饼形锻件超声波用什么探头

Ⅰ 怎样选择超声波探头和试块，有什么标准，依据是什么

看一下网络的资料：

超声波探头
以构造分类
1.直探头: 单晶纵波直探头 双晶纵波直探头
2.斜探头: 单晶横波斜探头a1<aL<aⅡ ， 双晶横波斜探头
单晶纵波斜探头 aL<a1为小角度纵波斜探头
aL在a1附近为爬波探头 爬波探头；沿工件表面传输的纵波，速度快、能量大、波长长探测深度较表面波深，对工件表面光洁度要求较表面波松。（频率2.5MHZ波长约2.4mm，讲义附件11、12、17题部分答案）。
3.带曲率探头: 周向曲率 径向曲率。
周向曲率探头适合---无缝钢管、直缝焊管、筒型锻件、轴类工件等轴向缺陷的检测。工件直径小于2000mm时为保证耦合良好探头都需磨周向曲率。
径向曲率探头适合---无缝钢管、钢管对接焊缝、筒型锻件、轴类工件等径向缺陷的检测。工件直径小于600mm时为保证耦合良好探头都需磨径向曲率。
4.聚焦探头: 点聚焦 线聚焦。
5.表面波探头:(当纵波入射角大于或等于第二临界角,既横波折射角度等于90形成表面波).
沿工件表面传输的横波，速度慢、能量低、波长短探测深度较爬波浅，对工件表面光洁度要求较爬波严格。
第一章“波的类型”中学到：表面波探伤只能发现距工件表面两倍波长深度内的缺陷。（频率2.5MHZ波长约1.3mm，讲义附件11、12题部分答案）。
压电材料的主要性能参数
1.压电应变常数d33:
d33=Dt/U在压电晶片上加U这么大的应力,压电晶片在厚度上发生了Dt的变化量,d33越大,发射灵敏度越高(82页最下一行错)。
2.压电电压常数g33:
g33=UP/P在压电晶片上加P这么大的应力.在压电晶片上产生UP这么大的电压,g33越大,接收灵敏度越高。
3.介电常数e:
e=Ct/A[C-电容、t-极板距离(晶片厚度)、A-极板面积(晶片面积)];
C小→e小→充、放电时间短.频率高。
4.机电偶合系数K:
表示压电材料机械能(声能)与电能之间的转换效率。
对于正压电效应:K=转换的电能/输入的机械能。
对于逆压电效应:K=转换的机械能/输入的电能.
晶片振动时,厚度和径向两个方向同时伸缩变形,厚度方向变形大,探测灵敏度高,径向方向变形大,杂波多,分辨力降低,盲区增大,发射脉冲变宽.（讲义附件16、19题部分答案）。
声 速: 324.0 M/S 工件厚度: 16.00MM 探头频率: 2.500MC
探头K值: 1.96 探头前沿: 7.00MM 坡口类型: X
坡口角度: 60.00 对焊宽度: 2.00MM 补 偿: -02 dB
判 废: +05dB 定 量: -03dB 评 定: -09 dB
焊口编号: 0000 缺陷编号: 1. 检测日期: 05.03.09
声 速: 324.0 M/S 工件厚度: 16.00 MM 探头频率: 5.00 MC
探头K值: 1.95 探头前沿: 7.00 MM 坡口类型: X
坡口角度: 60.00 对焊宽度: 2.00 MM 补 偿: -02 dB
判 废: +05 dB 定 量: -03 dB 评 定: -09 dB
焊口编号: 0000 缺陷编号: 1. 检测日期: 05.03.09
5.机械品质因子qm:
qm=E贮/E损,压电晶片谐振时,贮存的机械能与在一个周期内(变形、恢复)损耗的能量之比称……损耗主要是分子内摩擦引起的。
qm大,损耗小,振动时间长,脉冲宽度大,分辨力低。
qm小,损耗大,振动时间短,脉冲宽度小,分辨力高。
6.频率常数Nt:
Nt=tf0,压电晶片的厚度与固有频率的乘积是一个常数,晶片材料一定,厚度越小,频率越高. （讲义附件16、19题部分答案）。
7.居里温度Tc:
压电材料的压电效应,只能在一定的温度范围内产生,超过一定的温度,压电效应就会消失,使压电效应消失的温度称居里温度(主要是高温影响)。
8．超声波探头的另一项重要指标：信噪比---有用信号与无用信号之比必须大于18 dB。（为什么？）
探头型号
(应注意的问题)
1．横波探头只报K值不报频率和晶片尺寸。
2．双晶探头只报频率和晶片尺寸不报F(菱形区对角线交点深度)值。
例：用双晶直探头检12mm厚的板材，翼板厚度12mm的T型角焊缝，怎样选F值？
讲义附件（2题答案）。
应用举例
1.斜探头近场N=a´b´COSb/plCOSa。 λ =CS/¦.
直探头近场N=D/4l。 λ=CL/¦.
2.横波探伤时声束应用范围:1.64N-3N。
纵波探伤时声束应用范围:³3N。
双晶直探头探伤时,被检工件厚度应在F菱形区内。
3.K值的确定应能保证一次声程的终点越过焊缝中心线，与焊缝中心
线的交点到被检工件内表面的距离应为被检工件厚度的三分之一。
4.检测16mm厚的工件用5P 9×9 K2、2.5P9X9K2、2.5P13X13K2那一种探头合适(聚峰斜楔).以5P9X9K2探头为例。
(1).判断一次声程的终点能否越过焊缝中心线?
（焊缝余高全宽+前沿）/工件厚度
(2).利用公式：
N?(工件内剩余近场长度)=N(探头形成的近场长度)—N?(探头内部占有的近场长度) =axbxcosβ/πxλxcosα–Ltgα/tgβ,计算被检工件内部占有的近场长度。讲义附件（14题答案）。
A． 查教材54页表:
材料 K值 1.0 1.5 2.0 2.5 3
有机玻璃 COSb/ COSa 0.88 0.78 0.68 0.6 0.52
聚砜 COSb/ COSa 0.83 0.704 0.6 0.51 0.44
有机玻璃 tga /tgb 0.75 0.66 0.58 0.5 0.44
聚砜 tga /tgb 0.62 0.52 0.44 0.38 0.33
COSb/COSa、tga/tgb与K值的关系
查表可知cosβ/cosα=0.6, tgα/tgβ=0.44, 计算可知α=41.35°.
B． λ=Cs/?=3.24/5=0.65mm
C． 参考图计算可知：
tgα=L1/4.5, L1=tg41.35°X4.5=0.88X4.5=3.96mm.
cosα=2.5/L2, L2=2.5/cos41.5°=2.5/0.751=3.33mm,
L=L1+L2=7.3mm, Ltgα/tgβ=7.3×0.44=3.21mm,(N?)
由（1）可知，IS=35.8mm, 2S=71.6mm
N=axbxcosβ/pxλxcosa=9×9×0.6/3.14×0.65=23.81mm,
1.64N=39.1mm, 3N=71.43mm.
工件内部剩余的近场(N?)=N-N?=20.6mm(此范围以内均属近场探伤).
(1.64N-N?)与IS比较, (3N-N?)与2S比较,
使用2.5P13X13K2探头检测16mm厚工件,1.64N与3N和5P9X9K2探头基本相同,但使用中仍存在问题，2.5P9X9K2探头存在什么问题？
一.探伤过程中存在的典型问题:
不同探头同一试块的测量结果

