secm是什麼儀器

Ⅰ 什麼是差分脈沖伏安法(DPV)

差分脈沖伏安法（DPV）是一種電化學測量手段，是線性掃描伏安法和階梯掃描伏安法的衍生方法，即在其基礎之上添加一定的電壓脈沖。在電勢改變之前測量電流，通過這種方式來減小充電電流的影響。

Ⅱ 什麼是差分脈沖伏安法

差分脈沖伏安法

簡介：

一種電化學測量手段，是線性掃描伏安法和階梯掃描伏安法的衍生方法，即在其基礎之上添加一定的電壓脈沖。在電勢改變之前測量電流，通過這種方式來減小充電電流的影響。

原理：

有圖1可見，差分脈沖伏安法的電勢波形可看做是線性增加的電壓與恆定振幅的矩形脈沖的疊加。脈沖波形，脈沖高度是固定的，典型值為50/n mV。脈沖寬度比其周期要短得多，一般取40-80ms。在對體系施加脈沖前20ms和脈沖期後20ms測量電流，圖2即為在一個周期中兩次測量示意圖。將這兩次電流相減，並輸出這個周期中的電解電流Δi。這也是差分脈沖伏安法命名的原因。隨著電勢增加，連續測得多個周期的電解電流Δi，並用Δi對電勢E作圖，即得差分脈沖曲線，如圖3.

在差分脈沖曲線的初始部分，電勢較正，電極反應尚未發生，只有雙電層充電電流ic，差減信號為ic；在脈沖伏安曲線的最後部分，由於反應物被消耗，電勢進入極限擴散區，在脈沖施加前後法拉第電流均為極限擴散電流，因脈沖寬度很短，兩個暫態極限電流非常接近，因此，差減信號也很小。而在中間電勢區，反應物表面濃度Cs尚未下降至零，施加脈沖後，Cs降到更低值，法拉第電流更大，差減信號明顯。因此，差分脈沖伏安曲線為一個峰形曲線，如圖3所示。

在脈沖施加前20ms，只有電容流量ic；在脈沖期後20ms，所測電流為電解電流和電容電流的和，兩次電流相減得到的Δi，因此減小了背景電流中電容電流的干擾。不僅如此，在DPV中，由於電流差減的緣故，因雜質的氧化還原電流導致的背景也被大大扣除了。

總之，DPV由於降低了背景電流而具有更高的檢測靈敏度和更低的檢出限，使其能夠應用於濃度低至約10mol/L（1ug/L）的場合。圖4是差分脈沖伏安法的檢測能力與直流極譜法的對比。

詳細資料見網路鏈接：http://ke..com/item/差分脈沖伏安法?fr=aladdin#reference-[1]-16780285-wrap

Ⅲ 家用投影的選擇

投影作為顯示設備是可以取代電視的。
投影和電視的使用從同等價格來說各有優劣勢，我是做投影機的，我就說說投影吧，常見的投影分為DLP、LCD等，也分為所謂的商務、教育、家用機。以我個人的理解，商務機的特點是便攜，教育機的特點是散熱、防塵效果好，家用機的特點是帶高清。
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整體講來，投影機內部的發光器件-燈泡壽命為2000-4000個小時。如果保養得好，在這個時間段內，燈泡不會壞，只是亮度會變得比新機器暗。你可以算一下你的使用時間。
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最後多一兩句嘴，買投影一定要到正規商家買牌子貨，不然兄弟會後悔的。祝購物愉快。

