用機械比較儀測量軸屬於什麼測量法

❶ 在機械行業的比較測量法的原理是什麼

利用相對法進行測量的長度測量工具（圖：比較儀）,主要由測微儀和比較儀座組成。測量時，先用量塊研合組成與被測基本尺寸相等的量塊組，再用此量塊組使測微儀指針對零，然後換上被測工件，測微儀指針指示的即為被測尺寸的偏差值。按測微儀所採用的放大原理，比較儀可分為機械式比較儀、光學比較儀和電學比較儀3種
機械式比較儀 和百分表和千分表、杠桿齒輪式測微儀或扭簧測微儀等機械式指示表作為放大、指示部件。杠桿齒輪式測微儀的工作原理與百分表和千分表相似。但第1級放大機構是杠桿，其分度值通常為1微米。扭簧測微儀是一種具有無機械摩擦放大機構的指示表（圖 [扭簧測微儀工作原理].它的主要放大元件是一根從中間起一端向右扭曲，另一端向左扭曲的金屬薄片（寬度為0.1毫米左右，厚度為0.005毫米左右），稱為扭簧絲。在它的中間粘有一根直徑約為0.06毫米的空心玻璃絲做的指針。當測桿上下移動時，可動支架把上下位移轉換為左右位移，使扭簧絲縮短或伸長，並帶動指針轉一個角度，從表盤上即可讀出測桿的位移量。扭簧測微儀的靈敏度很高,常見的分度值有1微米、0.5微米、0.2微米和0.1微米幾種,最高可達0.02微米。示值范圍一般為±50個分度值。機械式比較儀常用在車間和計量室測量工件外徑和厚度等。
光學比較儀 利用光學測微儀作為放大指示部件。常見的有立式、卧式和影屏式 3種。①立式光學比較儀：又稱立式光學計,圖3[光學測微儀的光學系統]為光學測微儀的光學系統。它是按自準直原理（見自準直儀）設計的。分劃板位於物鏡焦平面上，平面反射鏡按杠桿原理設置。當測桿上下移動時，平面反射鏡繞支點轉動一個很小角度，由平面反射鏡反射回去的光線，經直角棱鏡後成象在分劃板上的刻度尺象發生偏移。偏移量的大小與測桿移動距離成比例。光學測微儀的分度值為 1微米,示值范圍為0.1毫米。立式光學計適宜在計量室使用，測量范圍為0～180毫米，常用於檢定量塊和光滑量規以及測量工件的外徑、厚度。②卧式光學比較儀：又稱卧式光學計，其工作原理與立式光學計相同，測量范圍為0～500毫米，適用於在計量室測量較大的或在立式光學計上不易定位的工件，如圓盤等，也常利用測孔附件測量孔徑。③影屏式光學比較儀:又稱投影光學計,其光學系統與立式光學計相似，但刻度尺影像經投影放大透鏡放大後成象於影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值為 0.2微米的光學系統採用多次反射以增大光學杠桿的放大比。此外，還有用光波干涉法測量的接觸式干涉比較儀，其分度值為0.05微米、0.1微米和0.2微米。

❷ 測量方法有哪些

1、按是否直接測量被測參數，可分為直接測量和間接測量。

直接測量：直接測量被測參數來獲得被測尺寸。例如用卡尺、比較儀測量。

間接測量：測量與被測尺寸有關的幾何參數，經過計算獲得被測尺寸。

2、按量具量儀的讀數值是否直接表示被測尺寸的數值，可分為絕對測量和相對測量。

絕對測量：讀數值直接表示被測尺寸的大小、如用游標卡尺測量。

相對測量：讀數值只表示被測尺寸相對於標准量的偏差。

3、按被測表面與量具量儀的測量頭是否接觸，分為接觸測量和非接觸測量。

接觸測量：測量頭與被接觸表面接觸，並有機械作用的測量力存在。如用千分尺測量零件。

非接觸測量：測量頭不與被測零件表面相接觸，非接觸測量可避免測量力對測量結果的影響。如利用投影法、光波干涉法測量等。

4、按一次測量參數的多少，分為單項測量和綜合測量。

單項測量；對被測零件的每個參數分別單獨測量。

綜合測量：測量反映零件有關參數的綜合指標。如用工具顯微鏡測量螺紋時，可分別測量出螺紋實際中徑、牙型半形誤差和螺距累積誤差等。

5、按測量在加工過程中所起的作用，分為主動測量和被動測量。

主動測量：工件在加工過程中進行測量，其結果直接用來控制零件的加工過程，從而及時防治廢品的產生。

被動測量：工件加工後進行的測量。此種測量只能判別加工件是否合格，僅限於發現並剔除廢品。

6、按被測零件在測量過程中所處的狀態，分為靜態測量和動態測量。

靜態測量；測量相對靜止。如千分尺測量直徑。

動態測量；測量時被測表面與測量頭模擬工作狀態中作相對運動。

水準測量原理

從驗潮站的高程零點，用水準測量的方法測定設立於驗潮站附近由國家設計里的水準原點的高程，作為全國高程式控制制網的起點。我國水準原點設立在山東青島市。從國家水準原點出發，用一、二、三、四等水準測量測定布設在全國范圍內的各等水準點。

