A功放之前接上限制值為1.65V的限制電路之後（音箱處理器或數字分頻器），A功放的輸入就不會超過1.65V放。因此，當音箱處理器或數字分頻器輸出1.65V至A功放時，A功放會輸出66.33V至音箱（66.33V=550W@8Ω），如果音箱處理器或數字分頻器輸出大於1.65V的電壓至功放，將導致功放產生失真和輸出更大的電壓，並會轉化成更大的功率和線圈熱量，極有可能會對音箱產生破壞。為了保護音箱，需要將音箱處理器或數字分頻器的限制閥值定在1.65V（6.5dBu）。
又如A功放與B音箱連接，二者的相關參數如下：
A功放：FTC功率550W@8Ω，電壓增益40倍；A音箱：400WRMS（AES/ANSI），阻抗8Ω（音箱的功率比功放低150W）。
*計算步驟1：B音箱的最大電壓容量計算
B音箱最大電壓容量V=√400W×8Ω
=√3200
=56.56V
*計算步驟2：A功放的輸入靈敏度計算
A功放輸入靈敏度V=最大電壓容量V/電壓增益
=56.56V/40×
=1.41V（最大輸入限制閥值）
計算結果：A功放在輸入有1.41V時，輸出電壓為56.56V，加在阻抗為8Ω負載上時，相當於產生400W的功率，意味著如果我們想避免超過音箱的最大承受功率，就應避免功放輸入電壓達到1.41V（本系統的最大輸入限制閥值）。我們可以確信在A功放之前接上限制值為1.41V的限制電路之後（音箱處理器或數字分頻器），A功放的輸入就不會超過1.41V放。因此，當音箱處理器或數字分頻器輸出1.41V至A功放時，A功放會輸出56.56V至音箱（56.56V=400W@8Ω），如果音箱處理器或數字分頻器輸出大於1.41V的電壓至功放，將導致功放輸出更大的電壓到音箱，並會轉化成音箱更大的失真和線圈熱量，極有可能會對音箱產生破壞。為了保護音箱，需要將音箱處理器或數字分頻器的限制閥值定在1.41V（5.19dBu）。
4.功放的電平控制
在上述的示例里，所有功放的電平控制音量都假設在最大的位置（0dB衰減），當功放電平調節鈕變化時，功放的輸入靈敏度和電壓增益也將會變化。當功放的電平控制減低時，其電壓增益降低，輸入靈敏度將增加。
上圖表示了一台功放的電壓控制，觀察到在不同電壓控制位置的增益（用倍數和dB表示）變化和輸入靈敏度的變化。
5.功率容量的匹配
一個音箱的AES/ANSI短期峰值功率容量允許超過連續功率容量的6dB，也就是說峰值功率是連續功率的四倍。例如一個音箱的連續功率為100W，則它的峰值功率為400W。
同樣，一台功放的連續FTC功率容量，允許其峰值超過連續功率的3dB，也就是說一台功放允許其峰值功率為連續功率的兩倍。例如如果連續功率為100W，其峰值功率為200W。
因此，如果一台功放能夠提供400W的峰值功率，則要求它的連續FTC功率為200W。換言之，如果功放要達到音箱的峰值功率容量，則要求功放的連續FTC功率兩倍於音箱的連續功率。
例如：C音箱的ASE/ANSI連續功率為300W，則它的峰值功率為1200W（300W×4），如果功放要求提供1200W的峰值功率，則這台功放要求其連續FTC功率為600W（600W×2），由此得出：ASE/ANSI連續功率容量為300W的音箱，需要FTC連續功率為600W的功放來驅動。
『伍』 超聲波感測器怎麼調節
雙向超聲波感測器是一種既能接收又能發射的超聲波器件
而單向超聲波感測器是只能接收或者只能發射的超聲波器件
從原理上超聲波感測器是一種電聲轉換器件沒有單雙之分,而實際的應用中單雙向的超聲波感測器在製作工藝材料上有不同,所以應用場合就不同1、對於收發合一的超聲波感測器（即採用了你說的用反射的方式接收），不同的型號的最大探測范圍在1.5~6m之間，老闆說的單程15m考慮反射損耗在內也還算正常 2、R為receive(接收)，T為translate(發射)一般加40KHz方波發射信號（要看具體型號），另外一個接外皮的腳接地 3、測量量為電壓，對於無源的接收器（兩腳），出來的電壓還要進行幾千幾萬倍的放大，所以出現4的情況應該是不正常的。 我這有個方案說明，你要的話留個郵箱，我發給你好了。學東西重要的在學方法。 你要知道你手頭上東西的型號，然後直接到google（我也想支持,但找國外的資料它確實不行）上搜原始的datasheet，上面的信息很全面，有了它基本上就不用參閱其它資料了。
