電子ict檢測儀器有哪些

A. 電子測試技術有哪些

一、測試技術的分類介紹
根據測試方式的不同，測試技術可分為非接觸式測試和接觸式測試。非接觸式測試已從人工目測發展到自動光學檢查（AutomaticOpticslnspector,簡稱AOI）、自動射線檢測（AutomaticX-raylnspector,簡稱AXI），而接觸式測試則可分為在線測試和功能測試兩大類。本文將對各類測試技術及未來發展趨勢作一初步探討。
二、幾種測試技術介紹
1、在線測試儀ICT
電氣測試使用的最基本儀器是在線測試儀（ICT），傳統的在線測試儀測量時使用專門的針床與已焊接好的線路板上的元器件接觸，並用數百毫伏電壓和10毫安以內電流進行分立隔離測試，從而地測出所裝電阻、電感、電容、二極體、三極體、可控硅、場效應管、集成塊等通用和特殊元器件的漏裝、錯裝、參數值偏差、焊點連焊、線路板開短路等故障，並將故障是哪個元件或開短路位於哪個點准確告訴用戶。針床式在線測試儀優點是測試速度快，適合於單一品種民用型家電線路板及大規模生產的測試，而且主機價格較便宜。但是隨著線路板組裝密度的提高，特別是細間距SMT組裝以及新產品開發生產周期越來越短，線路板品種越來越多，針床式在線測試儀存在一些難以克服的問題：測試用針床夾具的製作、調試周期長、價格貴；對於一些高密度SMT線路板由於測試問題無法進行測試。
基本的ICT近年來隨著克服先進技術技術局限的技術而改善。例如，當集成電路變得太大以至於 不可能為相當的電路覆蓋率提供探測目標時，ASIC工程師開發了邊界掃描技術。邊界掃描（boundary scan）提供一個工業標准方法來確認在不允許探針的地方的元件連接。額外的電路設計到IC內面，允許元件以簡單的方式與周圍的元件通信，以一個容易檢查的格式顯示測試結果。
2、無矢量技術AC
無矢量技術（Vectorlesstechnique）將交流（AC）信號通過針床施加到測試中的元件。一個感測器板靠住測試中的元件表面壓住，與元件引腳框形成一個電容，將信號偶合到感測器板。沒有偶合信號表示焊點開路。
用於大型復雜板的測試程序人工生成很費時費力，但自動測試程序產生（ATPG,automated testprogramgeneration）軟體的出現解決了這一問題，該軟體基於PCBA和CAD數據和裝配於板上的元件規格庫，自動地設計所要求的夾具和測試程序。雖然這些技術有助於縮短簡單程序的生成時間，但高節點數測試程序的論證還是費時和具有技術挑戰性。
飛針式測試儀是對針床在線測試儀的一種改進，它用探針來代替針床，在X-Y機構上裝有可分別高速移動的4個頭共8根測試探針，最小測試間隙為0.2mm.工作時根據預先編排的坐標位置程序移動測試探針到測試點處，與之接觸，各測試探針根據測試程序對裝配的元器件進行開路/短路或元件測試。與針床式在線測試儀相比，在測試、最小測試間隙等方面均有較大幅度提高，並且無需製作專門的針床夾具，測試程序可直接由線路板的CAD軟體得到，但測試速度相對較慢是其不足。

B. ICT測試儀 主要檢測什麼

ICT
中文名字是
在線測抄試，襲
用於檢測電子線路板的元器件功能，焊接質量。
不上電檢測可以測試短路，開路，模擬元件好壞（電阻電容電感等等），原理上像用一個萬用表把元器件一個一個的量測。
上電檢測可以測試元器件或電路模塊的功能，設定一些輸入條件，檢測能否得到需要的輸出以鑒別電路功能好壞。數字測試，邊界掃描測試等也很常用。
還可以用ICT給程序料燒錄程序。