一、二等水準測量稱為精密水準測量，為全國高程式控制制網的骨幹，三、四等水準網遍布全國各地，以上總稱為國家水準點。在國家水準點的基礎的上，為每項工程建設而進行工程水準測量或為地形圖測繪而進行圖根水準測量，同城為普通水準測量。

水準測量的原理是利用水準儀提供的水平視線，在豎立在欲測定高差的兩點上的水準尺上讀數，根據讀數計算高差。

❸ 尺寸測量

測量方法是指測量時所採用的測量原理、計量器具和測量條件的綜合，亦即獲得測量結果的方式。例如，用千分尺測量軸徑是直接測量法，用正弦尺測量圓錐體的圓錐角是間接測量法
測量方法的分類編輯
1）按是否直接測量被測參數，可分為直接測量和間接測量。
直接測量：直接測量被測參數來獲得被測尺寸。例如用卡尺、比較儀測量。間接測量：測量與被測尺寸有關的幾何參數，經過計算獲得被測尺寸。
顯然，直接測量比較直觀，間接測量比較繁瑣。一般當被測尺寸或用直接測量達不到精度要求時，就不得不採用間接測量。
2）按量具量儀的讀數值是否直接表示被測尺寸的數值，可分為絕對測量和相對測量。
絕對測量：讀數值直接表示被測尺寸的大小、如用游標卡尺測量。
相對測量：讀數值只表示被測尺寸相對於標准量的偏差。如用比較儀測量軸的直徑，需先用量塊調整好儀器的零位，然後進行測量，測得值是被側軸的直徑相對於量塊尺寸的差值，這就是相對測量。一般說來相對測量的精度比較高些，但測量比較麻煩。
3）按被測表面與量具量儀的測量頭是否接觸，分為接觸測量和非接觸測量。
接觸測量：測量頭與被接觸表面接觸，並有機械作用的測量力存在。如用千分尺測量零件。
非接觸測量：測量頭不與被測零件表面相接觸，非接觸測量可避免測量力對測量結果的影響。如利用投影法、光波干涉法測量等。
4）按一次測量參數的多少，分為單項測量和綜合測量。
單項測量；對被測零件的每個參數分別單獨測量。
綜合測量：測量反映零件有關參數的綜合指標。如用工具顯微鏡測量螺紋時，可分別測量出螺紋實際中徑、牙型半形誤差和螺距累積誤差等。
綜合測量一般效率比較高，對保證零件的互換性更為可靠，常用於完工零件的檢驗。單項測量能分別確定每一參數的誤差，一般用於工藝分析、工序檢驗及被指定參數的測量。
5）按測量在加工過程中所起的作用，分為主動測量和被動測量。
主動測量：工件在加工過程中進行測量，其結果直接用來控制零件的加工過程，從而及時防治廢品的產生。
被動測量：工件加工後進行的測量。此種測量只能判別加工件是否合格，僅限於發現並剔除廢品。
6）按被測零件在測量過程中所處的狀態，分為靜態測量和動態測量。
靜態測量；測量相對靜止。如千分尺測量直徑。
動態測量；測量時被測表面與測量頭模擬工作狀態中作相對運動。
動態測量方法能反映出零件接近使用狀態下的情況，是測量技術的發展方向。

❹ 用機械比較儀測量塞規直接是什麼測量方法

累積法測量，一般測量比較薄或者很輕的被測物體時都是使用的累積法，比如測量紙的厚度、芝麻的重量等等，一般不會直接去測量一張紙 一顆芝麻 那樣誤差太大。

❺ 軸徑測量有哪些方法

生產車間一般常用通用量具量儀和量規來測量軸徑。對於高精度的軸徑，常用機械式比較儀、光學比較儀、電動比較儀和氣動比較儀等與量塊進行比較測量。測量時，先用量塊調好儀器的「零位」，然後將被測零件放在儀器上進行比較，儀器指示的差值加上量塊尺寸即為被測軸徑。對於精度較高而尺寸較大的軸徑，可用立式測長儀、萬能測長儀、或測長機等進行絕對測量。在工具顯微鏡上用干涉法測量尺寸不大的軸徑，測量方便、精度較高。精度要求一般時可在工具顯微鏡上以影像法和軸切法進行絕對測量。歸納起來，軸徑測量方法有：
1、量規法：用量規檢驗軸徑，不能得到具體數值、只能檢驗軸徑尺寸合格與否。優點是精度高、檢驗效率高，在成批生產中廣泛地使用。
2、鋼尺法：直接用鋼直尺進行測量，或者使用卡鉗將工件尺寸與鋼直尺作比較。
3、卡尺法：使用游標卡尺、千分尺、杠桿千分尺等對軸徑進行直接測量。
4、測微儀法：用各種測微儀、測微表與量塊作比較測量，常用的測微儀（表）有百分表、千分表、扭簧比較儀、電感比較儀等。
5、儀器測量法：可用光學計、測長儀、工具顯微鏡等對軸徑進行精密測量。在工具顯微鏡上又分為影像法、軸切法、干涉法、靈敏杠桿法等。在光學計、測長儀等儀器上測量可分為絕對測量和相對測量。
答案出自：好 域 安 機 械 論 壇