Ⅰ 仪器测定条件和参数
9.3.2.1 仪器校准
通常要先对仪器进行基本校准。现在的仪器都配有仪器自动校准程序，操作比较方便。仪器基本校准包括:
(1)质量校准
对质谱仪器质量标度的校准过程，通常在整个质量范围内进行，一般选择几个有代表性的轻、中、重质量范围的元素(如Li、In、U的质量浓度范围一般为10～50ng/mL)作为校准点进行自动校准。
(2)检测器校准
对检测器的脉冲和模拟两种模式的交叉自动校准。一般选择几个轻、中、重质量范围的元素(如Li、In、U的质量浓度范围一般为10～50ng/mL)进行校准。
9.3.2.2 仪器调谐
通过仪器调谐将仪器工作条件最佳化。对于多元素分析，一般是采取折中条件。调谐的主要指标是灵敏度、稳定性、氧化物等干扰水平。通常采用含有轻、中、重质量范围的元素的混合溶液(如Li、Be、Co、In、Rh、Ce、Th、Bi、U的质量浓度范围一般为1～10ng/mL)进行最佳化调谐实验。调谐的仪器参数包括透镜组电压、等离子体采样位置(深度和上下左右定位)、等离子体发生器的入射功率和反射功率、载气流速、检测器电压(需要调谐时)等。现代仪器都有自动调谐功能。
9.3.2.3 数据采集
ICP-MS有两种主要的数据采集方式，即扫描方式和跳峰方式。
(1)扫描方式
扫描方式是在相当多的点(大约15～20 点/峰)上采集数据，因而可确定每一同位素的峰形，并对曲线下的峰面积进行积分。若有足够多的存储通道或存储单元，则可收集和存储m/z=4～240质量范围内的所有同位素信息的完整质谱图。最大扫描速率最终由四级杆扫描速率和数据存储传输速率决定。扫描方式操作的主要优点是不仅可获得当时感兴趣的同位素数据，而且还可获得很宽质量范围内的备用数据。另外，由于能获得整个谱图，因而可以很容易地辨认出干扰峰。
(2)跳峰方式
质谱仪在几个固定质量位置(通常为1～3)上对每一感兴趣的同位素进行数据采集。在此操作方式中，峰的中心位置的定位十分重要，因为它被用来确定每个峰的测量起点。若每峰采用三点，则测量时除了取中心点外，还在其两边各取一点。而在每个单点测量中测量的是峰高。跳峰方式的优点是数据采集效率高，即没有把时间浪费在不需要的同位素上，而且在每个同位素上的停留时间是可以改变的，也就是说可以通过延长采集时间来改善那些强度较低的同位素的计数统计误差。
从理论上讲，跳峰测量方式在下述情况下可显示其优越性：①只需测定少数几个同位素(﹤20)时；②感兴趣的元素零星地分布在整个质量范围内时；③进行同位素比值测定时，在每个同位素上停留的时间可根据同位素的丰度加以确定，从而改善低丰度同位素的计数统计误差。
跳峰方式的缺点是：如果事后需要其他同位素信息时，这种方式没有这方面的记录，将无法提供这些信息。更重要的是，由于无法记录和检查整个谱图，因而也就无法观察和校正存在的干扰和基体影响。
在实际应用中，将跳峰和扫描两种操作方式的优点结合起来是十分有用的。某些仪器允许只扫描质量范围内的几个狭窄区段中的5～10个同位素，而它们之间的广大区间(有时称为扫描跳越区)则快速扫过，其数据不予采集。