超聲波探頭縱波型號怎麼辨認

① 超聲無損檢測的儀器型號和探頭型號怎麼確定啊

超聲波儀器型號是指品牌和類型，舉例，我用的是KK的58L和60，
探頭型號國標是K值，歐標是角度。我用的是歐標KK的SWB45，SEB60，SWB70

② 超聲波探頭的分類

1.直探頭: 單晶縱波直探頭 雙晶縱波直探頭
2.斜探頭: 單晶橫波斜探頭a1<aL<aⅡ ，雙晶橫波斜探頭
單晶縱波斜探頭 aL<a1為小角度縱波斜探頭
aL在a1附近為爬波探頭爬波探頭；沿工件表面傳輸的縱波，速度快、能量大、波長長、探測深度較表面波深，對工件表面光潔度要求較表面波松。（頻率2.5MHZ波長約2.4mm，講義附件11、12、17題部分答案）。
3.帶曲率探頭: 周向曲率 徑向曲率。
周向曲率探頭適合---無縫鋼管、直縫焊管、筒型鍛件、軸類工件等軸向缺陷的檢測。工件直徑小於2000mm時為保證耦合良好探頭都需磨周向曲率。
徑向曲率探頭適合---無縫鋼管、鋼管對接焊縫、筒型鍛件、軸類工件等徑向缺陷的檢測。工件直徑小於600mm時為保證耦合良好探頭都需磨徑向曲率。
4.聚焦探頭: 點聚焦 線聚焦。
5.表面波探頭:(當縱波入射角大於或等於第二臨界角,既橫波折射角度等於90形成表面波).
沿工件表面傳輸的橫波，速度慢、能量低、波長短探測深度較爬波淺，對工件表面光潔度要求較爬波嚴格。
第一章「波的類型」中學到：表面波探傷只能發現距工件表面兩倍波長深度內的缺陷。（頻率2.5MHZ波長約1.3mm，講義附件11、12題部分答案）。

③ 超聲無損檢測的儀器型號和探頭型號怎麼確定啊

真的是無法回答啊，可以告訴你一個途徑自己去找：
先明確自己的需求：測量什麼零件（材料和外形尺寸大小）、要求達到的基本參數，然後網路該儀器的名稱，比如超聲波探傷儀或超聲波測厚儀等，然後讓銷售商給你解答。你要做的事情就是，有問題就去質疑，比較幾家的答案估計你也就知道個大概了。呵呵！

