『壹』 EDX與XRF差異是什麼由於我們公司暫時還沒有此類儀器，今天有被客戶問到還請教各位
XRF即 X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)；
不同元素發出的特徵X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的，進行元謹仿素的定性分析。同時樣品受激發後發射某一元素的特徵X射
線悔兄強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。
因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：
波碧晌襲長色散型（WDXRF）和能量色散型（EDXRF)。
『貳』 XRF鍍層測厚儀的原理是什麼
1、原理：X射線照射樣品，經過鍍層界面，射線返回的信號發生突變，根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。
2、XRF鍍層測厚儀：
俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。
功能：精密測量金屬電鍍層的厚度。
應用范圍：測量鍍層,塗層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。
『叄』 什麼是XRF元素分析儀
XRF元素分析儀是指同時或單獨實現樣品中幾種元素的分析的儀器。我最近一直在用奧林巴斯的XRF元素分析儀，我覺得相較其他產品，它可以進行快速、准確的元素分析，使用范圍廣，如礦業和汽車催化劑的回收、以及一些消費品的安全篩查⌄在礦業領域中，可以在現場立即進行元素分析，完成選礦和環境治理工作；在汽車催化劑的回收過程中，識別金、鉑金、銀、銠等元素；在消費品的安全篩查中，進行化學元素分析，以快速查出鉛（Pb）、鎘（Cd）、汞（Hg）、鉻（Cr）和溴（Br）等有毒元素。所以XRF元素分析儀可以應用的地方比較多，是個不錯的元素分析設備。
『肆』 xrf測試是測試什麼的
XRF指的是X射線熒光光譜儀,可以快速同時對多元素進行測定的儀器。
當一束高能粒子與原子相互作用時，如果其能量大於或等於原子某一軌道電子的結合能，將該軌道電子逐出，對應沒嫌的形成一個空穴，使原子處於激發狀態。當較外層的悉察稿電子躍遷(符合量子力學理論)至內層空穴所釋放的能量以輻射的形式放出，便產生了X熒光。X熒光的能量與入射的能量無關，它只等於原子兩能級之間睜孝的能量差。由於能量差完全由該元素原子的殼層電子能級決定，故稱之為該元素的特徵X射線，也稱熒光X射線或X熒光。
『伍』 精密儀器之X射線熒光光譜儀
簡介：
X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。
使用型態：
XRF用X光或其他激發源照射待分析樣品，樣品中的元素碰慶雹之內層電子被擊出後，造成核笑帆外電子的躍遷，在被激發的電子返回基態的時候，會放射出特徵X光；不同的元素會放射出各自的特徵X光，具有不同的能量或波長特性。檢測器(Detector)接受這些X光，儀器軟體系統將其轉為對應的信號。這一現象廣泛用於元素分析和化學分析，特別是在研究金屬，玻璃，陶瓷和建築材料，以及在地球化學研究、法醫學、電子產品進料品管（EURoHS）和考古學等領域，在某種程度上與原子吸收光譜儀互補，減少工廠附設的品管實驗室之分析人力投入。
X射線熒光的物理原理：
當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露於輻射與能源大於它的電離勢，足以驅逐差伏內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會「回補」進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在「回補」的過程會釋出多餘的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質放射出的輻射，這是原子的能量特性。
X射線熒光光譜法在化學分析：
主要使用X射線束激發熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在，該方法作為非破壞性分析技術，並作為過程式控制制的工具，廣泛應用於採掘和加工工業。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由於儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。
『陸』 xrf是什麼儀器
XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光(X-Ray Fluorescence)，而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一台典型的X射線熒光(XRF)儀器由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線)，激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然後，儀器軟體將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。X射線照在物質上而產生的次級 X射線被稱為X射線熒光。利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中鈹以後的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為9號元素 (F)到92號元素(U)。
『柒』 XRF手持式光譜分析儀能測什麼
首先你得知道XRF手持式光譜分析儀的原理主要還是運用了一個X射線熒光光譜技術進行分析的，它目前有兩個方向的應用，一個是科學研究，另一個是工業檢測。在工業檢測方面，XRF手持式光譜分析儀主埋跡要是依靠X射線熒光技術模槐對金屬元素及其含量佔比彎碼並進行鑒別和檢測的。這方面比較好的品牌有一個是奧林巴斯，奧林巴斯XRF手持式光譜分析儀產品在檢測金屬元素及其含量佔比方面的性能都非常的不錯。
『捌』 XRF基準是什麼意思
XRF表旅鏈皮示X-ray Fluorescence Spectrometer X線分析儀器，就是關喚遲於這個儀器測試的基準數據。根據ROHs設定各自廠拆差家的實際基準，大多與ROHs同步。
『玖』 XRF\ICP是什麼意思
XRF是X射線熒光，ICP是指電感耦合等離子，一般用於代稱X熒光光譜儀和電感耦合等離子耦合光譜儀。