C. 老的日本ICT測試設備品牌有那些

摘要 ICT測試設備生產廠商是安捷倫，其它還有泰瑞達、振華發、瑩琦（WINCHY）派捷（PTI）德泰（tr）。

D. 什麼是ICT電子產品

ICT=IT+CT
ICT是一種向客戶提供的服務，這種服務是IT與CT兩種服務的結合，通信、電子信息、互聯網、傳媒業都將融合在ICT的范圍內，這是一個新的技術領域。PDA與手機結合，使手機象電腦一樣工作，同時PDA開始象手機一樣通信，這就是ICT的應用。把ICT和物聯網聯系起來就更容易理解了。物聯網和互聯網是ICT的兩個重要發展方向。
CT簡介及類型
ICT是信息技術（IT）和通信技術（CT）的結合，即信息通信技術(Information and Communication Technologies)?，它涵蓋通信業、電子信息產業、互聯網和傳媒業，可提供基於寬頻、高速通信網的多種業務，是信息的傳遞、共享和應用。中國聯通ICT業務依託基礎通信業務優勢，為客戶提供系統集成、軟體開發、IT外包、咨詢服務等一攬子解決方案。中國聯通ICT業務為客戶提供7大類16個子項29個細分業務，包括以下服務內容：
1.系統集成服務
主要包括：基礎設施集成、網路通信集成、網路應用集成、行業應用集成等服務。
2.軟體服務
主要包括：辦公自動化系統、通信業務系統、網路應用、中小企業信息化系統和其他軟體的開發。
3.外包服務
主要包括：網路通信外包、網路應用外包、行業應用外包等服務。
4.專業服務
主要包括：冗災備份服務、網路延伸服務、ICT安全集成服務、應用平台業務等服務。
5.知識服務
主要包括：咨詢服務、培訓服務等服務。
6.IT業務集成設備服務
主要包括：IT項目設備銷售、第三方設備銷售、設備代理等服務。
7.其他服務
不包括在上述服務中的其他ICT服務業務。

E. ict、fct、ate、bga的區別有哪些，都有哪幾部分組成

ICT:在線測試機（in
circuit
test），主要測試電路板上面的模擬器件，比如電阻
電容等，有些高端的測試機比如HP3070可以測試復雜的數字電路，並且使用JTAG測試一些數字晶元。燒程等。。。
FCT:功能測試站（function
test），主要測試電路板功能部分，比如高頻
ADA
buffer
程序
以及客戶端功能等
ATE:高端的測試儀器(ICT
FCT)都可以統稱為ATE（automatic
test
equipment）
BGA:是一種晶元封裝形式，主要晶元引腳用小錫球替代，這種料比較貴，一般有重新植秋的治具和BGA
reflow維修站，有專門針對的溫度線。
一般公司裡面
ICT
和
FCT
是一個測試部門，而BGA
(bug
reflow)可能屬於維修部使用的儀器。

F. 什麼是ICT，FCT治具用來做什麼用的

ICT測試治具即 Integrated Circuit Tester集成電路測試儀器治具的縮寫，就是在線檢測、測試治具。是對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產製造缺陷及元器件不良的一種標准測試設備。
它主要用於檢查在線的單個元器件以及各電路網路的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準確等特點，ICT測試治具可進行模擬器件功能和數字器件邏輯功能測試，故障覆蓋率高，對每種單板需製作專用的針床，這個針床在工業生產上就叫它ICT測試治具。

G. ICT在線測試的介紹

在線測試儀 in circuit tester 簡稱ICT 即自動在線測試儀，是現代電子企業必備的PCBA(Printed- Circuit Board Assembly，印刷電路板組件）生產的測試設備。

H. ICT測試治具是用來做什麼的，具體點

ICT在線測試原理
摘要：本文介紹在線測試的基本知識和基本原理。

1 慨述

1.1 定義
在線測試，ICT，In-Circuit Test，是通過對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產製造缺陷及元器件不良的一種標准測試手段。它主要檢查在線的單個元器件以及各電路網路的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準確等特點。

飛針ICT基本只進行靜態的測試，優點是不需製作夾具，程序開發時間短。
針床式ICT可進行模擬器件功能和數字器件邏輯功能測試，故障覆蓋率高，但對每種單板需製作專用的針床夾具，夾具製作和程序開發周期長。

