探傷設備怎麼調試

① 超聲波探傷儀直探頭當前零點多少合適

1. 儀器設置:(1) 根本主菜單 ① 局限:依據工件的厚度確定 ② ②聲速為5920米/秒(2) 斜探頭主菜單 ①探頭角度為"0"
2. 儀器校準(1) 將探頭巧合到CSK-ⅢA試塊上,調理探頭零點,使一次底波和二次底波辨別對應相對程度刻度,此時探頭零點顯示值即為該值探頭零點(假如不校準,普通設為0.8-09)
3.測量 ①局限:當厚度較小時,超聲波探傷儀普通局限為厚度的五倍;當厚度較大時局限為厚度的2倍 ②假如資料厚度較大時，超聲波探頭,首要看始波與一次回波之間有沒有超越規范的波或一次回波下降水平. ③假如資料厚度較小時,首要看一次回波與二次回波之間有沒有超越規范的波或一次回波下降水平.有時需求看一次回波後面有無缺陷波。
崑山蘇磁無損檢測設備製造是國內無損檢測行業磁粉探傷設備和熒光滲透檢測線的專業研製和生產單位。

② 探傷靈敏度掃查靈敏度在做DAC曲線時如何調節

好吧 你是個可靠的人 我再給你講解一下
標准試塊做出DAC曲線時候 曲線生成的時候基準靈敏度已經確定了（與基本增益的數值無關 這時候你可以嘗試一下 你調節基本增益 波幅和曲線高度都是同時升降 但是波幅與曲線的相對高度是不變的）
掃查靈敏度是什麼 掃查增益就是我們平常說的掃查靈敏度 這個具體說就是你調節掃查靈敏度的時候 波幅升降 但是曲線的高度是不跟著變化的 實際上是差大了波幅與曲線的高度差
因防止漏檢一些規程上講的要求掃查靈敏度一般採用比探傷靈敏度適當高的靈敏度作為搜查靈敏度,請問掃查靈敏度是如何調節的，是不是在儀器上的偏差dB值上調節,這個是錯誤的，應該增加的是掃查增益有的設備上是掃查靈敏度（中科的設備我記得應該叫掃查增益，至於你說偏差DB，我忘了是哪項了 應該是波幅與曲線的高度差吧）
用適當高於探傷靈敏度的掃查靈敏度發現缺陷波後，是否需要將掃查靈敏度降為探傷靈敏度後再行評判, 這個是需要掃查增益歸零的 提高掃查靈敏度主要是為了發現缺陷 並不是為了定量
沒有曲線的時候 掃查增益 基準增益 表面補償 這三項沒有區別 功能是一樣的

③ 超聲波探傷中靈敏度和增益調節有什麼具體區別，在做DAC曲線時如何調節這兩個參數

我有點沒聽明白，增益調節是通過調節增益是波高相應提高，一般在做DAC曲線的第一點時，為了使波高達到80%而調節，做後面的點時，是為了使波高高於20%而調節的.

