波譜解析用什麼儀器

1. 儀器分析有哪些儀器

比較常見的有可見紫外分光光度計、紅外分光光度計、原子吸收分光光度計、電化學分析儀器、原子發射光譜儀、原子熒光光譜儀、分子熒光光譜儀、氣相色譜儀、液相色譜儀、質譜儀、核磁共振波譜儀、x射線熒光光譜儀等

2. 求助EPMA和EMPA區別

一.電子顯微探針分析
EMPA--Electron microprobe analysis
基本原理
電子顯微探針是指用聚焦很細的電子束照射要檢測的樣品表面，用X射線分光譜儀測量其產生的特徵X射線的波長和強度。由於電子束照射面積很小，因而相應的X射線特徵譜線將反映出該微小區域內的元素種類及其含量。 利用特徵X射線波長來確定元素的叫做波譜儀(WDS），利用特徵X射線能量不同來展譜的就稱為能譜儀(EDS）。
電子探針
利用電子顯微探針原理和技術來分析樣品的儀器。 儀器構造：主要由電子光學系統（鏡筒），X射線譜儀和信息記錄顯示系統組成。 1.電子光學系統 為了提高X射線的信號強度，電子探針必須採用較掃描電鏡更高的入射電子束流，常用的加速電壓為10-30 KV，束斑直徑約為0.5μm。電子探針在鏡筒部分加裝光學顯微鏡，以選擇和確定分析點 。 2.X射線譜儀 電子束轟擊樣品表面將產生特徵X射線，不同的元素有不同的X射線特徵波長和能量。通過鑒別其特徵波長或特徵能量就可以確定所分析的元素。利用特徵波長來確定元素的儀器叫做波長色散譜儀（波譜儀WDS），利用特徵能量的就稱為能量色散譜儀（能譜儀EDS）。
電子探針的分析方法
1.點分析：用於測定樣品上某個指定點的化學成分。 2.線分析：用於測定某種元素沿給定直線分布的情況。 將WDS、EDS固定在所要測量的某元素特徵X射線信號（波長或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線掃描，便可得到該元素沿直線特徵X射線強度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。 3.面分析：用於測定某種元素的面分布情況。 將WDS、EDS固定在信號位置上，電子束在樣品表面做二維光柵掃描，便可得到該元素的面分布圖像。

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3. ICP-MS質譜儀的工作原理及使用方法是什麼

原理

使試樣中各組分電離生成不同荷質比的離子，經加速電場的作用，形成離子束，進入質量分析器，利用電場和磁場使發生相反的速度色散——離子束中速度較慢的離子通過電場後偏轉大，速度快的偏轉小；在磁場中離子發生角速度矢量相反的偏轉，即速度慢的離子依然偏轉大，速度快的偏轉小；當兩個場的偏轉作用彼此補償時，它們的軌道便相交於一點。

與此同時，在磁場中還能發生質量的分離，這樣就使具有同一質荷比而速度不同的離子聚焦在同一點上，不同質荷比的離子聚焦在不同的點上，將它們分別聚焦而得到質譜圖，從而確定其質量。

質譜法還可以進行有效的定性分析，但對復雜有機化合物分析就無能為力了，而且在進行有機物定量分析時要經過一系列分離純化操作，十分麻煩。

而色譜法對有機化合物是一種有效的分離和分析方法，特別適合進行有機化合物的定量分析，但定性分析則比較困難，因此兩者的有效結合將提供一個進行復雜化合物高效的定性定量分析的工具。

用法

分離和檢測不同同位素的儀器。儀器的主要裝置放在真空中。將物質氣化、電離成離子束，經電壓加速和聚焦，然後通過磁場電場區，不同質量的離子受到磁場電場的偏轉不同，聚焦在不同的位置，從而獲得不同同位素的質量譜。

