sem儀器測試條件怎麼看

A. 請教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測試的先後順序

薄膜樣品做XRD、SEM和AFM測試沒有固定的先後順序。在這三個測試中原子力顯微鏡更具有優勢。想了解更詳細的信息，推薦咨詢Park原子力顯微鏡。Park原子力顯微鏡的Park NX-Hivac。在高真空條件下執行掃描擴散電阻顯微鏡測量可減少所需的針尖-樣本相互作用力，從而大幅度降低對樣本和針尖的損傷。如此可延長各針尖的使用壽命，使掃描更加低成本和便捷，並通過提高空間解析度和信噪比得到更為精確的結果。因此，利用NX-Hivac進行的高真空掃描擴散電阻顯微術測量可謂是故障分析工程師增加其吞吐量、減少成本和提高准確性的明智選擇。

XRD、 SEM、AFD三者的區別：
1、 XRD（X-ray diffraction）是用來獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構。
2、 SEM（掃描電子顯微鏡）是一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
3、 AFM （原子力顯微鏡）是一種表面觀測儀器，與掃描隧道顯微鏡相比，能觀測非導電樣品。
XRD通常薄膜厚度不夠的話，需要剝離研磨製成粉末樣品。SEM和AFM根據樣品的特性選擇一個測試就可以。測試時通常是選擇同批次，同條件的幾個樣品分別去測形貌和組分。按照預約測試時間來安排測試順序。

想要了解原子力顯微鏡的相關信息，推薦咨詢Park原子力顯微鏡。Park成立至今，致力於新產品和新技術的開發，為客戶解決各種技術難題，提供最完善的解決方案。Park原子力顯微鏡具有綜合性的掃描模式，因此您可以准確有效地收集各種數據類型。從使用世界上唯一的真非接觸模式用來保持探針的尖銳度和樣品的完整性，到先進的磁力顯微鏡， Park在原子力顯微鏡領域為您提供最具創新、精確的模式。

B. SEM、TEM、XRD原理及區別

1、SEM

搜索引擎營銷：英文Search Engine Marketing ，我們通常簡稱為「SEM」。就是根據用戶使用搜索引擎的方式利用用戶檢索信息的機會盡可能將營銷信息傳遞給目標用戶。簡單來說，搜索引擎營銷就是基於搜索引擎平台的網路營銷，利用人們對搜索引擎的依賴和使用習慣，在人們檢索信息的時候將信息傳遞給目標用戶。搜索引擎營銷的基本思想是讓用戶發現信息，並通過點擊進入網頁，進一步了解所需要的信息。企業通過搜索引擎付費推廣，讓用戶可以直接與公司客服進行交流、了解，實現交易。

2、TEM

（儀器名稱）

透射電子顯微鏡（英語：Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯微鏡的解析度為0.1～0.2nm，放大倍數為幾萬～百萬倍，用於觀察超微結構，即小於0.2微米、光學顯微鏡下無法看清的結構，又稱「亞顯微結構」。

3、xrd

XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，是X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。

C. sem掃描電鏡的原理及操作,sem掃描電鏡的原理制樣

1.sem掃描電鏡的原理是依據電子和物質的相互作用，掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。

2.通過對這些信息的接收、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

3.sem是一種電子顯微鏡，中文名為掃描電子顯微鏡，通過用聚焦電子束掃描樣品的表面而產生樣品表面的圖像。

4.它由電子光學系統、信號收集及顯示系統、真空系統和電源系統組成，應用於生物、醫學、材料和化學等領域。

5.掃描電鏡（SEM）是介於透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。

6.掃描電鏡的優點是，有較高的放大倍數，20-20萬倍之間連續可調。

7.有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構。

8.試樣制備簡單。

9.目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。

D. 請教各位大神 在玻璃基地自組裝金納米粒子 該如何看SEM

樓主如果基體必須是不導電玻璃，如不能噴金，可以噴碳，這可以消除荷電問題，不妨礙形貌觀察。如果不能噴塗導電膜，就得升級您使用的儀器：使用具有更高的低電壓性能掃描電鏡，玻璃水平放置，低電壓在1kv-2kv之間找到合適的消除荷電的觀察條件，或者玻璃片大角度傾斜消除荷電，提高加速電壓獲得更好的解析度；可以選擇低真空觀察模式。

E. 請問SEM可以測液體嗎

好像不可以SEM在真空環境下進行測量，液體在真空條件下會揮發，破壞真空度，是不能進行測量的

F. SEM掃描電鏡圖怎麼看，圖上各參數都代表什麼意思

1、放大率：

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無關。

2、場深：

在SEM中，位於焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。這一小層的厚度稱為場深，通常為幾納米厚，所以，SEM可以用於納米級樣品的三維成像。

3、作用體積：

電子束不僅僅與樣品表層原子發生作用，它實際上與一定厚度范圍內的樣品原子發生作用，所以存在一個作用「體積」。

4、工作距離：

工作距離指從物鏡到樣品最高點的垂直距離。

如果增加工作距離，可以在其他條件不變的情況下獲得更大的場深。如果減少工作距離，則可以在其他條件不變的情況下獲得更高的解析度。通常使用的工作距離在5毫米到10毫米之間。

5、成象：

次級電子和背散射電子可以用於成象，但後者不如前者，所以通常使用次級電子。

6、表面分析：

歐革電子、特徵X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

表面分析以特徵X射線分析最常用，所用到的探測器有兩種：能譜分析儀與波譜分析儀。前者速度快但精度不高，後者非常精確，可以檢測到「痕跡元素」的存在但耗時太長。

觀察方法：

如果圖像是規則的（具螺旋對稱的活體高分子物質或結晶），則將電鏡像放在光衍射計上可容易地觀察圖像的平行周期性。

尤其用光過濾法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，將其他部分遮蔽使重新衍射，則會得到背景干擾少的鮮明圖像。

(6)sem儀器測試條件怎麼看擴展閱讀：

SEM掃描電鏡圖的分析方法：

從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法。在電鏡照片中，有時因為背景干擾嚴重，只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。

圖像與其衍射像之間存在著數學的傅立葉變換關系，所以將電鏡像用光度計掃描，使各點的濃淡數值化，將之進行傅立葉變換，便可求出衍射像〔衍射斑的強度（振幅的2乘）和其相位〕。

將其相位與從電子衍射或X射線衍射強度所得的振幅組合起來進行傅立葉變換，則會得到更鮮明的圖像。此法對屬於活體膜之一的紫膜等一些由二維結晶所成的材料特別適用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

G. 通過測SEM怎麼知道材料中各元素的含量，准確不

掃描電鏡能譜分析通過激發原子發射特徵X射線來確定成份，只能測試材料表面，根據電壓不同測試的厚度不同，且輕元素是測試不了的，不記得是Be還是B之前的元素了，反之從C開始都能測試到，准確性很差。

H. 我做的薄膜SEM與XRD試驗，圖片與數據不會分析，跪求准確分析

不同很正常，因為可能你的樣品不是均一的，導致差異。這個SEM測試的是particle不是grain size！謝樂公式可以用，因為不超過幾百納米。你不懂得太多，建議上小木蟲多多充電！