等離子發射儀器有哪些

❶ icp等離子體光譜儀是什麼

icp直讀光譜儀，又名電感耦合等離子體光譜儀，屬於光譜儀的一大分支，主要用於檢測微量及衡量元素的分析，可分析的元素為大多數的金屬元素，具體的檢測元素因為不同廠家採用的核心配件不同而不同，如5代光譜儀就可檢測118元素。因此icp光譜分析儀的使用范圍廣泛，被用於稀土、貴金屬、合金材料、電子產品的分析檢測，並且可對待測樣品進行定性或從超微量到常量的定量分析。
其中icp發射光譜法是根據處於激發態的待測元素原子回到基態時發射的特徵譜線對待測元素進行分析的方法，在分析的過程中會對檢測材料的的光譜特性（包括波長、強度等譜線特徵），因此可以分為3大過程：
1 ：分光（光柵），把被檢測材料按照波長進行規律分開。
2 ：感光（感測器）：將光信號轉換成電信號，對應的測量分析出各波長光的強度。
3：光譜軟體計算顯示：將這些信息用軟體進行計算分析，得出對應的結果顯示給操作人員。
等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣，需要在指定的操作環境下操作國產光譜儀，對環境溫度和濕度有一定的要求。檢測室內的溫度維持在70～75攝氏度之間，盡可能維持在一個固定溫度。其次環境濕度不能夠太大，會容易導致內部電子元器件受潮短路，並且應該避免安放在陽光強烈處，避免因此高溫導致檢測結果有誤。

❷ ICP-AES，ICP-OES，ICP-MS光譜儀各有什麼不同

CPAES (Inctively Coupled Plasma atomic emission spectrometry)電感耦合等離子體原子發射光譜儀，ICP-AES等離子體發射光譜儀是近三十年迅速發展的一種十分理想的痕量元素分析儀器.它基於物質在高頻電磁場所形成的高溫等離子體中,有良好特徵譜線發射,進而實現對不同元素的測定.它具有檢出限極低、重現性好，分析元素多等顯著特點。附特殊裝置還可以實現更多非金屬元素的測量。

ICPOES(Inctively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer ) 電感耦合等離子體發射光譜儀，現在的稱呼。因為現在icp發射光譜技術用到了越來越多的離子線，"原子發射光譜儀"已經不是那麼科學，所以現在都叫oes了。ICPOES可同時分析常量和痕量組分，無需繁復的雙向觀測，還能同時讀出、無任何譜線缺失的全譜直讀等離子體發射光譜儀,快速、線性范圍寬等優點。

ICPMS(Inctively Coupled Plasma mass spectrometry) 電感耦合等離子體質譜儀，ICP-MS是一個以質譜儀作為檢測器的等離子體，ICP-AES和ICP-MS的進樣部分及等離子體是極其相似的。ICP-AES測量的是光學光譜（120nm～800nm），ICP-MS測量的是離子質譜，提供在3～250amu范圍內每一個原子質量單位（amu）的信息。還可測量同位素測定。尤其是其檢出限給人極深刻的印象，其溶液的檢出限大部份為ppt級，石墨爐AAS的檢出限為亞ppb級，ICP-AES大部份元素的檢出限為1～10ppb，一些元素也可得到亞ppb級的檢出限。但由於ICP-MS的耐鹽量較差，ICP-MS的檢出限實際上會變差多達50倍，一些輕元素（如S、Ca、Fe、K、Se）在ICP-MS中有嚴重的干擾，其實際檢出限也很差。

❸ ICP-AES和ICP-OES是一個儀器么

ICP-AES和ICP-OES不是一個儀器。

1、ICP-AES是單道掃描光電直讀光譜儀：

電感耦合等離子體焰矩溫度可達6000~8000K，當將試樣由進樣器引入霧化器，並被氬載氣帶入焰矩時，則試樣中組分被原子化、電離、激發，以光的形式發射出能量。

2、ICP-OES是電感耦合等離子原子發射光譜儀：

可同時分析常量和痕量組分，無需繁復的雙向觀測，還能同時讀出、無任何譜線缺失的全譜直讀等離子體發射光譜儀,快速、線性范圍寬等優點。

(3)等離子發射儀器有哪些擴展閱讀：

高頻電發生器和感應圈提供電磁能量。矩管由三個同心石英管組成，分別通入載氣、冷卻氣、輔助氣（均為氬氣）；當用高頻點火裝置發生火花後，形成等離子體焰矩，接受由載氣帶來的氣溶膠試樣進行原子化、電離、激發。

進樣器為利用氣流提升和分散試樣的霧化器，霧化後的試樣送入等離子矩的載氣流。控制和檢測系統由光電轉換及測量部件、微型計算機和指示記錄器件組成。

❹ ICP-AES和ICP-OES有什麼區別

ICP-AES和ICP-MS的區別是，前者是發射光譜儀，後者是質譜儀。

近樣系統都是等離子體，但是分析方法不一樣，前者是原子外層的電子發出的特徵光譜線經由光柵分光後來分析的；後者是電子在磁場中運行軌跡不一樣，荷質比不一樣來分析的。

❺ 等離子發射光譜儀什麼牌子比較好

美國熱電、美國利曼、美國PE主要的三個品牌，國內佔有率較高。
德國斯派克、法國JY（被日本掘場收購了）、日本島津主要用於一些特殊行業。
如果你是做常規分析前面三家應該都可以滿足，特殊分析就看你的要求了，補充下內容吧。