④ 超聲探頭型號1Z30N和1P30有什麼區別

看一下網路的資料：
超聲波探頭
以構造分類
1.直探頭： 單晶縱波直探頭 雙晶縱波直探頭
2.斜探頭： 單晶橫波斜探頭a1<aL<aⅡ ， 雙晶橫波斜探頭
單晶縱波斜探頭 aL<a1為小角度縱波斜探頭
aL在a1附近為爬波探頭 爬波探頭；沿工件表面傳輸的縱波，速度快、能量大、波長長探測深度較表面波深，對工件表面光潔度要求較表面波松。（頻率2.5MHZ波長約2.4mm，講義附件11、12、17題部分答案）。
3.帶曲率探頭： 周向曲率 徑向曲率。
周向曲率探頭適合---無縫鋼管、直縫焊管、筒型鍛件、軸類工件等軸向缺陷的檢測。工件直徑小於2000mm時為保證耦合良好探頭都需磨周向曲率。
徑向曲率探頭適合---無縫鋼管、鋼管對接焊縫、筒型鍛件、軸類工件等徑向缺陷的檢測。工件直徑小於600mm時為保證耦合良好探頭都需磨徑向曲率。
4.聚焦探頭： 點聚焦 線聚焦。
5.表面波探頭：（當縱波入射角大於或等於第二臨界角，既橫波折射角度等於90形成表面波）。
沿工件表面傳輸的橫波，速度慢、能量低、波長短探測深度較爬波淺，對工件表面光潔度要求較爬波嚴格。
第一章「波的類型」中學到：表面波探傷只能發現距工件表面兩倍波長深度內的缺陷。（頻率2.5MHZ波長約1.3mm，講義附件11、12題部分答案）。
壓電材料的主要性能參數
1.壓電應變常數d33:
d33=Dt/U在壓電晶片上加U這么大的應力，壓電晶片在厚度上發生了Dt的變化量，d33越大，發射靈敏度越高（82頁最下一行錯）。
2.壓電電壓常數g33:
g33=UP/P在壓電晶片上加P這么大的應力。在壓電晶片上產生UP這么大的電壓，g33越大，接收靈敏度越高。
3.介電常數e:
e=Ct/A[C-電容、t-極板距離（晶片厚度）、A-極板面積（晶片面積）];
C小→e小→充、放電時間短。頻率高。
4.機電偶合系數K:
表示壓電材料機械能（聲能）與電能之間的轉換效率。
對於正壓電效應：K=轉換的電能/輸入的機械能。
對於逆壓電效應：K=轉換的機械能/輸入的電能。
晶片振動時，厚度和徑向兩個方向同時伸縮變形，厚度方向變形大，探測靈敏度高，徑向方向變形大，雜波多，分辨力降低，盲區增大，發射脈沖變寬。（講義附件16、19題部分答案）。
聲 速： 324.0 M/S 工件厚度： 16.00MM 探頭頻率： 2.500MC
探頭K值： 1.96 探頭前沿： 7.00MM 坡口類型： X
坡口角度： 60.00 對焊寬度： 2.00MM 補 償： -02 dB
判 廢： +05dB 定 量： -03dB 評 定： -09 dB
焊口編號： 0000 缺陷編號： 1. 檢測日期： 05.03.09
聲 速： 324.0 M/S 工件厚度： 16.00 MM 探頭頻率： 5.00 MC
探頭K值： 1.95 探頭前沿： 7.00 MM 坡口類型： X
坡口角度： 60.00 對焊寬度： 2.00 MM 補 償： -02 dB
判 廢： +05 dB 定 量： -03 dB 評 定： -09 dB
焊口編號： 0000 缺陷編號： 1. 檢測日期： 05.03.09
5.機械品質因子qm:
qm=E貯/E損，壓電晶片諧振時，貯存的機械能與在一個周期內（變形、恢復）損耗的能量之比稱……損耗主要是分子內摩擦引起的。
qm大，損耗小，振動時間長，脈沖寬度大，分辨力低。
qm小，損耗大，振動時間短，脈沖寬度小，分辨力高。
6.頻率常數Nt:
Nt=tf0,壓電晶片的厚度與固有頻率的乘積是一個常數，晶片材料一定，厚度越小，頻率越高。 （講義附件16、19題部分答案）。
7.居里溫度Tc:
壓電材料的壓電效應，只能在一定的溫度范圍內產生，超過一定的溫度，壓電效應就會消失，使壓電效應消失的溫度稱居里溫度（主要是高溫影響）。
8.超聲波探頭的另一項重要指標：信噪比---有用信號與無用信號之比必須大於18 dB。（為什麼？）
探頭型號
（應注意的問題）
1.橫波探頭只報K值不報頻率和晶片尺寸。
2.雙晶探頭只報頻率和晶片尺寸不報F（菱形區對角線交點深度）值。
例：用雙晶直探頭檢12mm厚的板材，翼板厚度12mm的T型角焊縫，怎樣選F值？
講義附件（2題答案）。
應用舉例
1.斜探頭近場N=a?b?COSb/plCOSa。 λ =CS/?.
直探頭近場N=D/4l。 λ=CL/?.
2.橫波探傷時聲束應用范圍：1.64N-3N。
