测厚仪器影响准确性的因素有哪些

㈠ 影响磁性测厚仪测量精度的因素有哪些

1、基体金属磁性质
2、基体金属厚度
3、基体金属电性质
4、边缘效应
5、曲率
6、试件的变形
7、表面粗糙度
8、磁场
9、附着物质
10、测头压力
11、侧头的取向

㈡ 影响超声波测厚仪测量因素有那些呢

影响超声波测厚仪测量数据的因素

（1）工件表面粗糙度过大，造成探头与接触面耦合效果差，反射回波低，甚至无法接收到回波信号。对于表面锈蚀，耦合效果极差的在役设备、管道等可通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理，降低粗糙度，同时也可以将氧化物及油漆层去掉，露出金属光泽，使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。

（2）工件曲率半径过大，尤其是小径管测厚时，因常用探头表面为平面，与曲面接触为点接触或线接触，声强透射率低（耦合不好）。可选用小管径专用探头（6mm ），能较精确的测量管道等曲面材料。

（3）检测面与底面不平行，声波遇到底面产生散射，探头无法接受到底波信号。

4）铸件、奥氏体钢因组织不均匀或晶粒粗大，超声波在其中穿过时产生严重的散射衰减，被散射的超声波沿着复杂的路径传播，有可能使回波湮没，造成不显示。可选用频率较低的粗晶专用探头（2.5MHz）。

（5）探头接触面有一定磨损。常用测厚探头表面为丙烯树脂，长期使用会使其表面粗糙度增加，导致灵敏度下降，从而造成显示不正确。可选用500#砂纸打磨，使其平滑并保证平行度。如仍不稳定，则考虑更换探头。

（6）被测物背面有大量腐蚀坑。由于被测物另一面有锈斑、腐蚀凹坑，造成声波衰减，导致读数无规则变化，在极端情况下甚至无读数。

（7）被测物体（如管道）内有沉积物，当沉积物与工件声阻抗相差不大时，测厚仪显示值为壁厚加沉积物厚度。

（8）当材料内部存在缺陷（如夹杂、夹层等）时，显示值约为公称厚度的70%，此时可用超声波探伤仪进一步进行缺陷检测。

㈢ 影响涂层测厚仪精准度的因素有哪些

影响涂层测厚仪精准度的因素有哪些?生产产品过程中，可能就因为一点点的误差，可能这批产品就成了报废品，而这种情况在批量生产的厂家中最为常见，也是最需要注意的一个点。因此我们也就得对影响涂层测厚仪精准度的因素有所了解了。
(1)附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统校准时，选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。
(2)强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验，当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。
(3)人为因素。这中情况经常会发生在新用户的身上。涂层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量csgia.net发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。
(4) 在系统校准时没有选择合适的基体。基体最小平面为7mm，最小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。
(5)仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。

㈣ 比较常用涂层测厚仪的测量值精度受哪些因素影响

影响影像测量仪测量精度的因素很多，因为主动测量反馈数据,然后根据反馈数据进行砂轮修整或者自动补偿,例如曲轴主轴径和曲拐径磨床即根据量仪反馈数据实现砂轮修整;凸轮轴轴径磨床采用加工后测量,测量数据反馈实现自动补偿。
传感器倍率也是影响影像测量仪测量精度的重要因素,倍率必须符合1:1关系,即尺寸实际变化量与量仪测得变化量的比值必须等于1,否则测得的数据将不能反映工件的实际尺寸。
除了上述几种主要影响因素外,机床的振动、乳化液喷嘴位置、乳化液流量、测量装置驱动缸、传感器测力的大小等也都是影响影像测量仪的因素。

㈤ 影响磁性测厚仪测量精度的因素有哪些

a 使用OU3500型测厚仪时基体金属磁性质 磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
b 基体金属电性质 基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
c 基体金属厚度 每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
d 边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
e 曲率 试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
f 试件的变形 测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
g 表面粗糙度 基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
g 磁场 周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
h 附着物质 本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
i 测头压力 测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
j 测头的取向 测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
具体的网络一下oupu17