『陸』 超聲波探傷儀有很多的參數，比如聲速，增益，抑制，延遲．．．這些參數分別是什麼意思，怎樣設置
聲速：超聲波在介質中的傳播速度。鋼中一般設置為5900，鋁中6300，其他的可以查手冊。
增益：作用為改變放大器的放大倍數，進而連續改變探傷儀的靈敏度。使用時將反射波高精確地調節到某一指定高度，儀器靈敏度確定以後，探傷過程中一般不再調整。
抑制：作用是抑制顯示屏上幅度較低或認為不必要的雜亂反射波，使之不予顯示，從而使顯示屏的波形清晰。
延遲：用於調節開始發射脈沖時刻與開始掃描時刻之間的時間差。調節延遲可以使掃描線上的回波位置大幅度左右移動，而不改變回波之間的距離。
基本參數還有
頻帶寬度、重復頻率、測量范圍、掃描延遲、探頭延遲、檢波方式、測量分辨力、測量單位、介面類型等許多。
10000個字也講不完，在著打完我手就廢了。以後再慢慢說，你可以買本《超聲波培訓教材》看看。
『柒』 十萬火急，超聲波考試實做中如何調節掃描速度
時基線我感覺就是調節超聲波掃描速度的始脈沖和一次反射波及其它反射波脈沖的總稱。舉例說明，1.調節有關旋鈕使時基線清晰明亮，並與水平線刻度線重合。2.然後將儀器屏幕時基掃描線的水平刻度值與實際聲程的比例關系調節為1：n.
『捌』 什麼叫做增益怎樣對美泰全數字式超聲波探傷儀進行增益調節
增益是數字式超聲波探傷儀的回波幅度調節量(靈敏度)，在模擬儀器中通常稱之為「衰減」，這兩種概念剛好相反，即增益加大，回波幅度增高;而衰減加大，回波幅度則下降。在探傷工作中，利用增益調節可以控制儀器的靈敏度，測量信號的相對高度，用於判斷缺陷的大小，或測量材料的衰減性能等，用分貝(dB)表示。選擇基本→增益，界面中出現基本增益、增益步距、掃查增益、表面補償參數項，選擇某參數項並轉動旋鈕，可以調節該參數項的值手動增益調節
按鍵，儀器自動跳轉到基本增益調節界面並選中基本增益項目，旋轉旋輪調節基本增益到適當數值。
如果需要調整增益步距，可以選中增益步距項目，然後旋轉旋輪調節;或者反復按鍵，增益步距可以在6dB、2dB、1dB、0.1dB、0dB之間切換。增益步距為0dB時，相當於基本增益被鎖定，從而可防止誤操作改變基本增益。
自動增益調節
該功能是為了快速調整閘門內回波到預定高度而設計。使用方法為:調節閘門鎖定待測回波，然後按鍵，儀器會自動進行增益調節，使閘門內的最大回波波幅調節到屏高的80%高度(此高度在自動波高參數中可自行設置:輔助→功能→自動波高)。在增益自動調節過程中波形顯示區的頂部有「AUTO-XX%」的字樣提示，其中的「XX%」表示自動波高的數值。調整完畢後即消失。調整過程中，按鍵可以立即終止增益自動調節。注:在與波峰記憶功能同時使用時應注意，自動增益是針對當前的活動波形進行調節，而不是對記憶的回波進行操作。另外，在觸發自動增益功能後應保持探頭不動，待到儀器將現有波形調整到用戶所指定的基準波高後，再移動探頭。
本探傷儀的系統靈敏度由基本增益、掃查增益和表面補償增益三部分組成。總增益最大為110dB，其中基本增益和補償增益顯示在屏幕右上角，如右圖所示，其格式為:xx.x+
xx.x
dB
A
BA項為基本增益，B項為補償增益。掃查增益相當於探傷時掃查靈敏度的調節，為方便尋找缺陷而設計的。表面補償增益是指由於工件表面粗糙度等因素影響，而對探傷靈敏度進行的補償。表面補償需要根據工件表面粗糙度狀況在菜單中設置。在無DAC/AVG曲線時，基本增益與補償增益的調節效果相同，不會影響探傷結果。在有DAC/AVG曲線時，三者就有顯著區別:1.調節基本增益，DAC/AVG曲線和回波幅度同步變化。探傷時，為了找到某一回波，需要調節增益，但又不能改變回波與DAC/AVG曲線的相對當量值(不改變已設置的探傷標准)，此時應該在基本增益狀態下，調節增益。2.
調節掃查增益，可使閘門內回波升高或降低，DAC/AVG曲線不變，其當量值也不變。
3.在探傷時，由於現場工件狀況與試塊測試時的區別，需要進行表面補償時，應調整補償增益(靈敏度補償)。