1.2 ICT的范圍及特點
檢查製成板上在線元器件的電氣性能和電路網路的連接情況。能夠定量地對電阻、電容、電感、晶振等器件進行測量，對二極體、三極體、光藕、變壓器、繼電器、運算放大器、電源模塊等進行功能測試，對中小規模的集成電路進行功能測試，如所有74系列、Memory 類、常用驅動類、交換類等IC。
它通過直接對在線器件電氣性能的測試來發現製造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類的程序錯誤等。對工藝類可發現如焊錫短路，元件插錯、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。
測試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網路點上，故障定位準確。對故障的維修不需較多專業知識。採用程序控制的自動化測試，操作簡單，測試快捷迅速，單板的測試時間一般在幾秒至幾十秒。

1。3意義
在線測試通常是生產中第一道測試工序，能及時反應生產製造狀況，利於工藝改進和提升。ICT測試過的故障板,因故障定位準，維修方便，可大幅提高生產效率和減少維修成本。因其測試項目具體，是現代化大生產品質保證的重要測試手段之一。

ICT測試理論做一些簡單介紹

1基本測試方法

1.1模擬器件測試
利用運算放大器進行測試。由「A」點「虛地」的概念有：

∵Ix = Iref
∴Rx = Vs/ V0*Rref
Vs、Rref分別為激勵信號源、儀器計算電阻。測量出V0，則Rx可求出。
若待測Rx為電容、電感，則Vs交流信號源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。

1.2 隔離（Guarding）
上面的測試方法是針對獨立的器件，而實際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix笽ref，測試時必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測試的基本技術。

在上電路中，因R1、R2的連接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。測試時，只要使G與F點同電位，R2中無電流流過，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不變。將G點接地，因F點虛地，兩點電位相等，則可實現隔離。實際實用時，通過一個隔離運算放大器使G與F等電位。ICT測試儀可提供很多個隔離點，消除外圍電路對測試的影響。

1.2 IC的測試

對數字IC，採用Vector（向量）測試。向量測試類似於真值表測量，激勵輸入向量，測量輸出向量，通過實際邏輯功能測試判斷器件的好壞。
如:與非門的測試
對模擬IC的測試，可根據IC實際功能激勵電壓、電流，測量對應輸出，當作功能塊測試。

2 非向量測試
隨著現代製造技術的發展，超大規模集成電路的使用，編寫器件的向量測試程序常常花費大量的時間，如80386的測試程序需花費一位熟練編程人員近半年的時間。SMT器件的大量應用，使器件引腳開路的故障現象變得更加突出。為此各公司非向量測試技術，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量測試技術。

2.1 DeltaScan模擬結測試技術

DeltaScan利用幾乎所有數字器件管腳和絕大多數混合信號器件引腳都有的靜電放電保護或寄生二極體，對被測器件的獨立引腳對進行簡單的直流電流測試。當某塊板的電源被切斷後，器件上任何兩個管腳的等效電路如下圖中所示。
1 在管腳A加一對地的負電壓，電流Ia流過管腳A之正向偏壓二極體。測量流過管腳A的電流Ia。
2 保持管腳A的電壓，在管腳B加一較高負電壓，電流Ib流過管腳B之正向偏壓二極體。由於從管腳A和管腳B至接地之共同基片電阻內的電流分享，電流Ia會減少。
3 再次測量流過管腳A的電流Ia。如果當電壓被加到管腳B時Ia沒有變化（delta），則一定存在連接問題。

DeltaScan軟體綜合從該器件上許多可能的管腳對得到的測試結果，從而得出精確的故障診斷。信號管腳、電源和接地管腳、基片都參與DeltaScan測試，這就意味著除管腳脫開之外，DeltaScan也可以檢測出器件缺失、插反、焊線脫開等製造故障。
GenRad類式的測試稱Junction Xpress。其同樣利用IC內的二極體特性，只是測試是通過測量二極體的頻譜特性（二次諧波）來實現的。
DeltaScan技術不需附加夾具硬體，成為首推技術。