④ 探傷儀的使用方法

五大常規方法是指射線探傷法、超聲波探傷法、磁粉探傷法、渦流探傷法和滲透探傷法。
1、射線探傷方法
射線探傷是利用射線的穿透性和直線性來探傷的方法。這些射線雖然不會像可見光那樣憑肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用特殊的接收器來接收。常用於探傷的射線有x光和同位素發出的γ射線，分別稱為x光探傷和γ射線探傷。當這些射線穿過（照射）物質時，該物質的密度越大，射線強度減弱得越多，即射線能穿透過該物質的強度就越小。此時，若用照相底片接收，則底片的感光量就小；若用儀器來接收，獲得的信號就弱。因此，用射線來照射待探傷的零部件時，若其內部有氣孔、夾渣等缺陷，射線穿過有缺陷的路徑比沒有缺陷的路徑所透過的物質密度要小得多，其強度就減弱得少些，即透過的強度就大些，若用底片接收，則感光量就大些，就可以從底片上反映出缺陷垂直於射線方向的平面投影；若用其它接收器也同樣可以用儀表來反映缺陷垂直於射線方向的平面投影和射線的透過量。由此可見，一般情況下，射線探傷是不易發現裂紋的，或者說，射線探傷對裂紋是不敏感的。因此，射線探傷對氣孔、夾渣、未焊透等體積型缺陷最敏感。即射線探傷適宜用於體積型缺陷探傷，而不適宜面積型缺陷探傷。
2、 超聲波探傷 方法
人們的耳朵能直接接收到的聲波的頻率范圍通常是20Hz到20kHz，即音（聲）頻。頻率低於20 Hz的稱為次聲波，高於20 kHz的稱為超聲波。工業上常用數兆赫茲超聲波來探傷。超聲波頻率高，則傳播的直線性強，又易於在固體中傳播，並且遇到兩種不同介質形成的界面時易於反射，這樣就可以用它來探傷。通常用超聲波探頭與待探工件表面良好的接觸，探頭則可有效地向工件發射超聲波，並能接收（缺陷）界面反射來的超聲波，同時轉換成電信號，再傳輸給儀器進行處理。根據超聲波在介質中傳播的速度（常稱聲速）和傳播的時間，就可知道缺陷的位置。當缺陷越大，反射面則越大，其反射的能量也就越大，故可根據反射能量的大小來查知各缺陷（當量）的大小。常用的探傷波形有縱波、橫波、表面波等，前二者適用於探測內部缺陷，後者適宜於探測表面缺陷，但對表面的條件要求高。
3、 磁粉探傷方法
磁粉探傷是建立在漏磁原理基礎上的一種磁力探傷方法。當磁力線穿過鐵磁材料及其製品時，在其（磁性）不連續處將產生漏磁場，形成磁極。此時撒上干磁粉或澆上磁懸液，磁極就會吸附磁粉，產生用肉眼能直接觀察的明顯磁痕。因此，可藉助於該磁痕來顯示鐵磁材料及其製品的缺陷情況。磁粉探傷法可探測露出表面，用肉眼或藉助於放大鏡也不能直接觀察到的微小缺陷，也可探測未露出表面，而是埋藏在表面下幾毫米的近表面缺陷。用這種方法雖然也能探查氣孔、夾雜、未焊透等體積型缺陷，但對面積型缺陷更靈敏，更適於檢查因淬火、軋制、鍛造、鑄造、焊接、電鍍、磨削、疲勞等引起的裂紋。
磁力探傷中對缺陷的顯示方法有多種，有用磁粉顯示的，也有不用磁粉顯示的。用磁粉顯示的稱為磁粉探傷，因它顯示直觀、操作簡單、人們樂於使用，故它是最常用的方法之一。不用磁粉顯示的，習慣上稱為漏磁探傷，它常藉助於感應線圈、磁敏管、霍爾元件等來反映缺陷，它比磁粉探傷更衛生，但不如前者直觀。由於磁力探傷主要用磁粉來顯示缺陷，因此，人們有時把磁粉探傷直接稱為磁力探傷，其設備稱為磁力探傷設備。
4、 渦流探傷方法
渦流探傷是由交流電流產生的交變磁場作用於待探傷的導電材料，感應出電渦流。如果材料中有缺陷，它將干擾所產生的電渦流，即形成干擾信號。用渦流探傷儀檢測出其干擾信號，就可知道缺陷的狀況。影響渦流的因素很多，即是說渦流中載有豐富的信號，這些信號與材料的很多因素有關，如何將其中有用的信號從諸多的信號中一一分離出來，是渦流研究工作者的難題，多年來已經取得了一些進展，在一定條件下可解決一些問題，但還遠不能滿足現場的要求，有待於大力發展。
渦流探傷的顯著特點是對導電材料就能起作用，而不一定是鐵磁材料，但對鐵磁材料的效果較差。其次，待探工件表面的光潔度、平整度、邊介等對渦流探傷都有較大影響，因此常將渦流探傷用於形狀較規則、表面較光潔的銅管等非鐵磁性工件探傷。
5、 滲透探傷方法
滲透探傷是利用毛細現象來進行探傷的方法。對於表面光滑而清潔的零部件，用一種帶色（常為紅色）或帶有熒光的、滲透性很強的液體，塗覆於待探零部件的表面。若表面有肉眼不能直接察知的微裂紋，由於該液體的滲透性很強，它將沿著裂紋滲透到其根部。然後將表面的滲透液洗去，再塗上對比度較大的顯示液（常為白色）。放置片刻後，由於裂紋很窄，毛細現象作用顯著，原滲透到裂紋內的滲透液將上升到表面並擴散，在白色的襯底上顯出較粗的紅線，從而顯示出裂紋露於表面的形狀，因此，常稱為著色探傷。若滲透液採用的是帶熒光的液體，由毛細現象上升到表面的液體，則會在紫外燈照射下發出熒光，從而更能顯示出裂紋露於表面的形狀，故常常又將此時的滲透探傷直接稱為熒光探傷。此探傷方法也可用於金屬和非金屬表面探傷。其使用的探傷液劑有較大氣味，常有一定毒性。
除以上五大常規方法外，近年來又有了紅外、聲發射等一些新的探傷方法。

⑤ 超聲波探傷儀調試技巧

模擬機就調增益旋鈕，數字機就調出增益按鍵按就是了。
調節步驟：
⑴ 探頭的連接：將雙晶探頭的兩根連線分別接在儀器的兩個輸出插座上，再將探頭的檢測方式旋鈕放到一收一發方式。
⑵ 將雙晶直探頭放在階梯試塊與所探板厚相同或相近的台階上，找到試塊台階的一次底波和二次底波，在一般情況下掃描比例選擇為1∶1。
⑶ 調節儀器的水平旋鈕，將台階的一次底波先調到儀器熒光屏水平
刻度相對應的位置，如10 mm。然後調節儀器的深度粗調和微調旋鈕，將台階的二次波調到相應的位置，如20 mm。
（在這里需要著重強調一點就是：要正確判斷試塊台階的一次底波和二次底波，不能把質量不好的雙晶直探頭的固有波判斷為試塊台階的二次波。）
在調節的過程中常常會遇到二次波調不到相應的位置，這時就要改變儀器的深度粗調旋鈕，然後反復調節深度微調旋鈕，使二次波最終調到相應的位置。