碳化硅晶片用什么仪器测量

Ⅰ 碳化硅硅含量怎么化验的

用HF溶解，根据重量的减少测算

Ⅱ 碳化硅如何应用单晶硅线切割上应用 我们是光伏企业单晶硅切割总遇到问题请问如何检测碳化硅质量怎样鉴

由于碳化硅两种特性：1硬度高2晶体形状不规则，所以广泛应用于单晶硅线切割领域。
目前检测碳化硅的方法大都采用日本标准即电阻法（库尔特、欧美克）测量碳化硅粒径。但由于电阻法早先开发时用于圆体细胞检测计数，所以测量不规则的碳化硅还有些牵强。再有电阻法测量的是碳化硅颗粒的宽度值，而游离的碳化硅颗粒自由旋转宽边一侧几乎不接触切割面。
碳化硅颗粒的形状直接关系到单晶硅、多晶硅的产品质量，即碳化硅颗粒的形状变化可以影响到单晶硅、多晶硅的切割效率、切割的成品率。
圆度高、棱角少的碳化硅颗粒磨削效率极低，现在很多碳化硅企业掺回收砂其实回收砂掺多了切割效率自然也就低了，由于这行业发展时间段所以行业内还没统一标准。
我们公司是3000型欧美克测量粒径现在又买了一台瑞思RA200智能颗粒分析仪测量粒型。

Ⅲ 什么是碳化硅水分检测仪原理

1.米德水分测定仪原理--简介
水分测定仪是一种能够检测各类有机及无机固体、液体、气体等样品中含水率的的仪器，按测定原理可以分类物理测定法和化学测定法两大类。物理测定法常用的用失重法、蒸馏分层法、气相色谱分析法等，化学测定方法主要有卡尔费休法、甲苯法等，国际标准化组织把卡尔费休方法定为测微量水分国际标准，我们国家也把这个方法定为国家标准测微量水分。

2.米德水分测定仪原理
卤素快速水份测定仪一种新型快速的水分检测仪器，其环状的卤素加热器确保样品在高温测试过程中均匀受热，使样品表面不易受损，快速干燥，在干燥过程中，水分仪持续测量并即时显示样品丢失的水分含量，干燥程序完成后，最终测定的水分含量值被锁定显示。一般样品只需几分钟即可完成测定。该仪器操作简单，测试准确，显示部分采用红色数码管，示值清晰可见，分别可显示水分值、样品初值、终值、测定时间、温度初值、最终值等数据。并具有与计算机，打印机连接功能。

3.米德水分测定仪原理--应用
水分测定仪实行全封闭设计的滴定台，能自动更换溶剂，避免化学试剂与人体的接触。根据实验的环境条件，可以设置“自动”或“手动”漂移值背景扣除，确保分析结果更为准确。而且水分测定仪随机配有滴定监控软件，可监控全部滴定过程，并通过该软件进行版本升级。水分测定仪可应用于制药行业、食品、地质化工、石油化工、日用化工、农业、环保、水处理等诸多行业的质量检验或科研教学。

Ⅳ 如何确定碳化硅磨料的硬度

碳化硅磨料磨具硬度要求：

砂轮硬度软，表示砂轮磨粒容易脱落，砂轮硬度硬，表示磨粒不易脱落。砂轮的硬度和磨料的硬度是两个不同的概念。磨削和切削的显着区别在于砂轮是自锐的。选择砂轮的硬度实际上就是选择砂轮的自锐性。希望锋利的磨粒也不要脱落。

砂轮硬度是指砂轮表面的碳化硅磨粒在磨料力作用下下落的难易程度。在选择磨具的硬度时，主要根据工件材料的性质和磨削方法来选择。单一类型的磨料可制成不同硬度的砂轮，这主要由结合剂的作用和数量以及砂轮的制造工艺决定。

一般原则如下：

1、研磨硬质材料时，磨粒容易变钝。为了使钝磨粒及时脱落，应选用较软的磨料。

2、研磨软质材料时，磨粒不易变钝。为防止未锐化的颗粒过早脱落，应选择较硬的磨料，如碳化硅磨料。

3、磨削非常软和硬的有色金属材料(如铝和铜)时，为避免磨具堵塞，应使用较软的磨具。

如果砂轮的线速度较低，则应使用较硬的砂轮;如果砂轮的线速度较高，则应使用较软的砂轮。如果砂轮与工件的接触面积较大，应选用较软的砂轮;如果接触面积小，应使用较硬的碳化硅砂轮。

