『壹』 精密儀器之X射線熒光光譜儀
簡介：
X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。
使用型態：
XRF用X光或其他激發源照射待分析樣品，樣品中的元素碰慶雹之內層電子被擊出後，造成核笑帆外電子的躍遷，在被激發的電子返回基態的時候，會放射出特徵X光；不同的元素會放射出各自的特徵X光，具有不同的能量或波長特性。檢測器(Detector)接受這些X光，儀器軟體系統將其轉為對應的信號。這一現象廣泛用於元素分析和化學分析，特別是在研究金屬，玻璃，陶瓷和建築材料，以及在地球化學研究、法醫學、電子產品進料品管（EURoHS）和考古學等領域，在某種程度上與原子吸收光譜儀互補，減少工廠附設的品管實驗室之分析人力投入。
X射線熒光的物理原理：
當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露於輻射與能源大於它的電離勢，足以驅逐差伏內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會「回補」進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在「回補」的過程會釋出多餘的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質放射出的輻射，這是原子的能量特性。
X射線熒光光譜法在化學分析：
主要使用X射線束激發熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在，該方法作為非破壞性分析技術，並作為過程式控制制的工具，廣泛應用於採掘和加工工業。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由於儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。
『貳』 如何正確使用手持式光譜儀（手持式合金分析儀）
浪聲手持式光譜儀生產廠家以專業的角度告訴大家如何使用這款光譜儀器。
手持式光譜儀在使用的時候，對於環境是有一定的要求，不要在潮濕的環境下工作的，環境濕度0-95%之間為最好，不能在太高溫下操作工作，這樣的理由是避免各類磁場的干擾，如此儀器分析的時候才能檢測出更精確的精度。所以，大家在工作的時候要注意環境的適合度，很多時候儀器檢測不標准跟環境還是有很大程度上的關系。
一、手持式光譜儀對於操作人員也是要一定要求的，測試樣品前一定要請儀器廠商的技術人員現場演示，並且對技術人員做操作前的培訓。因為這款儀器是檢測元素，那麼一定會要做放樣檢測，這對人體來說是有一定的為還在用，所以，技術人員還需要做好防輻射。
二、對儀器操作的技術人員在使用儀器檢測樣品的時候，先要把儀器前方的圓孔對准需要檢測樣品的點，儀器要貼在上面，在扣動扳機開始檢測的時候，技術人員的手一定不能抖動或偏動，否則會影響到檢測的數據結果。
三、對於檢測的樣品也要一些小要求，被測的物品表面必須光滑、整潔，如此才能避免其他元素的干擾被測物品的表面是有油污，或重金屬污染，如此檢測出來的結果精確度就沒那麼高，如何儀器都不是萬能的。
其實，手持式光譜儀的操作看起來很復雜，但是按照技術人員的指示一步步去操作，就沒你想的那麼復雜了。
『叄』 XRF鍍層測厚儀的原理是什麼
1、原理：X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變，根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。
2、XRF鍍層測厚儀：
俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。
功能：精密測量金屬電鍍層的厚度。
應用范圍：測量鍍層,塗層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。