質譜方法最早於1913年由J.J.湯姆孫確定，以後經 F.W.阿斯頓等人改進完善。現代質譜儀經過不斷改進，仍然利用電磁學原理，使離子束按荷質比分離。質譜儀的性能指標是它的解析度，如果質譜儀恰能分辨質量m和m+Δm，解析度定義為m/Δm。現代質譜儀的解析度達 105 ～106 量級，可測量原子質量精確到小數點後7位數字。

質譜儀最重要的應用是分離同位素並測定它們的原子質量及相對豐度。測定原子質量的精度超過化學測量方法，大約2/3以上的原子的精確質量是用質譜方法測定的。由於質量和能量的當量關系，由此可得到有關核結構與核結合能的知識。

對於可通過礦石中提取的放射性衰變產物元素的分析測量，可確定礦石的地質年代。質譜方法還可用於有機化學分析，特別是微量雜質分析，測量分子的分子量，為確定化合物的分子式和分子結構提供可靠的依據。由於化合物有著像指紋一樣的獨特質譜，質譜儀在工業生產中也得到廣泛應用。

固體火花源質譜：對高純材料進行雜質分析。可應用於半導體材料有色金屬、建材部門;氣體同位素質譜：對穩定同位素C、H、N、O、S及放射性同位素Rb、Sr、U、Pb、K、Ar測定，可應用於地質石油、醫學、環保、農業等部門。

(3)波譜解析用什麼儀器擴展閱讀

質譜的解析大致步驟如下：

1、確認分子離子峰，並由其求得相對分子質量和分子式；計算不飽和度。

2、找出主要的離子峰（一般指相對強度較大的離子峰），並記錄這些離子峰的質荷比（m/z值）和相對強度。

3、對質譜中分子離子峰或其他碎片離子峰丟失的中型碎片的分析也有助於圖譜的解析。

4、用MS-MS找出母離子和子離子，或用亞穩掃描技術找出亞穩離子，把這些離子的質荷比讀到小數點後一位。

5、配合元素分析、UV、IR、NMR和樣品理化性質提出試樣的結構式。最後將所推定的結構式按相應化合物裂解的規律，檢查各碎片離子是否符合。若沒有矛盾，就可確定可能的結構式。

6、已知化合物可用標准圖譜對照來確定結構是否正確，這步工作可由計算機自動完成。對新化合物的結構，最終結論要用合成此化合物並做波譜分析的方法來確證。

參考資料來源：網路-質譜法

參考資料來源：網路-質譜儀

4. 化學分析中有哪些常用的分析儀器及方法

儀器分析法包括：

1）光學分析法,主要有分光光度法,原子吸收法、發射光譜法及熒光分析法等

2）電化學分析法,常用的有電位法、電導法、電解法、極譜法和庫化分析法等

3）色譜分析法,常用的有氣相色譜法、液相色譜法、離子色譜法、薄層層析法和紙層分析法等

4）其它分析法,如質譜分析法、 X-射線分析法、放射化分析法和核磁共振分析法等

儀器分析是化學學科的一個重要分支，它是以物質的物理和物理化學性質為基礎建立起來的一種分析方法。利用較特殊的儀器，對物質進行定性分析，定量分析，形態分析。 儀器分析方法所包括的分析方法很多，目前有數十種之多。每一種分析方法所依據的原理不同，所測量的物理量不同，操作過程及應用情況也不同。

儀器分析是指採用比較復雜或特殊的儀器設備，通過測量物質的某些物理或物理化學性質的參數及其變化來獲取物質的化學組成、成分含量及化學結構等信息的一類方法。儀器分析與化學分析(chemical analysis)是分析化學(analytical chemistry)的兩個分析方法。

儀器分析的分析對象一般是半微量（0.01~0.1g）、微量（0.1~10mg）、超微量（<0.1mg）組分的分析，靈敏度高；而化學分析一般是半微量（0.01~0.1g）、常量（>0.1g）組分的分析，准確度高。

儀器分析大致可以分為：電化學分析法、核磁共振波譜法、原子發射光譜法、氣相色譜法、原子吸收光譜法、高效液相色譜法、紫外-可見光譜法、質譜分析法、紅外光譜法、其它儀器分析法等。

