DFT用什么仪器测

A. 如何测试硬盘有没有问题

硬盘检测软件完全介绍
硬盘目前还是我们存储数据的重要场所，它的重要性是可算而知得。为了保护用户数据及让用户能够更方便是使用硬盘，以减小硬盘故障及当故障发生时检测硬盘，各硬盘厂商均根据自已的硬盘推出了自家的硬盘检测软件，下面让笔者将对目前市面上主要几个品牌硬盘的检测软件进行详细介绍：

一、IBM公司：DFT（Drive Fitness Test，驱动健康检测）

此软件是IBM公司面向IBM硬盘而推出的硬盘检测软件，它是基于DFT微代码来判断硬盘的错误所在，这些微代码会自动地记录重要的硬盘错误事件，这些错误事件如硬盘错误、所有重新分配过的扇区历史记录等等。DTF软件可以以“快速检测”、“表面完全扫描”来检测硬盘的错误历史、检验执行检验功能、读取及分析硬盘的错误历史、检验S.M.A.R.T功能及基于PES对硬盘的机械性能进行分析。快速检测是用每一个磁头进行读/写检测和扫描前500K的扇区（引导程序保存在此部份扇区），完成一次快速检测所需要的时间不超过2分钟，它可以检查出90％的错误。硬盘的表面完全扫描针对硬盘介质表面每个扇区的数据完整性进行检测，完成一次扫描需要15~20分钟（不同的容量硬盘完成诊断时间不同）。当你怀疑自己的硬盘表面的故障时，可以用这种方法对其进行扫描。表面扫描模式将扫描硬盘的所有扇区。DFT程序只能在DOS模式下运行，DFT程序诊断完成后对应以下四种结果：

1、硬盘有坏扇区
2、硬盘已经由于震动而损坏
3、硬盘将要衰减
4、硬盘可以正常使用，不需要进行返修或者换盘

软件使用方法：

此安装程序（dft32-v200.exe）包含IBM DOS2000 及 Drive Fitness Test，运行此程序，系统将自动在一张软盘上建立 IBM DOS2000 启动盘，此启动盘中包含有 DFT（磁盘健康检测）。DFT是用来检测IBM IDE及SCSI硬盘的错误，它不会覆盖用户数据。

软件使用注意：

$#@60;$#@62; 目前DFT软件不适用于IBM微型硬盘
$#@60;$#@62; 目前DFT软件不适用于Travelstar E 系列硬盘
$#@60;$#@62; 目前DFT软件不适用于1995年11月份以前出产s的IBM硬盘

软件下载地址：

国内下载：YESKY驱动世界

$#@62;$#@62; DFT工具最新2.00版（for Win系统）：

$#@62;$#@62; DFT工具最新2.00版（for Linux系统）：
更多IBM硬盘工具

二、昆腾公司：QDPS（昆腾数据保护系统）

QDPS是昆腾公司针对昆腾系列硬盘开发的，QDPS软件兼容火球系列（Fireball）、大脚系列（BigFoot）及大力神系列（Atlas）。即使用昆腾硬盘产品的用户均能使用此QDPS检测软件。

QDPS软件需运行在DOS操作系统，运行那软件，系统会自动建立一张启动盘，使用那DOS启动检测盘就可进行硬盘检测工作。QDPS软件可以检测硬盘的每个扇区，检测的点主要在硬盘的前300MB空间内，因为那块空间主要存放绝大部份的操作系统和主要的程序。软件不仅具有S.M.A.R.T测试，还能进行 RAM 缓存区测试、才糖

B. DFT的技术介绍

扫描路径设计
扫描路径法是一种针对时序电路芯片的DFT方案.其基本原理是时序电路可以模型化为一个组合电路网络和带触发器（Flip-Flop，简称FF）的时序电路网络的反馈。
内建自测试
内建自测试（BIST）设计技术通过在芯片的设计中加入一些额外的自测试电路，测试时只需要从外部施加必要的控制信号，通过运行内建的自测试硬件和软件，检查被测电路的缺陷或故障。和扫描设计不同的是，内建自测试的测试向量一般是内部生成的，而不是外部输入的。内建自测试可以简化测试步骤，而且无需昂贵的测试仪器和设备（如ATE设备），但它增加了芯片设计的复杂性。
边界扫描测试
为了对电路板级的逻辑和连接进行测试，工业界和学术界提出了一种边界扫描的设计，边界扫描主要是指对芯片管脚与核心逻辑之间的连接进行扫描。数字信号处理DFT(Discrete Fourier Transform)x(n)经过截断后[根据谱分辨率要求截断多长]，为有限长的序列，DFT的结果是有限长的，正好是对该有限长序列连续谱[DTFT]的在0~2pi上的等间隔采样，适合于计算机处理；而DFT又有FFT快速傅里叶变换算法，因此在各领域中得以广泛应用。当然截断带来截断效应。

C. 有哪些不同类型的频谱分析仪我何时应使用台式频谱分析仪而不是手持式频谱分析仪

有两类频谱分析仪，类型由获取信号频谱所使用的方法决定。扫描调谐频谱分析仪使用超外差式接收机对一部分输入信号频谱进行下变频（使用电压控制振荡器和混频器），达到带通滤波器的中心频率。采用超外差式体系结构的电压控制振荡器在一系列频率上进行扫描，支持仪器完整频率范围的假设。快速傅立叶变换（FFT）分析仪计算离散傅立叶变换（DFT），这个数学过程可将输入信号的波形转换成其频谱分量。