縱波探傷時聲束應用范圍：?3N。
雙晶直探頭探傷時，被檢工件厚度應在F菱形區內。
3.K值的確定應能保證一次聲程的終點越過焊縫中心線，與焊縫中心
線的交點到被檢工件內表面的距離應為被檢工件厚度的三分之一。
4.檢測16mm厚的工件用5P 9×9 K2、2.5P9X9K2、2.5P13X13K2那一種探頭合適（聚峰斜楔）。以5P9X9K2探頭為例。
（1）。判斷一次聲程的終點能否越過焊縫中心線？
（焊縫余高全寬+前沿）/工件厚度
（2）。利用公式：
N?（工件內剩餘近場長度）=N（探頭形成的近場長度）—N?（探頭內部佔有的近場長度） =axbxcosβ/πxλxcosα–Ltgα/tgβ，計算被檢工件內部佔有的近場長度。講義附件（14題答案）。
A. 查教材54頁表：
材料 K值 1.0 1.5 2.0 2.5 3
有機玻璃 COSb/ COSa 0.88 0.78 0.68 0.6 0.52
聚碸 COSb/ COSa 0.83 0.704 0.6 0.51 0.44
有機玻璃 tga /tgb 0.75 0.66 0.58 0.5 0.44
聚碸 tga /tgb 0.62 0.52 0.44 0.38 0.33
COSb/COSa、tga/tgb與K值的關系
查表可知cosβ/cosα=0.6, tgα/tgβ=0.44, 計算可知α=41.35°。
B. λ=Cs/?=3.24/5=0.65mm
C. 參考圖計算可知：
tgα=L1/4.5, L1=tg41.35°X4.5=0.88X4.5=3.96mm.
cosα=2.5/L2, L2=2.5/cos41.5°=2.5/0.751=3.33mm,
L=L1+L2=7.3mm, Ltgα/tgβ=7.3×0.44=3.21mm,（N?）
由（1）可知，IS=35.8mm, 2S=71.6mm
N=axbxcosβ/pxλxcosa=9×9×0.6/3.14×0.65=23.81mm,
1.64N=39.1mm, 3N=71.43mm.
工件內部剩餘的近場（N?）=N-N?=20.6mm（此范圍以內均屬近場探傷）。
（1.64N-N?）與IS比較， （3N-N?）與2S比較，
使用2.5P13X13K2探頭檢測16mm厚工件，1.64N與3N和5P9X9K2探頭基本相同，但使用中仍存在問題，2.5P9X9K2探頭存在什麼問題？
一。探傷過程中存在的典型問題：
不同探頭同一試塊的測量結果
反射體深度 1#探頭 2#探頭
橫波折射角 聲程 橫波折射角 聲程
mm （ ） mm （ ） mm
20 21.7 21.7 32.8 24.3
40 24.4 45.0 32.5 49.8
60 25.8 70 30.9 75.6
80 28.9 101.8 29.1 102.0
註：1.晶片尺寸13?13 2.晶片尺寸10?20.
試驗中發現：同一探頭（入射角不變）在不同深度反射體上測得的橫波折射角不同，進一步試驗還發現，折射角的變化趨勢與晶片的結構尺寸有關，對不同結構尺寸的晶片，折射角的變化趨勢不同，甚至完全相反，而對同一
晶片，改變探頭縱波入射角，其折射角變化趨勢基本不變，上表是兩個晶片尺寸不同的探頭在同一試塊上測量的結果。
1#探頭聲束中心軌跡 2#探頭聲束中心軌跡
1.縱波與橫波探頭概念不清。
第一臨界角：由折射定律SinaL/CL1=SinbL/CL2,當CL2>CL1時，bL>aL,隨著aL增加，bL也增加，當aL增加到一定程度時，bL=90,這時所對應的縱波入射角稱為第一臨界角aI,
aI=SinCL1/CL2=Sin2730/5900=27.6,當aL<aI時，第二介質中既有折射縱波L??又有折射橫波S??.
第二臨界角：由折射定律SinaL/CL1=SinbS/CS2, 當Cs2>CL1時，bS>aL,隨著aL增加，bS也增加，當aL增加一定程度時，bS=90,這時所對應的縱波入射角稱為第二臨界角aⅡ。aⅡ
=SinCL1/CS2=Sin2730/3240=57.7.當aL=aI--aⅡ時，第二介質中只有折射橫波S,沒有折射縱波L,常用橫波探頭的製作原理。
利用折射定律判斷1#探頭是否為橫波探頭。
A. 存橫波探傷的條件：Sin27.6/2730=Sinb/3240, Sinb=Sin27.6?3240/2730=0.55,b=33.36,K=0.66。
B.折射角為21.7時： Sina/2730=Sin21.7/3240,Sina=Sin21.7?2730/3240,a=18.15,
