機械如何克服阿貝發誤差

1. 三坐標阿貝誤差怎麼處理

沒法處理，阿貝誤差始終存在
要處理，只有把需要測量的工件盡量靠近機器的運動軸

2. 如何對阿貝折射儀的讀數進行校準

在開始測定前,必須先用蒸餾水（按附表）或用標准試樣校對讀數.如用標准試樣則對折射棱鏡的拋光面加1—2滴溴代萘,再貼上標准試樣的拋光面,當讀數視場指示於標准試樣上之值時,觀察望遠鏡內明暗分界線是否在十字線中間,若有偏差則用螺絲刀微量旋轉目鏡下方的螺釘,帶動物鏡偏擺,使分界線像位移至十字線中心.通過反復地觀察與校正.使示值的起始誤差降至最小（包括操作者的瞄準誤差）.校正完畢後,在以後的測定過程中不允許隨意再動此部位.
在日常的測量工作中一般不需校正儀器,如對所測的折射率示值有懷疑時,可按上述方法進行檢驗,是否有起始誤差,如有誤差應進行校正.

3. 測長儀在結構上是否符合阿貝原則

一、測長儀在結構上符合阿貝原則。

二、測長儀是在測量線上裝有活動刻度尺的光學一機械接觸式量儀。（特點是完全遵守阿貝原理）)。第一種型號的立式測長儀是阿貝設計的。因此叫做阿貝測長儀。 測長儀分為立式的和卧式的兩種，原理是一致的。

三、阿貝原則：被測量軸線只有與標准量的測量軸線重合或在其延長線上時，測量才會得到精確地結果。因此可以稱為共線原則。

下圖為一種符合阿貝原則的測長機。被側件放在測量座上的測量端B和尾座上的固定端A之間進行測量。C為基準元件。滿足被測件布置在基準元件沿運動方向的延長線上。固定在底座支架上的讀數頭D用於讀取長度。

測量前先使測量座的測量端與尾座上的固定端重合（圖2虛線），確定測量起點。測量時，移動測量座，由於底座導軌微小的起伏，測量座在移動的同時還產生了轉動，其角偏擺為α，造成基準元件的位移量L與被測件實際長度Lʹ存在差異，所產生的測量誤差按下式計算：

式中α為角偏擺，單位為弧度。當α為10秒時，化成弧度α=0.00005弧度，α平方就更小，因此，所產生的測量誤差可以忽略不計。

4. 阿貝誤差的產生原因

測量儀器的軸線與待測工件的軸線須在同一直線上。否則即產生誤差。
影像儀通過光學成像原理進行非接觸測量，阿貝數是鏡片設計的重要參數，也是檢驗中不可忽視的因素。阿貝數是表徵色散的重要指標，它也稱為色散系數。通常阿貝誤差產生的原因主要是鏡片的特徵造成測量儀器的軸線與待測工件的軸線無法完美對應成像有所偏差。

5. 阿貝誤差的解決途徑

利用阿貝誤差的對稱性等性質，運用非接觸式、小位移、電容性的感測器(124、128、130、131、132)以決定歸由於一接近線性機械級(56、58)的俯仰(20)、偏航(22)、或滾轉(18)所引起的阿貝(Abbe)誤差，其未被諸如線性比例編碼器或激光干涉計的一軸上位置指示器所指出。此系統以精密參考標准所校準，以使該校正僅取決於感測器讀數的小改變而與感測器讀數的絕對准確度無關。雖然本發明較佳為使用於具有慣性分離級(56、58)的分裂軸定位系統(50)，本發明亦可使用於典型的分裂軸或疊層級系統以降低其製造成本。