Ⅳ 電化學分析儀器的目錄

第1章 引論1
1.1 電化學分析技術1
1.2 電化學以及電化學分析技術的發展2
1.2.1 電化學發展簡介2
1.2.2 電化學分析技術的發展歷史5
1.3 電化學分析儀器分類6
1.3.1 分析儀器分類及其特徵7
1.3.2 電化學分析儀器分類8
1.4 電化學分析儀器的發展趨勢9
參考文獻11
第2章 電化學測量基礎12
2.1 電化學基礎概念12
2.1.1 氧化還原與電化學反應12
2.1.2 法拉第過程和非法拉第過程13
2.1.3 電化學池14
2.1.4 電解質溶液16
2.1.5 極化19
2.1.6 鹽橋21
2.1.7 界面雙電層22
2.1.8 電極分類23
2.2 電化學分析基礎25
2.2.1 電極過程動力學簡介25
2.2.2 電極過程的速度控制步驟26
2.2.3 電極反應與電極反應速率27
2.2.4 交換電流30
2.2.5 電流-超電勢方程31
2.2.6 電極反應的可逆性33
2.2.7 電極體系中的傳質過程33
2.3 電化學測量基礎36
2.3.1 電化學測量的原理36
2.3.2 電化學測量中的電極反應體系的組成和結構37
2.3.3 相對電極電勢及其測量38
2.3.4 電流的測量44
2.3.5 穩態測量與暫態測量44
參考文獻46
第3章 電化學分析儀器技術48
3.1 控制電勢階躍技術48
3.1.1 常用的階躍電勢波形48
3.1.2 控制電勢階躍的電流-電勢特徵49
3.1.3 擴散控制下的電勢階躍49
3.1.4 計時電流法與計時庫侖法51
3.1.5 雙電勢階躍51
3.1.6 恆電勢法應用53
3.2 控制電流技術56
3.2.1 控制電流階躍過程的特點56
3.2.2 常見的階躍電流波形57
3.2.3 控制電流階躍的一般理論58
3.2.4 控制電流階躍的電勢-時間曲線特徵60
3.2.5 控制電流技術的應用61
3.3 脈沖技術65
3.3.1 原理65
3.3.2 常見的脈沖波形66
3.3.3 庫侖脈沖法67
3.3.4 脈沖伏安法67
3.3.5 脈沖伏安法的應用71
3.4 線性電勢掃描技術71
3.4.1 線性電勢掃描過程中響應電流的特點72
3.4.2 線性電勢掃描伏安法73
3.4.3 循環伏安法78
3.4.4 薄層伏安法81
3.4.5 線性電勢掃描技術的應用82
3.5 交流阻抗技術84
3.5.1 交流電路的基本性質85
3.5.2 法拉第阻抗88
3.5.3 由法拉第阻抗求動力學參數90
3.5.4 交流阻抗的測量技術91
3.5.5 交流電化學阻抗譜93
3.5.6 交流伏安法94
3.6 光譜電化學技術97
3.6.1 現場光譜技術98
3.6.2 非現場光譜技術107
3.6.3 現場顯微技術110
3.6.4 其他現場技術110
參考文獻112
第4章 電化學分析儀器原理115
4.1 基本工作原理115
4.1.1 運算放大器115
4.1.2 電流反饋117
4.1.3 電壓反饋119
4.1.4 恆電勢儀120
4.1.5 恆電流儀123
4.2 電勢法分析儀器124
4.2.1 基本原理125
4.2.2 儀器組成127
4.2.3 離子選擇性電極128
4.2.4 常見的電位法分析儀器及使用129
4.3 電導法分析儀器139
4.3.1 基本原理139
4.3.2 儀器組成141
4.3.3 電磁濃度計工作原理142
4.3.4 常見的電導法分析儀器介紹143
4.4 電量式分析儀器147
4.4.1 基本原理148
4.4.2 控制電勢庫侖分析法148
4.4.3 恆電流庫侖分析法151
4.4.4 微庫侖分析法153
4.4.5 常見的電量法分析儀器介紹156
參考文獻161
第5章 電化學分析數據處理和模擬163