小於第一臨界角27.6。
折射角為28.9時：
Sina/2730=Sin28.9/3240,Sina= Sin28.9?2730/3240,a=24,也小於第一臨界角27.6。
C.如何解釋1#探頭隨反射體深度增加，折射角逐漸增大的現象，由A、B
可知，1#探頭實際為縱波斜探頭，同樣存在上半擴散角與下半擴散角，而且上半擴散角大於下半擴散角。（講義附件9題答案）。
縱波入射角aL由0逐漸向第一臨界角aI（27.6）增加時，第二介質中的縱波能量逐漸減弱，橫波能量逐漸增強，在聲束的一定范圍內，q下區域內的縱波能量大於q上區域內的縱波能量，探測不同深度的孔，實際上是由q下區域內的縱波分量獲得反射回波最高點。
由超聲場橫截面聲壓分布情況來看，A點聲壓在下半擴散角之內，B點聲壓在上半擴散角之內，且A點聲壓高於B點聲壓。再以近場長度N的概念來分析，2.5P 13?13 K1探頭N=36.5mm,由此可知反射體深度20mm時，聲程約21.7mm,b=21.7時N=40.07mm為近場探傷。
在近場內隨著反射體深度增加聲程增大，A點與B點的能量逐漸向C點增加，折射角度小的探頭角度逐漸增大，折射角度大的探頭角度逐漸減少。
2.盲目追求短前沿：
以2.5P 13?13 K2探頭為例，b=15mm與b=11mm,斜楔為有機玻璃材料；
（1）。檢測20mm厚，X口對接焊縫，缺陷為焊縫層間未焊透。
（2）。信噪比的關系：有用波與雜波幅度之比必須大於18dB.
（3）。為什麼一次標記點與二次標記點之間有固定波？
由54頁表可知：COSb/COSa=0.68，K2探頭b=63.44°，
COS63.44°=0.447，COSa=0.447/0.68=0.66，
COSa=6.5/LX，前沿LX=6.5/0.66=9.85mm。（講義附件6題答案）。
3.如何正確選擇雙晶直探頭：
（1）。構造、聲場形狀、菱形區的選擇；
（2）。用途：為避開近場區，主要檢測薄板工件中面積形缺陷。
（3）。發射晶片聯接儀器R口，接收晶片聯接T口（匹配線圈的作用）。
4.探頭應用舉例：
二。超聲波探頭的工作原理：
1.通過壓電效應發射、接收超聲波。
2.640V的交變電壓加至壓電晶片銀層，使面積相同間隔一定距離的兩塊金屬極板分別帶上等量異種電荷形成電場，有電場就存在電場力，壓電晶片處在電場中，在電場力的作用下發生形變，在交變電場力的作用下，發生變形的效應，稱為逆壓電效應，也是發射超聲波的過程。
3.超聲波是機械波，機械波是由振動產生的，超聲波發現缺陷引起缺陷振動，其中一部分沿原路返回，由於超聲波具有一定的能量，再作用到壓電晶體上，使壓電晶體在交變拉、壓力作用下產生交變電場，這種效應稱為正壓電效應，是接收超聲波的過程。正、逆壓電效應統稱為壓電效應。
※以儀器的電路來說，只能放大電壓或電流信號，不能放大聲信號。
試塊
※強調等效試塊的作用。
1.常用試塊的結構尺寸、各部位的用途，存在問題；（講義附件8、10、13、18題答案）。
2.三角槽與線切割裂紋的區別；
3.立孔與工件中缺陷的比較：
4.幾種自製試塊的使用方法；
A.奧氏體試塊：
B.雙孔法校準（主要用於縱波斜探頭探傷，如螺栓）（講義附件5、7題答案）。
計算公式：令h2/h1=n；
a=[n（t1+f/2）-（t2+f/2）]/（n-1） …… 1式
t1與t2為一次聲程分別發現h1與h2孔時的聲程（包含a）；
COSb=h1/（t1+f/2-a），b=COSh1/（t1+f/2-a）；
tgb=K，K=tgCOSh1/（t1+f/2-a） …… 2式
b=（L2-nL1）/（n-1） …… 3式
C.外圓雙孔法校準原理（外徑f>100mm的工件周向探傷用）：
計算公式：q=（ - ）180/Rp …… 1式
…… 2式
j=Sin[Sinq（R-h2）/A?B] …… 3式
b=Sin（R-h1）Sinj/R …… 4式
tgb=K=tgSin（R-h1）Sinj/R …… 5式
=?eR/57.3- …… 6式
?e=?j-?b.
D.雙弧單孔法校準（外徑Φ<100mm的工件周向探傷用）：
（1）距離校準同CSK-ⅠA校圓弧；
（2）。K值校準 b=COS[R2+（S+f/2）-（R-h）]/2R2（S+f/2） tgb=K
（講義附件3、15題答案）。
常用的兩種探傷方法
1.曲線法；
2.幅值法。

