x射線光譜儀是什麼儀器

『壹』 什麼是X射線熒光光譜儀

主要用途： 儀器是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用於煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，並能給出半定量結果，結果准確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟體FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的最大尺寸要求為直徑51mm,高40mm.
儀器類別： 0303040903 /儀器儀表 /成份分析儀器 /熒光光度計
指標信息： 1.發射源是Rh靶X光管，最大電流125mA，電壓60kV，最大功率3kW 2.儀器在真空條件下工作，真空度<13pascals 3.5塊分析晶體，可以分析元素周期表F～U之間所有元素，含量范圍是ppm～100% 4.分析軟體是Philips公司（現為PANalytical）最新版軟體，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在計算率N=1483870時， RSD=0.08% 穩定性計算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相對誤差為0.03%
附件信息： 循環水致冷單元，計算機 P10氣體瓶空氣壓縮機
分析對象主要有各種磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態樣品的無標半定量分析，對於均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結果接近於定量分析的准確度。X熒光分析快速，某些樣品當天就可以得到分析結果。適合課題研究和生產監控。
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『貳』 X射線熒光光譜儀的原理是什麼

X射線熒光的物理原理：當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露於輻射與能源大於它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會「回補」進入低軌道，以填補遺留下來的洞。

在「回補」的過程會釋出多餘的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質放射出的輻射，這是原子的能量特性。主要使用X射線束激發熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。

透射測定

光譜儀的透射率或它的效率可用輔助單色儀裝置來測定。在可見和近紫外實現這些測量沒有任何困難。測量通過第一個單色儀的光通量，緊接著測量通過兩個單色儀的光通量，以這種方式來確定第二個單色儀的透射率。

絕對測量需要知道單色儀的絕對透射率：對於相對測量，以各種波長處的相對單位可以測量透射率。真空紫外線的這些測量有相當大的實驗困難，因此通常使用輔助單色儀。在各種入射角的情況下分別測量衍射光柵的效率。在許多實驗步驟中已成功地避免了校準上的困難。

以上內容參考：網路-X射線熒光光譜儀

『叄』 x射線衍射、x熒光、直讀光譜3種儀器，都有哪些區別，原理是什麼檢測領域

一、直讀光譜儀採用原子發射光譜學的分析原理，樣品經過電弧或火花放電激發成原子蒸汽，蒸汽中原子或離子被激發後產生發射光譜，發射光譜經光導纖維進入光譜儀分光室色散成各光譜波段，根據每個元素發射波長范圍，通過光電管測量每個元素的最佳譜線，每種元素發射光譜譜線強度正比於樣品中該元素含量，通過內部預制校正曲線可以測定含量，直接以百分比濃度顯示。己被廣泛使用於幾乎所有的光譜測量,分析及研 究工作中,特別適應於對微弱信號,瞬變信號的檢測.

二、X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然後，儀器軟體將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。廣泛應用於冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域

三、X射線衍射儀"可分為"X射線粉末衍射儀"和"X射線單晶衍射儀器".由於物質要形成比較大的單晶顆粒很困難。所以目前X射線粉末衍射技術是主流的X射線衍射分析技術。單晶衍射可以分析出物質分子內部的原子的空間結構。粉末衍射也可以分析出空間結構。但是大分子（比如蛋白質等）等復雜的很難分析。
X射線粉末衍射可以
1，判斷物質是否為晶體。
2，判斷是何種晶體物質。
3，判斷物質的晶型。
4，計算物質結構的應力。
5，定量計算混合物質的比例。
6，計算物質晶體結構數據。
7，和其他專業相結合會有更廣泛的用途。
比如可以通過晶體結構來判斷物質變形，變性，反應程度等

『肆』 X射線熒光分析的儀器分類

根據分光方式的不同，X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，也就是通常所說的能譜儀和波譜儀，縮寫為EDXRF和WDXRF。
通過測定熒光X射線的能量實現對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為能譜儀，通過測定熒光X射線的波長實現對被測樣品分析的方式稱之為波長色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為X射線熒光光譜儀。
根據激發方式的不同，X射線熒光分析儀可分為源激發和管激發兩種：用放射性同位素源發出的X射線作為原級X射線的X熒光分析儀稱為源激發儀器；用X射線發生器（又稱X光管）產生原級X射線的X熒光分析儀稱為管激發儀器。
就能量色散型儀器而言，根據選用探測器的不同，X射線熒光分析儀可分為半導體探測器和正比計數管兩種主要類型。
根據分析能力的大小還可分為多元素分析儀器和個別元素分析儀器。這種稱呼多用於能量色散型儀器。
在波長色散型儀器中，根據可同時分析元素的多少可分為，單道掃描X熒光光譜儀、小型多道X熒光光譜儀和大型X熒光光譜儀。

『伍』 什麼是單波長X射線熒光光譜儀

通常的X射線熒光光譜儀分為能量色散X射線熒光光譜儀（ED XRF）和波長色散X射線熒光光譜儀（WD XRF），其以X射線管出射譜照射樣品後產生的元素熒光射線是以能量色散型探測器直接探測（ED XRF）或是經分光晶體分光後探測器探測（WD XRF）為主要區別。
單波長X射線熒光光譜儀是在X射線照射樣品前進行了X射線光的單色化入射，主要依靠雙曲面彎晶或者二次靶或者多層膜彎晶等技術，將X射線管出射譜中的單一能量衍射聚焦到樣品一點，激發樣品中元素熒光，這樣極大降低了由於X射線管出射譜韌致輻射照射樣品而產生的背景干擾，獲得較佳的元素熒光信號峰背比。嚴格說來，單波長X射線熒光光譜儀也分為單波長激發-能量色散X射線熒光光譜儀和單波長激發-波長色散X射線熒光光譜儀兩類。
由於單波長X射線熒光光譜儀獲得較佳的元素分析性能（尤其在靈敏度方面），是當前X射線熒光領域研發的重點。

『陸』 X射線熒光光譜儀用來測什麼的

測合金！奧林巴斯X射線熒光光譜儀可以以無損方式快速、准確地辨別合金，以及從鎂到鈾的元素分析。如果你要問快速是什麼概念，3秒！3秒就能測出你要檢測的合金成分，厲不厲害。

『柒』 x射線熒光光譜儀是干什麼用的

可以檢測環保ROHS指令、玩具指令等指令與及無鹵、重金屬元素檢測！

『捌』 x射線熒光光譜儀的工作原理

x熒光光譜儀（xrf）由激發源（x射線管）和探測系統構成。x射線管產生入射x射線（一次x射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次x射線，並且不同的元素所放射出的二次x射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次x射線的能量及數量。然後，儀器軟體將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
近年來，x熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用於冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在rohs檢測領域應用得最多也最廣泛。
大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為be到u。並且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。
優缺點：
優點:
a)
分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鍾就可以測完樣品中的全部待測元素。
b)
x射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高解析度的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟x射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用於化學位的測定
。
c)
非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
d)
x射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
e)
分析精密度高。
f)
制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
缺點：
a）難於作絕對分析，故定量分析需要標樣。
b）對輕元素的靈敏度要低一些。
c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

『玖』 X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別

x射線熒光和x射線衍射的區別在於前者是對材料進行成份分析的儀器，而後者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。