4、磨削导热系数低、易变形、烧伤的工件时，应选用较软的砂轮。

5、干磨时，为降低发热，避免烫伤工件，磨具的硬度应比湿磨小12。磨削效率高时，可选择较软的砂轮。当粗糙度要求较低时，可选择较硬的砂轮。

Ⅳ 珠宝用什么仪器可以检测

基本仪器要用到：
1、10倍放大镜。10倍放大镜是鉴定宝石的必备工具，事实上，典当师在鉴定诸多类型物品时都要用到。10倍放大镜是由三个透镜所构成，合格的10倍放大镜应清晰度高，并且能消除影响观察宝石的球面像差和色像差。使用时，一只手执住放大镜，置于并贴近一只眼睛的正面，另一只手用食指和拇指捏住饰品托架（如为裸石应使用宝石镊子）并靠近放大镜，直到眼睛可以清晰的观察到宝石。对于裸钻，应用镊子小心地夹紧，防止掉落。
2、笔式电筒。 聚光笔式电筒是照明工具，在鉴定中可作为照明电源，对于观察宝石表面和内部包裹体及结构很重要。
3、折射仪。折射仪是很重要的宝石鉴定仪器，其设计目的是能无损、快速、准确的读出待测宝石的折射率。每种宝石有其对应的折射率，比如翡翠是1.66,红宝石和蓝宝石是1.762~1.770,海蓝宝石是1.577~1.583,碧玺是1.624~1.644等等。通过准确的测出宝石折射率，就可以大体确定待测宝石到底可能是什么宝石，然后再结合其它的鉴定手段确定宝石种属。
4、宝石显微镜。宝石显微镜一般是宝石实验室必备的鉴定检测仪器之一，宝石显微镜是通过内置光源采用暗域照明法、亮域照明法和垂直照明法工作原理对宝石实施观察，放大倍数一般为10倍至70倍，对天然宝石与人工合成宝石及仿制宝石之间的区分有很大作用，对宝石的净度观察也很有效，在宝石学专业鉴定室里，宝石显微镜还可测定部分宝石的近似折射率和吸收光谱的观察以及宝石的显微照相等用途。
5、偏光仪。偏光仪对鉴别均质体，非均质体和多晶体具有重要的作用。
6、钻石热导仪。在典当行里，典当师接触得最多的珠宝玉石饰品就是钻石饰品，而钻石热导仪对钻石饰品与其仿制品的区分性鉴定非常有效，然而，随着合成碳化硅（又名碳硅石或莫桑石）的出现，用热导仪测定钻石时就要格外小心了，因为合成碳硅石一样具有钻石反应，因此，遇到钻石饰品的典当业务，典当师就得求证其它鉴定指标，综合分析、测定而得出鉴定结论，总之，在宝石饰品的典当鉴定中，热导仪只能作为一种辅助性鉴定仪器来使用。
7、查尔斯滤色镜。查尔斯滤色镜是由两个滤色片构成，其特点是滤色片仅能通过深红色和黄绿色的光，而其它的光则全部吸收。查尔斯滤色镜最早用来区分天然祖母绿及其仿制品，因为祖母绿在滤色镜下呈红色，而其它绿色的仿制宝石则仍然呈绿色。另外，在人工染色处理的宝石和人工合成宝石的检测方面也相对比较实用，如染色翡翠和蓝玻璃在滤色镜下显红色，但是，有些宝石在滤色镜下颜色也不太明显，如染色石英岩在滤色镜下颜色变化就不明显，因此，查尔斯滤色镜的鉴定结果一般只具参考性作用。
8、紫外荧光灯。紫外荧光灯的功能是用来检测宝石是否具有荧光和磷光，天然红宝石在紫外荧光灯下就显示很漂亮的红色，大部分钻石在紫外灯下也有多种颜色的荧光显示，这在宝石鉴定时起到一定的启示性作用。
9、 莫桑石（合成碳化硅）检测仪。莫桑石（合成碳化硅）检测仪是专门用来鉴别莫桑石(合成碳化硅Sic)的仪器，依据是钻石和莫桑石在近紫外具有不同的性质。其工作原理基本与钻石热导仪相类似，也是通过接触式探针接触宝石表面，如果是莫桑石（碳化硅），该仪器上的红灯闪烁并发出鸣叫声，如果是钻石，则绿灯亮不发声。
10、电子天平。用来测宝石的比重，不同的宝石有不同的密度，比如红宝石和蓝宝石的比重为4左右，翡翠为3.34,软玉为2.95，有时只测量宝石的比重就对鉴定宝石非常有效。
还有许多宝石鉴定仪器在宝石学专业鉴定时用到，如镊子、 UltraFire WF- 501B 强光手电筒(CREE灯)、折射仪、分光镜、二色镜、偏光镜等。