5.1 拉普拉斯變換（Laplace）技術163
5.1.1 電化學問題中的偏微分方程163
5.1.2 拉普拉斯變換定義164
5.1.3 Laplace的基本性質和定理165
5.1.4 單位階躍函數及其Laplace變換166
5.1.5 微分方程的解法166
5.2 泰勒(Taylor)展開式167
5.2.1 多變數函數的展開168
5.2.2 單變數函數的展開168
5.3 傅里葉分析168
5.3.1 傅里葉級數168
5.3.2 傅里葉變換169
5.3.3 Fourier平滑、Fourier插值及Fourier卷積和自去卷積169
5.3.4 Fourier分析應用170
5.4 小波分析171
5.4.1 小波的定義172
5.4.2 用小波實現多分辨分析172
5.4.3 小波變換173
5.4.4 小波分析在電分析化學中的應用174
5.5 電化學數值模擬176
參考文獻181
第6章 電化學掃描探針顯微技術183
6.1 掃描隧道顯微鏡184
6.1.1 掃描隧道顯微鏡的原理184
6.1.2 掃描隧道顯微鏡的兩種模式184
6.1.3 掃描隧道顯微鏡儀器及特點185
6.2 電化學掃描隧道顯微鏡186
6.2.1 電化學SIM的工作環境及隧道理論186
6.2.2 ECSTM裝置188
6.2.3 針尖189
6.2.4 ECSTM應用190
6.3 原子力顯微鏡191
6.3.1 AFM的基本原理192
6.3.2 AFM的工作模式193
6.3.3 電化學原子力顯微鏡(ECAFM)193
6.3.4 ECAFM的應用194
6.3.5 ECAFM的展望196
6.4 掃描電化學顯微鏡196
6.4.1 SECM的裝置196
6.4.2 SECM的原理197
6.4.3 SECM的定量分析理論199
6.4.4 SECM的應用200
6.4.5 SECM的展望203
參考文獻203
第7章 電化學感測器205
7.1 電化學生物感測器205
7.1.1 電化學生物感測器概述205
7.1.2 電化學生物感測器的基本組成207
7.1.3 電化學生物感測器信號轉化器207
7.1.4 電化學生物感測器的分類207
7.1.5 電化學生物感測器進展211
7.1.6 電化學生物感測器的應用213
7.2 電化學氣體感測器213
7.2.1 電化學氣體感測器的基本組成213
7.2.2 電化學氣體感測器的分類214
7.2.3 電化學氣體感測器應用218
參考文獻219
第8章 常見的電化學綜合測試系統220
8.1 電化學綜合測試系統概述220
8.2 CHI系列電化學工作站221
8.2.1 CHI電化學工作站原理221
8.2.2 CHI電化學工作站功能222
8.3 Princeton公司電化學綜合測試系統225
8.3.1 PAR電化學儀器225
8.3.2 VersaSTAT227
8.4 部分國內外電化學綜合測試系統介紹229
8.4.1 蘭力科公司電化學綜合測試系統229
8.4.2 韋斯儀器公司電化學綜合測試系統230
8.4.3 科斯特公司CS系列電化學綜合測試系統231
8.4.4 Solartron(輸力強)綜合電化學測試儀233
參考文獻233
第9章 電化學分析儀器的新發展235
9.1 電化學分析儀器的自動化與智能化235
9.2 各種聯用技術在電化學分析儀器設計中的應用236
9.2.1 流動注射-電化學檢測聯用技術236
9.2.2 液相色譜-電化學檢測238
9.2.3 毛細管電泳-電化學檢測243
9.3 電化學分析儀器的現場/原位技術研發244
9.4 單分子分析中的電分析方法和儀器設計245
9.5 未來電分析化學儀器設計研發的方向和未來電化學分析的使命246
參考文獻247