5. 儀器分析包括什麼

儀器分析包括掃描電鏡、電子探針波譜及能譜分析、X衍射分析、陰極發光及熒光顯微鏡、包裹體冷熱台測定等。
1）掃描電鏡和電子探針波譜及能譜分析電子束轟擊在樣品上能產生各種信息，包括二次電子、背散射電子、X射線、陰極發光、透射電子等（圖2—1）。
接收二次電子，背散射電子成像的儀器為掃描電子顯微鏡—簡稱掃描電鏡；接收X射線並檢測X射線能量強度的儀器為能譜儀；接收X射線並檢測X射線波長的儀器為波譜儀；接收陰極發光進行檢測的儀器為陰極發光顯微鏡。
掃描電鏡、電子探針波譜及能譜儀對儲層及成岩作用研究。
（1）碎屑岩儲層。各種自生膠結物分布方式。（圖2—2）各種自生膠結物有孔隙襯墊式、孔隙充填式、嵌晶式及加大式四種膠結方式。
（2）碎屑岩儲層。自生礦物類型、特點及成分：
①粘土礦物有伊利石、高嶺石、埃洛石、蒙皂石、綠泥石、伊/矇混層、綠/矇混層等（見表2—5）；②碳酸鹽類自生礦物包括方解石、白雲石、鐵白雲石、菱鐵礦、片鈉鋁石等；③硅質膠結物，包括自生石英、無定型的蛋白石與玉髓；④硫化物—黃鐵礦；⑤沸石膠結物—包括斜發沸石、片沸石、方沸石、鈉沸石、濁沸石等。

圖2—1 電子與物質的相互作用

圖2—2 碎屑岩中膠結物分布方式

表2—5 粘土礦物形態特徵、晶體結構及元素成分

表2—5 粘土礦物形態特徵、晶體結構及元素成分（3）碎屑岩儲層，石英和長石次生加大。自生石英及自生長石加大可以分為三個階段：Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ。
（4）碎屑岩孔隙類型及儲集性能識別標志：
碎屑岩孔隙可以分為粒間孔隙、特大孔隙、鑄模孔隙、組分內孔隙及裂縫孔隙五種，可建立原生及次生粒間孔隙的識別標志。
2）X射線衍射儀X射線衍射方法被廣泛地應用於結晶學及礦物學研究。在儲層測試中使用多晶物質的X射線衍射，要求樣品是微細的粉末狀態或是微細晶粒的聚合物。
（1）制樣方法及分析流程。
①粘土分離。X射線的分析方法主要側重於粘土分離。一般來講粘土分離包括采樣、選樣、稱樣、碎樣、洗油、蒸餾水浸泡、濕磨、制備和提取懸浮液、離心沉澱烘乾、研磨、稱重和包裝等步驟。
②制樣方法。針對不同礦物、不同的分析目的以及樣品量的多少採取不同方法。
a.壓片法：適用於全岩分析。
b.定向片法：樣品板用玻璃戴片，面積為25×27mm，樣品量為40mg。
N片 把40mg粘土懸浮液均勻地鋪在水平旋轉的戴玻片上。
EG片 對上機分析的N片進行乙二醇飽和處理，目的區分膨脹性礦物是否存在。
550℃片 對EG片在550℃進行2.5小時加熱處理，以鑒定綠泥石。
HCl片 重新稱樣後用HCl處理，然後製成定向片，目的去掉綠泥石而鑒定高嶺石。
c.薄片法：直接用薄片做衍射分析，一般用於自生礦物鑒定。
（2）X衍射分析在沉積儲層研究中應用。
①粘土礦物定性與定量分析。
對伊利石/蒙皂石混層（I/S）系列。綠泥石/蒙皂石混層（C/S）系列、高嶺石、多水高嶺石、坡縷石、蛭石等X衍射鑒定見表2—6。
②混層比計算：
指蒙皂石在I/S及C/S中所含比例，用以劃分成岩階段、估算地溫、預測生儲油層、判斷生油門限等。
③全岩X射線定性及定量分析。
主要鑒定非粘土礦物：a.沸石類礦物，可用來確定沉積環境及古地溫；b.鹽類礦物，常見的有石鹽、石膏、硬石膏、鈣芒硝、無水芒硝、重晶石等；c.碳酸鹽類礦物鑒定；d.其它非粘土礦物還有黃鐵礦、赤鐵礦、石英、長石等。
3）陰極發光顯微鏡（1）原理。
電子束轟擊到樣品上，激發樣品中發光物質產生熒光，又稱陰極發光。礦物產生陰極發光原因有幾種：a.礦物含有能發光的雜質元素或微量元素（叫激活劑）；b.礦物內有結構缺陷。
礦物內的激活劑包括金屬元素（Eu2+、Sm2+、Dy2+、Tb3+、Ea3+）以及過渡金屬元素（Mn2+、Fe3+、Ca2+、V3+、Ti4+）。
與激光劑相對應能抑制礦物發光的物質叫猝滅劑，如：（Co2+、Ni2+、Fe2+、Ti2+等）。
（2）在儲層研究中應用。
①石英的發光特徵（表2—7）。
Zinkernagel的研究表明，各種石英顆粒的發光特徵是在母岩形成過程中獲得的，代表其岩石形成時的溫度條件，三種不同發光類型正好反映了三種不同成因的石英（表2—7）。
②碳酸鹽礦物發光特徵（表2—8），還可以通過殘余碳酸鹽膠結物分布來判斷次生孔隙。