2.2 FrameScan電容藕合測試

FrameScan利用電容藕合探測管腳的脫開。每個器件上面有一個電容性探頭，在某個管腳激勵信號，電容性探頭拾取信號。如圖所示：
1 夾具上的多路開關板選擇某個器件上的電容性探頭。
2 測試儀內的模擬測試板（ATB）依次向每個被測管腳發出交流信號。
3 電容性探頭採集並緩沖被測管腳上的交流信號。
4 ATB測量電容性探頭拾取的交流信號。如果某個管腳與電路板的連接是正確的，就會測到信號；如果該管腳脫開，則不會有信號。
GenRad類式的技術稱Open Xpress。原理類似。
此技術夾具需要感測器和其他硬體，測試成本稍高。

3 Boundary-Scan邊界掃描技術
ICT測試儀要求每一個電路節點至少有一個測試點。但隨著器件集成度增高，功能越來越強，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個節點放一根探針變得很困難，為增加測試點，使製造費用增高；同時為開發一個功能強大器件的測試庫變得困難，開發周期延長。為此，聯合測試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測試標准。

IEEE1149.1定義了一個掃描器件的幾個重要特性。首先定義了組成測試訪問埠（TAP）的四（五〕個管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。測試方式選擇（TMS）用來載入控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測試模式，主要有外測試（EXTEST）、內測試（INTEST）、運行測試（RUNTEST）；最後提出了邊界掃描語言（Boundary Scan Description Language），BSDL語言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了TAP的模式和指令集。
具有邊界掃描的器件的每個引腳都和一個串列移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構成一個移位寄存器鏈，用來控制和檢測器件引腳。其特定的四個管腳用來完成測試任務。
將多個掃描器件的掃描鏈通過他們的TAP連在一起就形成一個連續的邊界寄存器鏈，在鏈頭加TAP信號就可控制和檢測所有與鏈相連器件的管腳。這樣的虛擬接觸代替了針床夾具對器件每個管腳的物理接觸，虛擬訪問代替實際物理訪問，去掉大量的佔用PCB板空間的測試焊盤，減少了PCB和夾具的製造費用。
作為一種測試策略，在對PCB板進行可測性設計時，可利用專門軟體分析電路網點和具掃描功能的器件，決定怎樣有效地放有限數量的測試點，而又不減低測試覆蓋率，最經濟的減少測試點和測試針。
邊界掃描技術解決了無法增加測試點的困難，更重要的是它提供了一種簡單而且快捷地產生測試圖形的方法，利用軟體工具可以將BSDL文件轉換成測試圖形，如Teradyne的Victory，GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解決編寫復雜測試庫的困難。
用TAP訪問口還可實現對如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在線編程（In-System Program或On Board Program）。
4 Nand-Tree
Nand-Tree是Inter公司發明的一種可測性設計技術。在我司產品中，現只發現82371晶元內此設計。描述其設計結構的有一一般程*.TR2的文件，我們可將此文件轉換成測試向量。

ICT測試要做到故障定位準、測試穩定，與電路和PCB設計有很大關系。原則上我們要求每一個電路網路點都有測試點。電路設計要做到各個器件的狀態進行隔離後，可互不影響。對邊界掃描、Nand-Tree的設計要安裝可測性要求。

I. ICT是在線測試技術，我想問下，採用ICT進行測試的范圍大概有哪些！

ICT是 In Circuit Tester 的縮寫，中文名稱為 在線測試儀，是一種電路板自動檢測儀器，又稱為靜態測內試儀（因容它只輸入很小的電壓或電流來測試，不會損壞電路板）。 ICT是做什麼用？它能夠在短短幾秒內測出電路板的好壞，並指出壞在哪一個區域及哪一個零件。將您公司產品在生產線造成的不良因素，如錫橋，錯件、反插等問題…一一的檢查出，大大提高效率和品質。（您再也不需長時間埋頭苦幹，用示波器、萬用表等慢慢查找故障所在…） 點擊圖片放大 製程上的不良問題： ICT與人工測試比較之優點： 1、縮短測試時間：一般組裝電路板如約300個零件ICT的大約是3-4秒鍾。 2、測試結果的一致性：ICT的質量設定功能，能夠透過電腦控制，嚴格控制質量。 3、容易檢修出不良的產品：ICT有多種測試技術，高度的可靠性，檢測不良品種、且准確。 4、測試員及技術員水平需求降低：只要普通操作員，即可操作與維修。 5、減省庫存、備頻、維修庫存壓力、大大提高生產成品率。 6、大大提升品質。減少產品的不良率，提高企 業形象。 效益結果: 人員費用節省 材料與資源節省 品質提升,降低成本 成品產量增長,業績量大增