Ⅳ 掃描隧道顯微鏡怎樣操縱原子

用STM進行單原子操縱主要包括三個部分，即單原子的移動，提取和放置。使用STM進行單原子操縱的較為普遍的方法是在STM針尖和樣品表面之間施加一適當幅值和寬度的電壓脈沖，一般為數伏電壓和數十毫秒寬度。由於針尖和樣品表面之間的距離非常接近，僅為0.3－1.0nm。因此在電壓脈沖的作用下，將會在針尖和樣品之間產主一個強度在 109～1010V／m數量級的強大電場。這樣，表面上的吸附原子將會在強電場的蒸發下被移動或提取，並在表面上留下原子空穴，實現單原子的移動和提取操縱。同樣，吸附在STM針尖上的原子也有可能在強電場的蒸發下而沉積到樣品的表面上，實現單原子的放置操縱。
近代以來，由於人們的觀察視野已經延伸到了納米領域，而光束在成像時總會受到有限大小的有效光闌的限制，所以此時光的衍射作用就不容忽略了。對於顯微鏡來說，其發光物一般距物像很近，這時應考慮菲涅爾衍射，物點成像後在像面上應成為一菲涅爾圓斑，不過通常情況下，我們可以用夫琅禾費圓斑進行近似替代。那麼光學顯微鏡的解析度最佳只能達到阿貝極限：0.2μm。即便如德國科學家施特芬·黑爾等科學家製作出的藉助脈沖激光突破阿貝極限的光學顯微鏡，解析度也僅停留在20nm，依然難以滿足人們進軍微觀領域的需要。而且此顯微鏡價格高昂，在80萬歐元左右。事實上，當年白春禮教授僅僅藉助從國外帶來的幾個重要零件並加以組裝就得到了STM。一台普通的STM價格都在10萬RMB以下。因此我們需要尋找更經濟且性能更好的顯微鏡來替代光學顯微鏡。
在這種情況下，掃描探針、光導鑷子、高解析度電鏡就應運而生。其中，運用探針進行進場操作的掃描探針顯微技術無疑引起了人們最為廣泛的關注。
掃描探針顯微術SPM
掃描探針顯微技術主要是利用頂端約1-10Å的探針來3D解析固體表面納米尺度上的局部性質。掃描探針顯微鏡SPMs就是一系列的基於掃描探針顯微術而發展起來的顯微鏡，它包括STM、AFM、LFM、MFM等等。其中STM和AFM的發明使得各種掃描探針顯微技術有了長足的發展，下面我們先來看一下迄今為止衍生出來的主要的掃描探針分析儀：
電子結構：掃描隧道電流鏡STS
STS用來在低溫情況下測定電子結構；
光學性質：近場掃描光學顯微鏡NSOM
NSOM打破了衍射限制，允許光進入亞微米波長范圍（50-100nm），用於彈性和非彈性的光學掃描測定，也可以用於光刻技術；
溫度：熱掃描顯微鏡STHM
STHM用溫度感測器繪制出電子/光電子納米器件的溫度場，測定納米結構的熱物理性質；
介電常數：掃描電容顯微鏡SCM
SCM主要應用在半導體上。由於半導體電容依賴於載流子的濃度，因此研究者可以用SCM繪制出摻雜劑在半導體中的分布圖。它優越之處在於納米尺度上的立體分辨能力；
磁性：磁力共振顯微鏡MFM
MFM可以給磁域成像作為磁存儲介質的綜合性表徵，MFM測定核與電子的自旋共振並具有亞微米級的解析力，這可能使它成為化學分析的基礎；
電荷傳遞和亥姆霍茲層：掃描電化學SECM
生物分子折疊/識別：納米機械顯微鏡
以前只能停留在總體的平均測定，現在可以更深入的測定生物系統的分子現象。
掃描隧道顯微鏡STM
不過，以上各種儀器只是對STM和AFM的補充和發展。其中STM作為「主角」，意義尤為重大，被國際科學界公認為20世紀80年代世界十大科技成就之一。甚至有人將STM的發明的當年作為納米科技元年。那麼我們不妨具體看一下STM和AFM。
掃描隧道顯微鏡（scanning tunneling microscope）STM，也稱作掃描穿隧式顯微鏡、隧道掃描顯微鏡。第一台STM誕生於瑞士的蘇黎世研究所。STM可以讓科學家觀察和定位單個原子，它具有AFM更高的解析度。STM平行方向的解析度為0.04nm，垂直方向的解析度達到0.01nm。此外STM在低溫（4K）可以利用探針尖端精確操縱原子。因此STM不僅僅是探測工具，更是加工工具。