表2—6 粘土礦物的X射線鑒定表

續表

表2—7 石英發光類型與岩石類型及溫度之間的關系（據Zinkemagel，U.，1978）
③其它應用：a.碎屑石英原始狀態及成岩變化觀察，石英顆粒的壓碎及癒合作用研究、推斷成岩順序；b.研究晶體生長環帶及膠結物世代；c.恢復原岩結構；d.對儲層中微裂縫進行研究。
4）熒光顯微鏡（1）原理。
熒光顯微鏡是以紫外光為光源、紫外光激發儲油岩石中能夠發光的烴類物質產生熒光。觀察分析這些發光物質本身的變化及其與岩石結構、構造的相互關系，從而判斷有機質類型、變質程度、有效儲集空間、油氣運移等一系列有關石油地質問題。
（2）熒光顯微鏡鑒定內容。
①瀝青發光顏色、波長定量與成分關系。
為解決這問題選用了標准油樣測定其發光顏色與波長關系，並確定屬何種瀝青（表2—9）。

表2—8 各類碳酸鹽礦物的元素組成及其它特徵（2）發光強度定量。
發光強度主要反映岩石中油的含量，岩石中油的含量越高，則油的熒光發光強度也越大，在熒光圖像處理中，用亮度這個數值來定量表示瀝青發光強度。
③含油范圍定量。
a.各種瀝青含量（油質、膠質、瀝青質）。
b.含油麵積比，此含油麵積比在一定程度上反映了含油岩石中含油的范圍。可近似代替孔隙含量，但該數值比孔隙含量高，因為還包括油浸染的范圍。