Ⅵ 怎样才能正确分别钻石与碳化硅

合成碳化硅几乎和钻石一样是半导体材料，其杂质含量极低，导热能力也与钻石接近。由于合成碳化硅的高硬度及高折射率特性的原因，已切割的合成碳化硅表面反光及光泽与钻石极为接近。我们一般可以通过以下几种方法来辨别钻石和合成碳化硅。
一、用10倍放大镜观察。
1、刻面棱线
合成碳化硅的硬度虽高达9.25，但还是远不如钻石，所以刻面棱线仍不及钻石那么锐利。
2、复影观察
钻石单折射，而合成碳化硅则为双折射，且两个值相差很大，因此会产生复影，即刻面棱线会变成两个影像。
3、内部特征
钻石内常含角状矿物或有裂纹等特征，合成碳化硅则常含类似针状物的特征。
二、用合成碳化硅/钻石测试仪检测。
用测试仪测定的是近紫外区的相对透明度。对近紫外光，近无色的钻石是透明的，而合成碳化硅则吸收。

Ⅶ 碳化硅晶片的介绍

碳化硅(SiC)是一种宽禁带半导体材料，具有高热导率、高击穿场强、高饱和电子漂移速率、高化学稳定性、抗辐射的性能，具有与氮化镓(GaN)相近的晶格常数和热膨胀系数，不仅是制作高亮度发光二极管(HB-LED)的理想衬底材料，也是制作高温、高频、高功率以及抗辐射电子器件的理想材料。
碳化硅晶片的主要应用领域有LED固体照明和高频率器件。该材料具有高出传统硅数倍的禁带、漂移速度、击穿电压、热导率、耐高温等优良特性，在高温、高压、高频、大功率、光电、抗辐射、微波性等电子应用领域和航天、军工、核能等极端环境应用有着不可替代的优势。

Ⅷ 含碳化硅的工业硅如何测硅含量 求指导 在线等~！

你说的这种方法我试过的。跟你情况基本一样，你可以参照一下下边这种方法，希望能帮到你！
一种测定硅含量的方法，该方法利用待测水样中的硅与事先配制成一定浓度的检测试剂溶液反应，生成多元杂多酸含硅体系，再用上述杂多酸氧化鲁米诺或其衍生物，产生化学发光反应，其特征是上述化学发光反应中加入了化学发光增强剂溶液。
一种测定硅含量的方法，该方法基于化学发光法原理，其特点是在二元或三元杂多酸氧化鲁米诺或其衍生物反应中加入了化学发光增强剂，提高化学发光强度。本发明还可在检测溶液与待测水样反应中加入有激活作用的含氧有机溶剂，促使上述反应快速进行，缩短分析时间。本方法克服了传统化学发光法存在的检测时间长，灵敏度低的缺点，可使检测光强峰值提高4～5倍，检出限量为0．5μg／1SiO

Ⅸ 碳化硅色心自旋操控研究，碳化硅是怎么发现的

碳化硅材料的发展历史比较长。1824年，瑞典化学家Berzelius在人工钻石生长过程中发现了碳化硅SiC。1885年，艾奇逊将焦炭和二氧化硅的混合物与一定量的氯化钠在炉中高温加热，制备了小尺寸的碳化硅晶体，但有很多缺陷。碳化硅材料的应用开始于20世纪初。1907年，Round生产了第一个碳化硅发光二极管。1920年，碳化硅单晶被用作早期无线电接收机的探测器。然而，由于单晶生长的困难，碳化硅在很长一段时间内没有得到很好的应用。1955年，飞利浦公司发明了一种用升华法制备高质量碳化硅的新方法，即Lely法，碳化硅材料重新显示出活力。

小编针对问题做得详细解读，希望对大家有所帮助，如果还有什么问题可以在评论区给我留言，大家可以多多和我评论，如果哪里有不对的地方，大家也可以多多和我互动交流，如果大家喜欢作者，大家也可以关注我哦，您的点赞是对我最大的帮助，谢谢大家了。