如圖所示，STM主要構成有：頂部直徑約為50-100nm的極細金屬針尖（通常是金屬鎢），用於三維掃描的三個相互垂直的壓電陶瓷（Px、Py、Pz），以及用於掃描和電流反饋的控制器。
STM的基本原理是量子的隧道效應。它利用金屬針尖在樣品的表面上進行掃描，並根據量子隧道效應來獲得樣品表面的圖像。通常STM的針尖與樣品的距離非常接近（大約為0.5-1.0nm），所以它們之間的電子雲互相重疊。當在它們之間施加一偏值電壓V（通常為2mV-2V）時，電子就可以因量子隧道效應實現針尖與樣品之間的轉移，從而在針尖與樣品表面之間形成隧道電流。
其中,K是常數，在真空條件下約等於1，φ為針尖與樣品的平均功函數，s為針尖和樣品表面之間的距離，一般為0.3-1.0nm。
由於隧道電流I與針尖和樣品表面之間的距離s成指數關系，所以，電流I對s的變化非常敏感。一般來說，如果s減小0.1nm，隧道電流I就會減小10倍。
既然STM是靠隧道電流I和距離s進行工作的，那麼自然，STM有兩種工作模式：恆電流工作模式和恆高度工作模式。恆電流模式就是在STM圖像掃描時始終保持隧道電流恆定，它可以利用反饋迴路控制針尖和樣品之間距離的不斷變化來實現。當壓電陶瓷Px、Py控制針尖在樣品表面上掃描時，從反饋迴路中取出針尖在樣品表面掃描過程中他們之間距離變化的信息（該信息用來反映樣品表面的起伏），就可以得到樣品表面的原子圖像。由於恆電流模式時，STM的針尖是隨著樣品表面形貌的起伏而上下移動，針尖不會因為表面形貌起伏太大而碰撞到樣品的表面，所以恆電流模式可以用於觀察表面形貌起伏較大的樣品。恆電流模式也是一種最常用的掃描模式。
恆高度模式則是始終控制針尖的高度不變，並取出掃描過程中針尖和樣品之間電流變化的信息（該信息也反映樣品表面的起伏），來繪制樣品表面的原子圖像。由於在恆高度模式的掃描過程中，針尖的高度恆定不變，當表面形貌起伏較大時，針尖就很容易碰撞到樣品。所以恆高度模式只能用於觀察表面形貌起伏不大的樣品。
掃描隧道顯微鏡具有以下顯著的特點：一是STM可以直接觀測到材料表面的單個原子和原子在表面上的三維結構圖像；二是STM在觀測材料表面原子結構的同時得到材料表面的掃描隧道譜STS，從而可以研究材料表面的化學結構和電子狀態。
此外，上面我們提到過STM不僅僅是探測工具，更是加工工具。也就是說，STM的針尖不僅可以成像，還可以用於操縱表面上的原子或分子。
用STM進行單原子操縱主要包括三個部分，即單原子的移動，提取和放置。使用STM進行單原子操縱的較為普遍的方法是在STM針尖和樣品表面之間施加一適當幅值和寬度的電壓脈沖，一般為數伏電壓和數十毫秒寬度。由於針尖和樣品表面之間的距離非常接近，僅為0.3－1.0nm。因此在電壓脈沖的作用下，將會在針尖和樣品之間產主一個強度在 109～1010V／m數量級的強大電場。這樣，表面上的吸附原子將會在強電場的蒸發下被移動或提取，並在表面上留下原子空穴，實現單原子的移動和提取操縱。同樣，吸附在STM針尖上的原子也有可能在強電場的蒸發下而沉積到樣品的表面上，實現單原子的放置操縱。
STM的優越性還體現在STM實驗還可以在多種環境中進行：大氣、惰性氣體、超高真空或液體。工作溫度可以從絕對零度附近到上千攝氏度。這些都是以前任何一種顯微技術都不能同時做到的。
不過在每一種顯微電鏡中，基礎物理學都限制了其測定的范圍。STM基於電子隧道，它的成像就受到隧道物理學或入射低能電子影響的弛豫過程限制。而且，STM所觀察的樣品一定要有一定程度的導電性，否則效果會很差。
原子力顯微鏡AFM