6. 阿貝原則是什麼詳細的哦

德國的E.阿貝於19世紀60年代提出的關於測量工具的設計原則。他認為，在長度測量中，被測長度應位於線紋尺刻度中心線的延長線上。按此原則設計的測量工具，由導軌直線度誤差引起的測量誤差是二階誤差，一般可以忽略不計，這樣就可以獲得精確的測量結果。 長度測量時需要計量器具的測量頭或量臂移動，如游標卡尺、千分尺，其活動部件移動方向的正確性通常靠導軌保證。導軌的製造與安裝誤差 (如直線度誤差及配合處的間隙)會造成移動方向的偏斜。為了減小這種方向偏斜對測量結果的影響，1890年德國人艾恩斯特·阿貝 (Ernst Abbe)提出了以下指導性原則:在長度測量中，應將標准長度量(標准線)安放在被測長度量 (被測線)的延長線上。這就是阿貝原理。也就是說，量具或儀器的標准量系統和被測尺寸應成串聯形式。若為並聯排列，則該計量器具的設計，或者說其測量方法原理不符合阿貝原則。游標卡尺便是這樣，會因此產生較大的誤差，可稱阿貝誤差。萬能測長儀的測量頭是按阿貝測長原則設計的，常稱阿貝測長頭。千分尺的結構，若忽略讀數裝置的直徑，也符合阿貝測長原則。 測量儀器按不按阿貝測長原則設計，所產生的測量誤差差別較大，應用阿貝測長原則，可以顯著減少測量頭移動方向偏差對測量結果的影響，因此阿貝測長是精密測量中非常重要的原則。在評定量儀或擬定長度測量方案時必須首先給以考慮。若由於結構上的原因 (如在大尺寸測量中)，阿貝測長原則難以實現 (譬如工作台、床身要求太長等)時應該採取其他有效措施以減少、甚至消除這種測量原理方面產生的誤差。

7. 阿貝誤差的舉例說明

當量儀設計或進行測量時,由於量儀的結構限制,往往使量儀的測量軸線不能與基淮軸線在同一條直線上,這樣就必然會因為不符合阿貝原理而產生理論誤差,這種誤差,我們通常稱之謂阿貝誤差,亦稱一次誤差。 以縱向比長儀為例,如圖1所示,由於基淮尺與被側尺並列,它們不在同一條直線上,即違背了阿貝原則,這時由於顯微鏡座與導軌之間不可避免地會有間隙,另外導軌本身也存有不直度誤差,此時則將引起顯微鏡1與2之間的偏移,從而產生測量誤差△。 從圖1可知:△=S·tg甲式中:S—兩個顯微鏡座之間的中心距。 中—顯微鏡座與導軌之間的相對傾斜角。 由於甲角很小,則tg滬.甲(弧度)因此:△「S·甲 假如我們用此種比長儀測量一米刻線尺寸,如果兩個顯微鏡座之間的中心距S二150毫米,顯微鏡座與導軌間的相對傾斜角切：10=0.0000485 (弧度),則所引起的測量誤差: △=150*10^3*0.0000485=7μm，這樣大的測量誤差,在精密測量中是不能輕易略去的。

8. 三坐標測量機中，哪些軸符合阿貝原則對於不符合阿貝原則的試寫出各導軌的導向誤差對測量結果的影響。

按照我的理解，三坐標的數學模型需要進行21項補償，理論上是個規規矩矩的立方體；以簡單的x方向運動為例，在y軸的不同位置是會產生誤差，但可理解為沿y方向運動時x方向的平動誤差引起的誤差，即直線度中的dyx誤差，補償好後應該可以忽略不計；同樣道理dzy補償好後對y軸的影響也可以忽略不計，個人意見，供參考；

9. 聽說七海有款無阿貝誤差的影像測量儀，是真的嗎

聽說？你聽誰說啊。。無阿貝誤差怎麼可能呢。只能說在影像測量儀這個行業把阿貝誤差降到最低限度。無阿貝誤差是不可能的，那麼多零件裝配起來是不可能做到無阿貝誤差的。

10. 測量時如何降低阿貝誤差

有卡尺時盡量用卡爪的根部測量物體，可有效降低阿貝誤差。