❻ 等離子體發射光譜儀的原理、結構、應用及注意事項是什麼

原理:原子在高溫下會發射出特徵譜紅線,根據特徵譜線的強度可以對含量進行定量和定性的檢測.
結構:等離子體發生裝置,分光系統主要是光柵等,CCD檢測系統,信號強度處理系統.
應用:主要用於元素含量的定性定量檢測,主要的儀器是ICP-AES,廠家有:珀金埃爾默\瓦里安等,國產的北就國光的還可以。
注意事項：主要是使用是環境溫度要盡量恆定，另外粉塵是儀器殺手，如何保持清潔衛生很重要。

❼ ICP電感耦合等離子體發射光譜儀的原理和用途

1. 儀器介紹

   ICP2000是天瑞儀器公司經多年技術積累而開發的電感耦合等離子體發射光譜儀，用於測定各種物質（可溶解於鹽酸、硝酸、氫氟酸等）中常量、微量、痕量金屬元素或非金屬元素的含量。採用先進的電子電路系統和網路介面的通信方式，實現了儀器的尋峰、測試、譜圖描跡快速簡便化操作，自動化程度高、操作簡便、穩定可靠，使結果准確度更高，人性化設計的儀器操作界面，可針對不同元素、不同波長設置最佳的測試條件，並有儀器診斷功能，提高儀器的智能化操作。

2. 性能特點

   1.可測元素70多種

   2.分析速度快，一分鍾可測5-8個元素

   3.多元素同時分析，客戶可以自由選擇元素數量與安排測量順序

   4.檢出限低，達到ppb量級，Ba甚至達到0.7ppb

   5.線性動態范圍寬，高達6個數量級，高低含量可以同時測量

   6.分析成本低，一瓶氬氣可以用8個小時

   7.全自動化設計，除電源開關外，儀器全部功能由軟體控制。

   8.網路介面通訊方式，大大提升了通信速度，屏蔽了高頻的干擾。

   9.配備進口玻璃霧化器，霧化效率好，性能更穩定。

   10. 軟體通過質量流量控制器（MFC）來控制三路氣體流量。

   11. 點火方式：軟體控制點火，有點火位置記憶功能，匹配位置記憶功能。

   12.特有的儀器診斷功能，可實時監測儀器工作狀態。

   13.獨立開發，具有自主知識產權的分析軟體，人性化的操作界面，中英文界面的快速切換，自動生成分析報告。

3. 技術指標

   ①射頻發生器技術指標：

   1.電路類型：自激振盪電路，同軸電纜輸出，匹配調諧，功率反饋閉環自動控制。

   2.工作頻率：40.68MHz±0.05％

   3.頻率穩定性：＜0.1%

   4.輸出功率：800W—1200W

   5.輸出功率穩定性：＜0.2%

   6.電磁場泄漏輻射強度：距機箱30cm處電場強度E：＜10V/m ；磁場：H＜0.2A/m。

   ②進樣裝置技術指標：

   1.輸出工作線圈：銅質，帶有聚四氟乙烯外套，內徑25mm，3匝。

   2.矩管：三同心型，外徑20mm的石英矩管

   3.同軸型噴霧器：外徑6mm

   4.雙筒形霧室外徑：35mm

   5.氬氣流量計規格和載氣壓力表規格：

   （1）等離子氣流量計 ：0.0-20.0L/min

   （2）輔助氣流量計： 0.0-1.0L/min

   （3）載氣流量計：0.0-1.0L/min

   （4）載氣穩壓閥：0-0.4MPa

   （5）冷卻水：水溫20-25℃ 流量>7L/min 水壓>0.1MPa ，冷卻水電阻率大於1MΩ。

   ③分光器技術指標:

   1.光路：Czerny-Turner

   2.焦距： 1000 mm

   3.光柵規格：離子刻蝕全息光柵，刻線密度3600線/mm(可選用刻線密度2400線/mm)，刻劃面積（80×110）mm

   4.線色散率倒數：0.26nm/mm

   5.解析度：≤ 0.008nm(3600刻線）. ≤0.015nm(2400刻線）

   6.掃描波長范圍： 3600線/mm掃描波長范圍：190—500 nm ; 2400線/mm掃描波長范圍：190—800 nm

   7.步進電機驅動最小步距:0.001 nm

   8.入射狹縫：25μm；出射狹縫：18μm

   9.透鏡：Φ30，1：1成像

   10. 反射鏡規格：（80×105）mm

4. 測光裝置:

   1.光電倍增管規格：R212或R928

   2.光電倍增管負高壓： （-50～-1000）V

   3.光電倍增管電流測量范圍： （10～12～10～4）A

   4.信號採集方式： V/F轉換

   5.采樣電路：1mv對應頻率100Hz；

   6.儀器數據採集： 計數方式

   7.測光方式：垂直觀測

5. 標准配置

   1.ICP2000主機1台

   穩壓電源1台

   自動控溫冷卻循環水裝置1台

   2.附件箱

6. 應用領域

   金屬材料（包括貴金屬、稀有金屬）、非金屬材料、礦石、土壤、核燃料、煤、石油及其產品、化肥、化工原料、半導體晶片、陶瓷材料、食品、葯品、血液、水（純水、廢水）、空氣等幾乎所有材料中雜質（或粒子）的測定。