⑤ 超聲波探頭型號標識原理

超聲波 它是利用回聲定位的原理的白吃 還有你沒學習過萬有引力嗎蛋白質 中子是電子的1000倍也白吃

⑥ 2超聲波探頭分為哪幾類可分別測量何種波形

1)按被探工件中產生的波型，可分為縱波探頭、橫波探頭、板波(蘭姆波)探頭、爬波探頭和表面波探頭。

2)按按入射聲束方向，可分為直探頭和斜探頭。

⑦ 超聲波探傷應如何選擇波形

直探頭是縱波探頭，斜探頭是橫波探頭，對於鋼板，鍛件等以縱波入射為主，焊縫一般選擇斜探頭，需要選擇K值和頻率。我說的是一般情況，選擇探頭，要先看你要探傷的工件情況，才能准確選擇，正確判斷。

⑧ 超聲波探傷級別

檢驗等級的分級：

根據質量要求檢驗等級分為A、B、C三級，檢驗的完善程度A級最低，B級一般，C級最高，檢驗工作的難度系數按A、B、C順序逐級增高，應按照工件的材質、結構、焊接方法、使用條件及承受載荷的不同，合理的選用檢驗級別，檢驗等級應接產品技術條件和有關規定選擇或經合同雙方協商選定。

超聲波在介質中傳播時有多種波型，檢驗中最常用的為縱波、橫波、表面波和板波。用縱波可探測金屬鑄錠、坯料、中厚板、大型鍛件和形狀比較簡單的製件中所存在的夾雜物、裂縫、縮管、白點、分層等缺陷。

用橫波可探測管材中的周向和軸向裂縫、劃傷、焊縫中的氣孔、夾渣、裂縫、未焊透等缺陷；用表面波可探測形狀簡單的鑄件上的表面缺陷；用板波可探測薄板中的缺陷。

鋼閘門檢測：

鋼閘門在水利工程中大量使用，主要以優質鋼板為基材，通過焊接手段製做而成，表面採用橡膠止水、防腐方式為表面進行噴沙除銹及熱噴鋅，廣泛應用於水電站、水庫、排灌、河道、環境保護、污水處理、水產養殖等水利工程。

鋼閘門的焊接質量直接關繫到閘門下遊人民群眾生命、財產的安全，因此鋼閘門的焊接質量和焊接檢測方法至關重要。

超聲波探傷作為無損檢測檢測方法之一，是在不破壞加工表面的基礎上，應用超聲波儀器或設備來進行檢測，既可以檢查肉眼不能檢查的工件內部缺陷，也可以大大提高檢測的准確性和可靠性。