台式频谱和信号分析仪提供卓越的技术指标和测量应用软件，而手持式频谱分析仪更适合现场工程师使用。

D. 沥青砼路面面层抗滑构造深度采用什么方法检测

质量检验评定标准的条文说明上有（以下是我摘抄下来的希望你能看懂,我是看不明白）：7.1.2 高速公路、一级公路沥青路面的抗滑性能,以横向力系数测试车在60km/h车速下测得的横向力系数( SFC60 )和构造深度(TC)为主要指标.在交工验收前或开放一年之内(除冬季外)测试的路面抗滑性能指标应符合表7.1.2的技术要求.二级公路可参照执行.表7.1.2 抗滑技术指标年平均降雨量（mm） 交 工 验 收 值 横向力系数SFC60 动态摩擦系数DF60 构造深度TC(mm) >1000 ≥54 ≥0.59 ≥0.55 500～1000 ≥50 ≥0.54 ≥0.50 250～500 ≥45 ≥0.47 ≥0.45 注：①应采用测定速度为60?猭m/h时的横向力系数(SFC60)作为控制指标；没有横向力系数测定设备时,可用动态摩擦系数测试仪（DFT）或摆式摩擦系数测定仪测量.用DFT测量时以速度为60km/h时的摩擦系数为标准测试值.②路面宏观构造深度可用铺砂法或激光构造深度仪测定.

E. 日立硬盘dft检测工具能显示使用次数吗

使用次数实际上是硬盘smart数据里的上电次数，很多工具如hdtune，crystal，鲁大师，aida64都可以读取这个，不过只能用来参考，因为专业工具可以重置smart数据。

F. 气体吸附中，使用dft做材料的孔径分布感觉比较难,大家有经验的分享下

DFT确实是目前报道中提及的最为先进准确的模型。但是只有进口的仪器厂家软件才配置了DFT，
比如安东帕康塔的吸附仪。关于具体材料的DFT的选择，建议直接联系厂家应用工程师。

G. dft是什么隐私

DFT是Design For Tesability（可测试性设计）的简称。是设计人员在进行系统和电路设计的同时，考虑测试的需求，通过在芯片中增加一些测试电路从而简化测试过程。 是一种为达到故障检测目的所进行的辅助性设计方法，使制作完成后的芯片能达到“可控制性”和“可测试性”两个目的。

较流行的DFT设计方法包括内部扫描通路测试（Scan）、内建自测试（BIST）和边界扫描测试（BSD）等。

内部扫描测试（SCAN）!
通过插入scan chain能检测芯片内部包括电路短路/开路，连线和器件延迟等现象，同时可减少芯片的测试成本，它被认为是目前最理想的结构故障测试结构。

扫描测试要求每个扫描单元处于可控制和可测试的状态，只有这样才能保证其可替换为相应的扫描单元，并保证测试故障覆盖率。

为保证电路中的每个设计节点都符 合要求，在进行扫描链插入通常会进行设计规则检查。基本规则如：能使用带多路选择的扫描触发器替代同类触发器（DFF->SDFF）。

原始输入端能 对所有触发器的时钟和异步复位端进行控制；时钟信号避免作为触发器的输入信号；三态总线在扫描测试模式时可至于disable状态。可用DFT Compiler等工具进行DFT设计，如果能在RTL设计阶段考虑DFT方面的限制，那么能使后面的DFT instertion效率更高。

H. DFT的介绍

可测试性设计（Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。

I. DFT的概述

DFT在芯片设计领域的含义，即可测性设计(Design for Testability)，其他含义（离散傅里叶变换，密度泛函理论）
随着电子电路集成度的提高，电路愈加复杂，要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间，除了采用先进的测试方法外，另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中，可测试性包括两个方面：一个是可控制性，即为了能够检测出目的故障（fault）或缺陷（defect），可否方便的施加测试向量；另外一个是可观测性，指的是对电路系统的测试结果是否容易被观测到。
在集成电路（Integrated Circuit，简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Testability,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。

J. dft是什么

DFT是design for testability（可测试性技术）的缩写。

DFT是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。DFT的理念基于结构化测试（分治法），它并不是直接对芯片的逻辑功能进行测试来确保功能正常。而是尽力保证电路之间的低层级模块和它们之间的连接正确。

电路测试有时并不容易，这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构，例如扫描链等，内部信号可以暴露给电路外部。总之，在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度，看似增加了成本，但是往往能在测试阶段节约更多的时间和金钱。

相关信息

DFT的关键也就在于取舍，测试逻辑的代价和效果的平衡。核心目的在于提高Observability和Controllability。DFT主要负责制造时产生的缺陷检测，逻辑上的错误鞭长莫及。具体例子就是芯片挑体质。

在RTL设计阶段开始介入，设计插入DFT逻辑，设计并验证测试向量（功能仿真），综合时序也要收敛，得到芯片后进行机台调试。