相比之下，AFM具有更廣泛的功能范圍，可以響應探針與基質之間更多的力，如磁力、庫倫力、色散力、摩擦力和核斥力等，也不會受到材料到點性質的影響。
在AFM中，使用對微弱力非常敏感的彈性懸臂上的針尖對樣品表面作光柵式掃描。當針尖和樣品表面的距離非常接近時，針尖尖端的原子與樣品表面的原子之間存在極微弱的作用力，微懸臂就會發生微小的彈性形變。針尖與樣品之間的力F與微懸臂的形變之間遵循胡克定律：F=-k*x。其中，k為微懸臂的力常數。所以，只要測出微懸臂形變數的大小，就可以獲得針尖與樣品之間作用力的大小。針尖與樣品之間的作用力與距離有強烈的依賴關系，所以在掃描過程中利用反饋迴路保持針尖與樣品之間的作用力恆定，即保持為懸臂的形變數不變，針尖就會隨樣品表面的起伏上下移動，記錄針尖上下運動的軌跡即可得到樣品表面形貌的信息。這種工作模式被稱為「恆力」模式，是使用最廣泛的掃描方式。
AFM的圖像也可以使用「恆高」模式來獲得，也就是在X，Y掃描過程中，不使用反饋迴路，保持針尖與樣品之間的距離恆定，通過測量微懸臂Z方向的形變數來成像。這種方式不使用反饋迴路，可以採用更高的掃描速度，通常在觀察原子、分子像時用得比較多，而對於表面起伏比較大的樣品不適用。
微觀形貌檢測技術
當然，任何一種發明都不是憑空產生的，都是在前人工作的基礎上的改進。SPMs也不例外。在STM之前，就有幾種微觀形貌檢測技術了，只不過它們的性能沒有這么優越。
光學顯微鏡
投射電子顯微鏡TEM
TEM和光學顯微鏡的原理極為相似，只是用波長極短的電子束代替了可見光現，用靜電或磁透鏡代替光學玻璃透鏡，最後在熒光屏上成像。TEM的放大倍數極高，點解析度可達0.3nm，線解析度可達0.144nm，已達原子級解析度。用TEM觀察物體內部顯微結構時，可看到原子排列的晶格圖像，並已觀察到某些重金屬原子的投影圖像。只是用TEM檢測時，試件需在真空室內。
TEM是通過電子束投過試件而放大成像的，電子束在材料中的衰減系數極大，故試件必須加工的很薄，因此限制了TEM的使用范圍。
表面輪廓儀
表面輪廓儀是用探針對試件表面形貌進行接觸測量，這與SPM的工作原理極為相似，只是後者使用了更尖銳的探針和靈敏的探針位移檢測方法。
掃描電子顯微鏡SEM
SEM利用高能量、細聚焦的電子束在試件表面掃描，激發二次放電，利用二次放電信息對試件表面的組織或形貌進行檢測、分析和成像的一種電子光學儀器。SEM的放大倍率在10—150000之間且連續可調，試件在真空室內還可按需要進行升降、平移、旋轉或傾斜。
SEM在普通熱鎢絲電子槍條件下，解析度為5-6nm，如果用場發射電子槍,解析度可達2-3nm，不過解析度還沒有達到原子級別。
場發射形貌描繪儀
場發射原理在1956年由R.young提出，但直到1971年R.young和J.Ward才提出了應用場發射原理的形貌描繪儀。它在基本原理和操作上，是最接近STM的儀器。探針尖裝在頂塊上，可由X向和Y向壓電陶瓷驅動，做X向和Y向掃描運動。試件裝在下面的Z向壓電陶瓷元件上，由反饋電路控制，保持針尖和試件間的距離。R.young使用的針尖曲率半徑為幾十納米，針尖和試件間的距離為100nm。在試件上加正高壓後，針尖與試件間產生場發射電流。探針在試件表面掃描，可根據場發射電流的大小，檢測出試件表面的形貌。R.young用形貌描繪儀繼續進行研究，發現當探針尖與試件間距離很近時，較小的外加偏壓V即可產生隧道電流，並且隧道電流I對距離s極為敏感。他們觀察到的I和V為線性關系，後人估計針尖與試件間的距離為1.2nm。可惜他們的研究到此為止，未在檢測試件形貌時利用隧道電流效應，因而與STM的發明失之交臂。假如他能及時想到縮小針尖與試件表面間的距離，那麼STM公布發表時的發明人名字就是R.Young了。可惜他沒有意識到這一點，更沒有去縮短那一點的該死的微小距離。