以上內容參考：網路-超聲波探傷

⑨ 關於車位引導超聲波探頭，有什麼類型

超聲波探頭的種類和結構如下：直探頭（縱波探頭）直探頭用於發射和接收縱波，故又稱為縱波探頭。直探頭主要用於探測與探測面平行的缺陷，如板材、鍛件檢測。主要由壓電晶片、保護膜、吸收塊、電纜接頭和外殼等部分組成。斜探頭又可分為縱波斜探頭、橫波斜探頭和表面波斜探頭。橫波探頭是利用橫波檢測，主要用於探測與探測面垂直或成一定角度的缺陷，如焊縫檢測、汽輪機葉輪檢測等。雙晶探頭雙晶探頭又稱組合式或分割式探頭。兩塊壓電晶片裝在一個探頭架內，晶片發射，另一個晶片接收，它們發射和接收縱波。晶片下的延遲塊（有機玻璃或環氧樹脂）使聲波延遲一段時間後射人工件，從而可檢測近表面缺陷，減小了盲區，並可提高分辨力。兩晶片之間用隔聲層分開,晶片間的傾角通常在3°〜18°之間。兩晶片聲場的重疊部分是檢測靈敏度的最高區域，此區域一般呈菱形。水浸探頭可浸在水中檢測，不與工件接觸，，其結構與直探頭相似，但不需要保護膜。

⑩ 超聲波感測器型號和原理應用詳解

超聲波感測器由於感測器技術的發展慢慢被廣泛用於工業生產中，加速了工業的發展。超聲波感測器主要是利用超聲波特點研發出的感測器。小編為大家從超聲波感測器型號、原理應用來為大家詳細解讀超聲波感測器，希望能幫助大家對這一科學原理應用更加的了解。

超聲波感測器，是通過送波器將超聲波向對象物發送，通過受波器接受這種反射波，來檢測對象物的有無和距離對象物的距離。通過計算從超聲波發信到受信為止所需要的時間和聲速的關系，來計算感測器和對象物之間的距離。此外，有些機器通過對穿過送波器和受波器間物體產生的超聲波的衰減或遮斷進行檢測，從而檢測對象物的有無。

超聲波感測器應用

一、超聲波感測器可以對集裝箱狀態進行探測。將超聲波感測器安裝在塑料熔體罐或塑料粒料室頂部，向集裝箱內部發出聲波時，就可以據此分析集裝箱的狀態，如滿、空或半滿等。

二、超聲波感測器可用於檢測透明物體、液體、任何錶粗糙、光滑、光的密緻材料和不規則物體。但不適用於室外、酷熱環境或壓力罐以及泡沫物體。

三、超聲波感測器可以應用於食品加工廠，實現塑料包裝檢測的閉環控制系統。配合新的技術可在潮濕環如洗瓶機、噪音環境、溫度極劇烈變化環境等進行探測。

四、超聲波感測器可用於探測液位、探測透明物體和材料，控制張力以及測量距離，主要為包裝、制瓶、物料搬檢驗煤的設備運、塑料加工以及汽車行業等。超聲波感測器可用於流程監控以提高產品質量、檢測缺陷、確定有無以及其它方面。

常見的超聲波感測器型號

UM30-2超聲波感測器

UM30-2超聲波感測器SICK超聲波感測器使用聲音精確地檢測物體和測量距離。無論物體是什麼形狀，超聲波感測器可提供背景抑制的功能進行可靠地檢測。而感測器的輸出，可以是開關量，模擬量或者同時具備。

PS-400超聲波糾偏感測器

PS-400超聲波糾偏感測器應用高頻超聲波直線傳播的原理，用來檢測卷材的邊緣位置。與光電感測器相比，不會受材料透明度的影響，所以死使用時無需校調，非常方便。適用於不透明材料(例如塑料薄膜，紙張等等)的追邊應用(透明材料例如布，無紡布則不適用)。

以上小編為大家整理的超聲波感測器型號、原理應用的知識，希望大家能對這一門技術有所了解並合理利用，使其能在生活與工作中幫助到大家。如果對超聲波感測器的知識還有疑問的朋友可以留言超聲波感測器小兔，小兔會努力幫助大家解決難題