J. ICT的按檢測項目可分三類檢測

ICT在線測試原理
摘要：本文介紹在線測試的基本知識和基本原理。

1 慨述

1.1 定義
在線測試，ICT，In-Circuit Test，是通過對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產製造缺陷及元器件不良的一種標准測試手段。它主要檢查在線的單個元器件以及各電路網路的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準確等特點。

飛針ICT基本只進行靜態的測試，優點是不需製作夾具，程序開發時間短。
針床式ICT可進行模擬器件功能和數字器件邏輯功能測試，故障覆蓋率高，但對每種單板需製作專用的針床夾具，夾具製作和程序開發周期長。

1.2 ICT的范圍及特點
檢查製成板上在線元器件的電氣性能和電路網路的連接情況。能夠定量地對電阻、電容、電感、晶振等器件進行測量，對二極體、三極體、光藕、變壓器、繼電器、運算放大器、電源模塊等進行功能測試，對中小規模的集成電路進行功能測試，如所有74系列、Memory 類、常用驅動類、交換類等IC。
它通過直接對在線器件電氣性能的測試來發現製造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類的程序錯誤等。對工藝類可發現如焊錫短路，元件插錯、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。
測試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網路點上，故障定位準確。對故障的維修不需較多專業知識。採用程序控制的自動化測試，操作簡單，測試快捷迅速，單板的測試時間一般在幾秒至幾十秒。

1。3意義
在線測試通常是生產中第一道測試工序，能及時反應生產製造狀況，利於工藝改進和提升。ICT測試過的故障板,因故障定位準，維修方便，可大幅提高生產效率和減少維修成本。因其測試項目具體，是現代化大生產品質保證的重要測試手段之一。

ICT測試理論做一些簡單介紹

1基本測試方法

1.1模擬器件測試
利用運算放大器進行測試。由「A」點「虛地」的概念有：

∵Ix = Iref
∴Rx = Vs/ V0*Rref
Vs、Rref分別為激勵信號源、儀器計算電阻。測量出V0，則Rx可求出。
若待測Rx為電容、電感，則Vs交流信號源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。

1.2 隔離（Guarding）
上面的測試方法是針對獨立的器件，而實際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix笽ref，測試時必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測試的基本技術。

在上電路中，因R1、R2的連接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。測試時，只要使G與F點同電位，R2中無電流流過，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不變。將G點接地，因F點虛地，兩點電位相等，則可實現隔離。實際實用時，通過一個隔離運算放大器使G與F等電位。ICT測試儀可提供很多個隔離點，消除外圍電路對測試的影響。

1.2 IC的測試

對數字IC，採用Vector（向量）測試。向量測試類似於真值表測量，激勵輸入向量，測量輸出向量，通過實際邏輯功能測試判斷器件的好壞。
如:與非門的測試
對模擬IC的測試，可根據IC實際功能激勵電壓、電流，測量對應輸出，當作功能塊測試。

2 非向量測試
隨著現代製造技術的發展，超大規模集成電路的使用，編寫器件的向量測試程序常常花費大量的時間，如80386的測試程序需花費一位熟練編程人員近半年的時間。SMT器件的大量應用，使器件引腳開路的故障現象變得更加突出。為此各公司非向量測試技術，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量測試技術。

2.1 DeltaScan模擬結測試技術

DeltaScan利用幾乎所有數字器件管腳和絕大多數混合信號器件引腳都有的靜電放電保護或寄生二極體，對被測器件的獨立引腳對進行簡單的直流電流測試。當某塊板的電源被切斷後，器件上任何兩個管腳的等效電路如下圖中所示。
1 在管腳A加一對地的負電壓，電流Ia流過管腳A之正向偏壓二極體。測量流過管腳A的電流Ia。
2 保持管腳A的電壓，在管腳B加一較高負電壓，電流Ib流過管腳B之正向偏壓二極體。由於從管腳A和管腳B至接地之共同基片電阻內的電流分享，電流Ia會減少。
3 再次測量流過管腳A的電流Ia。如果當電壓被加到管腳B時Ia沒有變化（delta），則一定存在連接問題。

