1. 霍爾效應實驗報告
霍爾效應實驗報告包含:實驗目的、實驗儀器設備、實驗的基本構思和原版理、實驗數據記權錄及處理、實驗結論、注意事項等。
1、目的與要求:
(1)了解霍爾效應測量磁場的原理和方法;
(2) 觀察磁電效應現象;
(3) 學會用霍爾元件測量磁場及元件參數的基本方法。
2、儀器與裝置:霍爾效應實驗儀;
3、原理:根據霍爾效應,測量磁感應強度原理,利用提供的儀器測試所給模型測量面上的一維(上下方向)磁分布。
(1)載流子濃度用什麼儀器擴展閱讀
內容及步驟:
1、儀器調整:
(1)按圖連接、檢查線路,並調節樣品支架,使霍爾片位於磁場中間;
(2)逆時針將、調節旋鈕旋至最小;
(3)分別將輸出、輸出接至實驗儀中、換向開關;
(4)用導線將、輸入短接,通過調零旋鈕將、顯示調零;
(5)選擇、向上關閉為、的正方向。
2、 測量內容:
(1)測繪曲線:保持不變,按要求調節,分別測出不同下的四個值,將數據記錄在表格中;
(2)測繪曲線:保持不變,測出不同下四個值;
(3)測VAC:取,在零磁場下()測,則VAC=10;
(4)確定樣品導電類型:選、為正向,根據所測得的的符號,判斷樣品的導電類型。
2. 大學物理實驗霍爾效應報告
霍爾感應的是垂直於其晶元表面的磁場強度,所以要注意的是放置的位置要垂直於磁力線方向,這樣測量的結果才會較准。
霍爾效應測磁場,只能測出垂直於電流方向的磁場.所以,必須保證電流方向與磁場方向垂直,否則測出的磁場只是垂直於電流方向的分量,測量值偏小.
綜上,電流方向應與磁場方向垂直,或者轉動霍爾元件方向直到示數最大.
3. 有人能詳細講解一下霍耳效應嗎 急!
霍耳效應
當電流垂直於外磁場方向通過導體時,在垂直於電流和磁場的方向的導體兩側產生電勢差的現象。電勢差的大小與電流和磁場強度的乘積成正比,而與物體沿磁場方向的厚度成反比。比例系數稱霍耳系數,它同物體中載流子的符號和濃度有關。余漏一般說來,金屬和電解質的霍耳效應都很小,但半導體則較顯著。因此,研究固體的霍耳效應可以確定它的導電類型以及其中載流子的濃度等;利用半導體的霍耳效應可以製成測量磁場強度的磁強計、微波技術及電子計算機中的元件等。有一個厚度為d、寬為l的導電薄片,沿x軸通有電流強度I。當在y軸方向加以勻強磁場B時,在導體薄片兩側(圖中的A,A』)產生電勢差UAA』。這就是霍耳效應。假設所討論導電薄片的載流子(參與
可知,這些正電荷的載流子所得到的力沿+Z軸方向。若薄片中載流子為負電荷,q<0,則
■
軸方向的洛侖茲力
f1=qvB
設載流子為正電荷,由於洛侖茲力的作用,正電荷將在A側堆積,而在A』側出現負電荷,並產生由A指向A』的橫向電場Et。顯然Et對q的作用力fe=qEt,與fL=qvB反向,當
qEt=qvB
或當電場Et滿足
Et=vB
時相同的運動狀態,同時A,A』兩側停止電荷的繼續堆積,從而在AA』兩側建立一個穩定的電勢差UAA』
又電流強度I=nqvL•d,n為單位體積的載流子數。則載流子的漂移速度
v=I/nqLd
將其代入UAA』=vBl得
若載流子為負電荷,作與前相同的討論,仍然得到上式,不過式中q<0,因而UAA』<0即A』點的電勢高於A點。只要我們將式中的q理解為代數
k稱為霍耳系數,與所測材料的物理性質有關。當載流子q>0時,k>0,
由實驗測得霍耳系數k,從而確定該材料的載流子濃度n,以及載流子的電性能(q>0或q<0)。霍耳效應廣泛應用於半導體材料的測試和研究中。例如用霍耳效應以確定一種半導體材料是電子型(n型——多數載流子為電子)還是「空穴」型(p型——多數載流子為空穴)。半導體內載流子的濃度受溫度、雜質以及其它因素的影響信啟很大,因此霍耳效應為研
原子價的金屬符合,而對雙原子價的金屬以及半導體材料,霍耳系數不能寫成這種形式,必須用量子理滑毀如論來說明。但半導體材料的霍耳系數k與其載流子濃度n之間仍有反比關系。利用霍耳效應的霍耳元件有很多方面的用途:例如測量磁場;測量直流和交流電路中的電流強度和功率;轉換信號,如把直流電流轉換成交流電流並對它進行調制,放大直流或交流訊號等。
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