㈥ 超声波测厚仪测量过程影响示值的因素

超声波测厚仪测量过程影响超声波测厚仪示值的因素：
（1）工件表面粗糙度过大，造成探头与接触面耦合效果差，反射回波低，甚至无法接收到回波信号。对于表面锈蚀，耦合效果极差的在役设备、管道等可通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理，降低粗糙度，同时也可以将氧化物及油漆层去掉，露出金属光泽，使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。
（2）工件曲率半径太小，尤其是小径管测厚时，因常用探头表面为平面，与曲面接触为点接触或线接触，声强透射率低（耦合不好）。可选用小管径专用探头（6mm ）,能较精确的测量管道等曲面材料。
（3）检测面与底面不平行，声波遇到底面产生散射，探头无法接受到底波信号。
（4）铸件、奥氏体钢因组织不均匀或晶粒粗大，超声波在其中穿过时产生严重的散射衰减，被散射的超声波沿着复杂的路径传播，有可能使回波湮没，造成不显示。可选用频率较低的粗晶专用探头（2.5MHz）。
（5）探头接触面有一定磨损。常用测厚探头表面为丙烯树脂，长期使用会使其表面粗糙度增加，导致灵敏度下降，从而造成显示不正确。可选用500#砂纸打磨，使其平滑并保证平行度。如仍不稳定，则考虑更换探头。
（6）被测物背面有大量腐蚀坑。由于被测物另一面有锈斑、腐蚀凹坑，造成声波衰减，导致读数无规则变化，在极端情况下甚至无读数。
（7）被测物体（如管道）内有沉积物，当沉积物与工件声阻抗相差不大时，测厚仪显示值为壁厚加沉积物厚度。
（8）当材料内部存在缺陷（如夹杂、夹层等）时，显示值约为公称厚度的70%，此时可用超声波探伤仪进一步进行缺陷检测。
（9）温度的影响。一般固体材料中的声速随其温度升高而降低，有试验数据表明，热态材料每增加100°C，声速下降1%。对于高温在役设备常常碰到这种情况。应选用高温专用探头（300－600°C），切勿使用普通探头。
（10）层叠材料、复合（非均质）材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的，因超声波无法穿透未经耦合的空间，而且不能在复合（非均质）材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备（像尿素高压设备），测厚时要特别注意，测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。
（12）耦合剂的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气，使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当，将造成误差或耦合标志闪烁，无法测量。因根据使用情况选择合适的种类，当使用在光滑材料表面时，可以使用低粘度的耦合剂；当使用在粗糙表面、垂直表面及顶表面时，应使用粘度高的耦合剂。高温工件应选用高温耦合剂。其次，耦合剂应适量使用，涂抹均匀，一般应将耦合剂涂在被测材料的表面，但当测量温度较高时，耦合剂应涂在探头上。
（13）声速选择错误。测量工件前，根据材料种类预置其声速或根据标准块反测出声速。当用一种材料校正仪器后（常用试块为钢）又去测量另一种材料时，将产生错误的结果。要求在测量前一定要正确识别材料，选择合适声速。
（14）应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在，固体材料的应力状况对声速有一定的影响，当应力方向与传播方向一致时，若应力为压应力，则应力作用使工件弹性增加，声速加快；反之，若应力为拉应力，则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时，波动过程中质点振动轨迹受应力干扰，波的传播方向产生偏离。根据资料表明，一般应力增加，声速缓慢增加。
（15）金属表面氧化物或油漆覆盖层的影响。金属表面产生的致密氧化物或油漆防腐层，虽与基体材料结合紧密，无名显界面，但声速在两种物质中的传播速度是不同的，从而造成误差，且随覆盖物厚度不同，误差大小也不同。

以上资料摘自厦门智昊电子科技网站，智昊电子专注于为客户提供高品质的超声波测厚仪等检测仪器。是国内最权威的工业检测仪器供应商。

㈦ 镀层测厚仪的测量值精度的影响因素

1．影响因素的有关说明
a 基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
b 基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
c 基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
d 边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
e 曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
f 试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
g 表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
g 磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
h 附着物质
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
i 测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
j 测头的取向
测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
2．使用仪器时应当遵守的规定
a 基体金属特性
对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
b 基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。
c 边缘效应
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
d 曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
e 读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
f 表面清洁度
测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质
涂镀层测厚仪中F，N以及FN的区别：
F代表ferrous 铁磁性基体，F型的涂层测厚仪采用电磁感应原理， 来测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。
N代表Non- ferrous非铁磁性基体，N型的涂层测厚仪采用电涡流原理；来测量用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。
FN型的涂层测厚仪既采用电磁感应原理，又采用采用电涡流原理，是F型和N型的二合一型涂层测厚仪。

㈧ 什么因素会使超声波测厚仪测量时产生误差呢

(1)须要检测的工件外表面粗糙程渡过大，形成超声波测厚仪探头与接触面耦合效果不好，反射回波较低，甚至没办法收到回波信号。关于外表面过度锈蚀，耦合效果极差的在役设施、管道等可经过砂、磨、挫等方式对外表面实行处理，减低须要检测的工件外表面粗糙度，同时也可以将氧化物及油漆层去掉，露出金属光泽，使探头与被检物经过耦合剂能到达很好的耦合效果。
(2)须要检测的工件曲率半径太小，尤其是小径管须要测厚时，因经用探头外表面为平面，与曲面接触为点接触或线接触，声强透射率低(耦合不好)。可选用小管径专用探头(6mm),能较好地测量管道等曲面材质。
(3)探头接触面有一定磨损。经用超声波测厚仪探头外表面为丙烯树脂，长久运用会使其外表粗糙度添加，致使灵敏度降落，从而形成显示不正确。可选用500#砂纸打磨，使超声波测厚仪探头平滑并保障平行度。如仍不稳固，则考虑改换超声波测厚仪探头。
(4)须要检测工件后面有少量侵蚀坑。因为工件另一面有锈斑、侵蚀凹坑，形成声波衰减，致使读数无规定变动，在极端状况下甚至无读数。

㈨ 为什么涂层测厚仪测量会产生误差呢

引起涂层测厚仪测量产生误差的原因主要有：

基体金属磁化（基体金属磁性质会影响测量值精度，热处理和冷加工因素的影响都会产生影响，所以最好使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对涂层测厚仪进行校准）；

基体金属厚度过小（厚度过小，测量结果的偏差值会偏大，不应小于涂层测厚仪基体金属的临界厚度）；

边缘效应（测量试样边缘时，由于试样边缘形状的不规则与加工时的粗糙容易对测厚仪的测量造成影响）；

工件曲率过小（曲率变化对涂层测厚仪的影响非常大，如果您在平面的基材上校准零点后直接测量曲面，那么测值肯定有偏差，正确操作是必须在同一曲率半径的未经喷涂工件基材上进行零点校准，然后在测量涂层厚度）；

表面粗糙度过大（软覆盖层试件在测量中可能会变形，因此也会影响精度。基体金属和覆盖层的表面粗糙程度越大，对测量精度的影响也就越大）磁场干扰探头（周围各种电气设备所产生的强磁场、妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质、测头置于试件上所施加的压力大小以及测头的防止方式，都会测量精度产生影响。）

㈩ 造成超声波涂层测厚仪测量不准确是什么原因呢

这是我多次不推荐的原因
首先是界面不清楚，反射波动不稳定
然后是涂层中声速不确定，不稳定
是误差的重要原因