DeltaScan軟體綜合從該器件上許多可能的管腳對得到的測試結果，從而得出精確的故障診斷。信號管腳、電源和接地管腳、基片都參與DeltaScan測試，這就意味著除管腳脫開之外，DeltaScan也可以檢測出器件缺失、插反、焊線脫開等製造故障。
GenRad類式的測試稱Junction Xpress。其同樣利用IC內的二極體特性，只是測試是通過測量二極體的頻譜特性（二次諧波）來實現的。
DeltaScan技術不需附加夾具硬體，成為首推技術。

2.2 FrameScan電容藕合測試

FrameScan利用電容藕合探測管腳的脫開。每個器件上面有一個電容性探頭，在某個管腳激勵信號，電容性探頭拾取信號。如圖所示：
1 夾具上的多路開關板選擇某個器件上的電容性探頭。
2 測試儀內的模擬測試板（ATB）依次向每個被測管腳發出交流信號。
3 電容性探頭採集並緩沖被測管腳上的交流信號。
4 ATB測量電容性探頭拾取的交流信號。如果某個管腳與電路板的連接是正確的，就會測到信號；如果該管腳脫開，則不會有信號。
GenRad類式的技術稱Open Xpress。原理類似。
此技術夾具需要感測器和其他硬體，測試成本稍高。

3 Boundary-Scan邊界掃描技術
ICT測試儀要求每一個電路節點至少有一個測試點。但隨著器件集成度增高，功能越來越強，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個節點放一根探針變得很困難，為增加測試點，使製造費用增高；同時為開發一個功能強大器件的測試庫變得困難，開發周期延長。為此，聯合測試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測試標准。

IEEE1149.1定義了一個掃描器件的幾個重要特性。首先定義了組成測試訪問埠（TAP）的四（五〕個管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。測試方式選擇（TMS）用來載入控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測試模式，主要有外測試（EXTEST）、內測試（INTEST）、運行測試（RUNTEST）；最後提出了邊界掃描語言（Boundary Scan Description Language），BSDL語言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了TAP的模式和指令集。
具有邊界掃描的器件的每個引腳都和一個串列移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構成一個移位寄存器鏈，用來控制和檢測器件引腳。其特定的四個管腳用來完成測試任務。
將多個掃描器件的掃描鏈通過他們的TAP連在一起就形成一個連續的邊界寄存器鏈，在鏈頭加TAP信號就可控制和檢測所有與鏈相連器件的管腳。這樣的虛擬接觸代替了針床夾具對器件每個管腳的物理接觸，虛擬訪問代替實際物理訪問，去掉大量的佔用PCB板空間的測試焊盤，減少了PCB和夾具的製造費用。
作為一種測試策略，在對PCB板進行可測性設計時，可利用專門軟體分析電路網點和具掃描功能的器件，決定怎樣有效地放有限數量的測試點，而又不減低測試覆蓋率，最經濟的減少測試點和測試針。
邊界掃描技術解決了無法增加測試點的困難，更重要的是它提供了一種簡單而且快捷地產生測試圖形的方法，利用軟體工具可以將BSDL文件轉換成測試圖形，如Teradyne的Victory，GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解決編寫復雜測試庫的困難。
用TAP訪問口還可實現對如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在線編程（In-System Program或On Board Program）。
4 Nand-Tree
Nand-Tree是Inter公司發明的一種可測性設計技術。在我司產品中，現只發現82371晶元內此設計。描述其設計結構的有一一般程*.TR2的文件，我們可將此文件轉換成測試向量。

ICT測試要做到故障定位準、測試穩定，與電路和PCB設計有很大關系。原則上我們要求每一個電路網路點都有測試點。電路設計要做到各個器件的狀態進行隔離後，可互不影響。對邊界掃描、Nand-Tree的設計要安裝可測性要求。