表2—9 瀝青的發光顏色、波長與成分5）包裹體測定包裹體是礦物形成過程中被捕獲的成礦介質，被稱為成礦流體的樣品。它相當完整地記錄了礦物形成的條件和歷史，是礦物最重要的標型特徵。
（1）包裹體的測定流程。
礦物流體包體的測試技術方面，目前主要開展了偏光和熒光顯微鏡鑒定、顯微冷熱台測試、爆裂—色譜儀測試、多項聯合裝置測試等幾個項目的研究，取得了包體流體的均一溫度（Th）、鹽度（S）、酸鹼度（pH）、氧化—還原勢能（Eh）和包體（群體）有機組分、包體（單體）有機組分以及包體（群體）氣體無機成分等多種參數。
（2）包裹體的測定意義。
包裹體研究除用均一法及冷凍法測定包裹體流體的形成溫度、壓力及鹽度、密度、pH、EH值，還開展了包體成分測定、同位素組成，尤其是烴類（包括液體烴類）包體成分。除用包體集合體進行成分測定以外，還用激光拉曼光譜儀連接色譜、質譜儀對單個包體成分進行測定。流體包裹體記錄了烴類流體和孔隙水的性質、組分、物化條件和地球動力等條件。對儲集岩成岩礦物中流體包裹體進行類型、特徵、豐度、組分等對比研究，了解盆地流體（烴類和水）的動力狀態和相對時間，確定烴類運移的時間、深度和運移相態、方向和通道，可為儲層的孔隙演化史、油氣運移史、構造運動史的研究提供最直接、最可靠的地質信息資料。對儲集岩中固體烴（固體瀝青）的分析可以提供油氣藏被改造、破壞的信息。
各類儀器分析見表2—10。

表2—10 各類儀器原理及在儲層研究中的意義

6. 分析儀器有哪些

分析儀器有哪些：

1、原子熒光光譜

原子熒光光譜儀是我國具有自主知識產權的分析儀器。基於分析靈敏度高、基體干擾小、檢出限低、線性范圍寬、性能穩定、結果可靠等性能優點，系列儀器在食品安全、環境監測中廣泛應用。一直以來，我國在原子熒光光譜領域的技術研發上都處於國際領先地位。

2、拉曼光譜

伴隨著大量支持政策的出台以及相關法規的自主，拉曼光譜技術逐步走出了實驗室，走進了市場，各個高校、科研院所也開始將自己的拉曼光譜技術推向市場，也更多的曝光在了聚光燈之下。

3、太赫茲

太赫茲技術是極為重要的前沿技術，是一種處於特殊頻率范圍的波段。目前，廣泛應用在移動寬頻通訊、反隱身雷達、反恐、無損工業檢測、食品安全檢測、醫療和生物成像等眾多領域。行業競爭者的紛紛加入和技術自身的快速發展表明其已經成長為分子光譜市場的一個主要部分。

發展趨勢：

如何把儀器用好？發揮其最大的作用。分析儀器的應用技術的發展已成為極為重要的問題。通過分析儀器的應用獲得產業技術的提升、效率的提高、質量的保證、成本的降低。因此可以說，用戶不只是消費者，更重要的他們是獲利者。

為此，加速應用技術的開發、推廣，最大限度地實現分析儀器的實際使用效果，是分析儀器製造企業要完成的重要課題。

由於網路和通訊功能的強大，通過遠程維護功能也使得這種服務的提供變得簡單易行。同時，隨著下遊行業對分析儀器及系統、工業過程分析系統的精度、性能、穩定性的要求越來越高。

因此，利用先進技術及工藝，選擇適當的分析儀、應用軟體、電路、氣路，促進分析儀器系統向低功耗、多功能、集成化和系統化發展將是行業發展趨勢。

7. 光譜分析儀是一個什麼樣的儀器有什麼樣的作用

光譜分析儀是一種分析如半導體激光器和光纖激光器等光子器件的波長成分，以評價其波長特性的測量儀器。橫河最新發布的AQ6377光譜分析儀採用色散分光技術來測量1.9–5.5μm波長范圍對於此類儀器，支持5μm波段的測量是業界首創。

8. 光譜分析儀器的原理

有些企業朋友在采購光譜分析儀時，想了解下其光譜分析儀原理，便於後期采購使用。這樣在采購時就知道哪些地方需要注意。其實光譜儀原理非常簡單。

9. 試比較波譜分析與物相分析x射線衍射儀的區別

區別但大了。
波譜分析是利用波長大小來分析物質。
X射線衍射儀是用晶格排列對X射線的衍射來分析物相。