附：TEM與SEM的比較
比較項目 顯微鏡類型 TEM SEM
鏡身長度 長，要能讓電子加速 短，只需要保證與樣品間的距離
解析度 高，能達到原子級別 低，停留在納米級別
投影圖像 平面圖形，無立體感 有極強的立體感
圖像背景 背景亮，試樣處暗 背景暗，試樣處亮
工作原理 與光學顯微鏡類似 利用光電效應產生的電子獲得立體圖像
收集器位置 在鏡身底部 在鏡身上部
適用范圍 5-500nm的薄片 可以比較厚
能否區分晶體 能，可看到晶格圖像 不包含結構信息，無法區分單晶多晶非晶
能否收集到樣品內部信息 可收集到樣品內部信息 只能收集到樣品表層信息
能否動態觀察 不能，樣品固定 樣品位置可以調節，可進行動態觀察
能否連續觀察 開始工作後倍率相對固定 開始工作後可進行從低倍到高倍的連續觀察

Ⅵ 彩色電視機的三大制是什麼

彩色電視廣播依據三基色原理用R(紅)、G(綠)、B(藍)三基色以一定比例混合出各種色彩。在亮度信號Y傳送的同時，只須再傳送兩個彩色信號，第三個彩色信號可由相關電路得出。在目前的彩色電視廣播中傳送兩個彩色電視信號為B-Y、R-Y兩色差信號。這兩個色差信號調制到彩色副載波上，再加入到亮度信號中形成彩色全電視信號。經過七十多年的實際應用檢驗，由於兩色差信號的調制和傳輸方式不同，在民用電視領域，常用的只有NTSC、PAL、SECAM三大制式。
1.NTSC制 即正交平衡調幅制，又稱N制，是美國於1953年研製成功的。NTSC制的優點是:電路簡單，設備成本低。缺點是兩色差信號傳輸過程中的串擾和在接收端色差信號分離不徹底，容易出現顏色失真、串色。現在的錄像機、激光影碟機很多都是NTSC制式。採用這種制式的國家和地區有:美國、日本、加拿大、墨西哥、菲律賓和我國的台灣省等。
2.PAL制 即逐行倒相正交平衡調幅制。PAL制是1962年由西德研製成功並正式使用。為了克服NTSC制的串色問題，PAL制兩個色差信號中的一個由PAL開關控制每行倒相一次，在接收端採用梳狀濾波器可實現兩色差信號的良好分離，大大減小了串色問題。其缺點是增加了設備的復雜性。現在採用PAL制的國家主要有德國、英國、荷蘭、紐西蘭、澳大利亞、比利時、南斯拉夫、泰國和中國等。
3.SECAM制 即順序傳送彩色與存儲復用制。SECAM制是1956年法國工程師亨利.弗朗斯提出的。SECAM制傳輸每一行彩色信號時，只傳送一個色差信號;在傳送下一行信號時再傳送另一個色差信號，而把上一行傳送的那個色差信號存儲下來供本行使用，因兩行圖像信號間的差別不太大。SECAM制使傳輸彩色信號每一時刻都只有一個色差信號，不存在互擾和分離的問題，從而徹底克服了串色問題，其圖像質量受傳輸通道失真的影響最小。其缺點是不能實現亮度信號和色度信號的頻譜交錯，故副載波光點干擾可見度較大，兼容性不如NTSC制和PAL制，同時亮度對色度串擾也大。採用這種制式的國家和地區主要有前蘇聯地區、東歐各國、法國等。
三種制式各有優缺點，從理論上講，SECAM制的圖像質量最好，NTSC制最差。但隨著電視技術的發展和新元器件的開發應用，電視機性能已大大提高，從而使圖像質量得到改善。目前主觀評價結果表明，三種制式圖像質量差別不大。因此，這三種制式將會長期共同存在和不斷地發展。
彩色電視制式雖然只有PAL、NTSC、SECAM這三大制式，而以它們為基礎，由於場頻、彩色調制頻率和伴音調制頻率的變化，可派生出28種電視制式，如附表所示。各種制式參數的變化范圍是:場頻為50/60Hz(掃描行數525/625);彩色調制頻率為4.43/3.58MHz;伴音調制頻率為4.5/5.5/6.0/6.5MHz。例如，我國採用的PAL-D/K制的場頻為50Hz，彩色調制頻率為4.43MHz，伴音調制頻率為6.5MHz。

Ⅶ 什麼被稱作企業的「運營」，什麼叫「運營管理」，請詳細解釋。

什麼是運營管理？對任何組織機構的運營資源進行有效的戰略管理，可以釋放出巨大的能量。實際上，運營管理越來越被視為這樣一個領域：在這個領域中，必須對市場的動態需求及組織資源能力的開發進行協調。現在，企業的運營管理簡單來說就是企業家運用電子商務（EC）、企業資源計劃（ERP）、客戶關系管理（CRM）、供應鏈管理（SCM）、銷售鏈管理（SeCM）和分銷資源計劃（DRP）等六大熱門信息系統，去進行著名管理學家波特所定義的企業「創造價值」活動。在波特的「價值鏈」概念中，企業開展的每一個活動都可以進行分析，尋找它們之間的相互影響。他解釋道：「對這些在戰略上具有重要意義的活動，如果一家企業能夠比它的競爭對手付出更低的成本或者做得更加優秀，那麼，它就可以獲得競爭優勢。」根據我在美、中兩國20多年企業信息化和信息經濟的研究心得和實踐，我領導創億科技建立的泉州紡織服裝ASP公共平台不僅將EC、ERP、CRM、SCM、SeCM和DRP整合在一個名為EIPSP/GIP的大信息平台內，還在《大信息平台CIP》（Comprehensive information platform）論文中正式指出：「任何規模的企業單位、學校、政府部門、軍隊，產業鏈以至產業集群，自然界的各種有生命的大小集合體，構成它們的任何信息都應該而且可以組合在一個一體化的大信息平台CIP內，這些信息及其鏈接是支撐和控制其物理實體和行動的最關鍵的網路和靈魂。運用這個思想去指導企業信息化建設，企業的信息流、資金流、物流在CIP范圍內將處於一種實時、高級有序而又相互關聯的狀態。充分利用平台的信息有希望達到資源利用的最優化和利潤效益的最大化。」
業務流程重組：繼波特之後的運營管理理論發展是業務流程重組BPR（Business Process Reengineering），邁克•哈姆和詹姆斯•查姆匹（Mike Hammer & James Champy）的著作《企業再造》（Re-engineering the Corporation，1993）告誡企業管理者：應該把注意力放在流程上而不是管理職能上。很多公司因此對自己的業務流程進行全面系統的重組。要著重指出，企業運營管理的信息化步驟必須發生在業務流程重組之後而不是之前，因為有了正確的BPR才能使為運營管理服務的大信息平台（CIP）被合理和有序地建設和執行。
價值鏈分析和業務流程再造概念對組織企業的自我評價還衍生了運營管理實踐中的其他發展方向，即把精力集中在企業最適合或者「最擅長管理」的「核心」業務上，相應地，對那些對業務並不起核心作用的活動，企業外包出去或者「外部尋源（外購）」。經過運營管理實踐的上述關鍵階段，企業基本上已懂得應向外購什麼、如何外購以及在外購活動同IT（信息技術）有聯系時如何不斷改善對外購活動本身的管理。
項目管理：運營管理理論得以在各行業蓬勃發展還有賴於項目管理概念的發明和推廣。項目管理通常被認為是第二次世界大戰的產物（如美國研製原子彈的曼哈頓計劃），在四五十年代主要應用於國防和軍工項目。近代項目管理學科起源於50年代，在美國出現了CPM和PERT技術。項目管理專家通常把項目管理劃分為80年代之前的傳統項目管理階段和80年代之後的現代項目管理階段。六十年代，項目管理的應用范圍也還只局限於建築、國防和航天等少數領域，如美國的阿波羅登月項目。因在阿波羅登月計劃中取得巨大成功，由此風靡全球。國際上逐漸形成了兩大項目管理的研究體系，即：以歐洲為首的體系--國際項目管理協會（IPMA），以美國為首的體系--美國項目管理協會（PMI），在過去的30多年中，兩個體系都做了卓有成效的工作，為推動國際項目管理現代化發揮了積極的作用。60年代初華羅庚教授將這種技術在中國普及推廣，稱作統籌方法，現在通常又稱之為網路計劃技術。
進入九十年代以後，隨著信息時代的來臨和高新技術產業的飛速發展，項目的特點也發生了巨大變化，管理人員發現許多在製造業經濟下建立的管理方法，到了信息經濟時代已經不再適用。製造業經濟環境下，強調的是預測能力和重復性活動，管理的重點很大程度上在於製造過程的合理性和標准化。而在信息經濟環境里，事務的獨特性取代了重復性過程，信息本身也是動態的、不斷變化的。靈活性成了新秩序的代名詞。他們很快發現實行項目管理恰恰是實現靈活性的關鍵手段。他們還發現項目管理在運作方式上最大限度地利用了內外資源，從根本上改善了中層管理人員的工作效率。美國項目管理學會在《項目管理知識指南》中是這樣定義項目管理的："項目管理就是指把各種系統、方法和人員結合在一起，在規定的時間、預算和質量目標范圍內完成項目的各項工作，有效的項目管理是指在規定用來實現具體目標和指標的時間內，對組織機構資源進行計劃、引導和控制工作。"
全面質量管理：運營管理理論的另一重要分支是其全面質量管理方法6σ（讀為：6西格碼）。西格碼原文為希臘字母sigma，其含義為「標准偏差」，6西格碼意為「6倍標准差」，在質量上表示每百萬壞品率(parts permillion，簡稱PPM)少於3.4。六西格碼(6sigma)模式是一種全新的質量管理模式，對企業戰略目標、執行系統、經營業績、企業文化建設層面都有著重要的改造作用。6σ質量計劃源於美國摩托羅拉公司於80年代首創的一種質量管理方法，其目的在於通過減少和消除缺陷來提高顧客的滿意程度。多年來，6σ已漸漸被許多企業巨頭所接受，如得克薩斯儀器公司、ABB公司、聯合信號公司和通用電器公司等等。6σ質量計劃的主要包括四部分：工序改進、質量測量、質量創新和改進工具。其中，工序改進和質量測量是6σ質量計劃的基礎