反射体深度 1#探头 2#探头
横波折射角 声程 横波折射角 声程
mm ( ) mm ( ) mm
20 21.7 21.7 32.8 24.3
40 24.4 45.0 32.5 49.8
60 25.8 70 30.9 75.6
80 28.9 101.8 29.1 102.0
注:1.晶片尺寸13´13 2.晶片尺寸10´20.
试验中发现:同一探头(入射角不变)在不同深度反射体上测得的横波折射角不同,进一步试验还发现,折射角的变化趋势与晶片的结构尺寸有关,对不同结构尺寸的晶片,折射角的变化趋势不同,甚至完全相反,而对同一
晶片,改变探头纵波入射角,其折射角变化趋势基本不变,上表是两个晶片尺寸不同的探头在同一试块上测量的结果.
1#探头声束中心轨迹 2#探头声束中心轨迹
1.纵波与横波探头概念不清.
第一临界角:由折射定律SinaL/CL1=SinbL/CL2,当CL2>CL1时,bL>aL,随着aL增加,bL也增加,当aL增加到一定程度时,bL=90,这时所对应的纵波入射角称为第一临界角aI,
aI=SinCL1/CL2=Sin2730/5900=27.6,当aL<aI时,第二介质中既有折射纵波L¢¢又有折射横波S¢¢.
第二临界角:由折射定律SinaL/CL1=SinbS/CS2, 当Cs2>CL1时,bS>aL,随着aL增加,bS也增加,当aL增加一定程度时,bS=90,这时所对应的纵波入射角称为第二临界角aⅡ.aⅡ
=SinCL1/CS2=Sin2730/3240=57.7.当aL=aI--aⅡ时,第二介质中只有折射横波S,没有折射纵波L,常用横波探头的制作原理。
利用折射定律判断1#探头是否为横波探头。
A. 存横波探伤的条件:Sin27.6/2730=Sinb/3240, Sinb=Sin27.6´3240/2730=0.55,b=33.36,K=0.66。
B.折射角为21.7时： Sina/2730=Sin21.7/3240,Sina=Sin21.7´2730/3240,a=18.15,
小于第一临界角27.6。
折射角为28.9时：
Sina/2730=Sin28.9/3240,Sina= Sin28.9´2730/3240,a=24,也小于第一临界角27.6。
C.如何解释1#探头随反射体深度增加,折射角逐渐增大的现象,由A、B
可知,1#探头实际为纵波斜探头,同样存在上半扩散角与下半扩散角,而且上半扩散角大于下半扩散角。（讲义附件9题答案）。
纵波入射角aL由0逐渐向第一临界角aI(27.6)增加时,第二介质中的纵波能量逐渐减弱,横波能量逐渐增强,在声束的一定范围内,q下区域内的纵波能量大于q上区域内的纵波能量,探测不同深度的孔,实际上是由q下区域内的纵波分量获得反射回波最高点。
由超声场横截面声压分布情况来看,A点声压在下半扩散角之内,B点声压在上半扩散角之内,且A点声压高于B点声压。再以近场长度N的概念来分析,2.5P 13´13 K1探头N=36.5mm,由此可知反射体深度20mm时,声程约21.7mm,b=21.7时N=40.07mm为近场探伤。
在近场内随着反射体深度增加声程增大,A点与B点的能量逐渐向C点增加,折射角度小的探头角度逐渐增大,折射角度大的探头角度逐渐减少。
2.盲目追求短前沿:
以2.5P 13´13 K2探头为例,b=15mm与b=11mm,斜楔为有机玻璃材料;
(1).检测20mm厚,X口对接焊缝,缺陷为焊缝层间未焊透.
(2).信噪比的关系:有用波与杂波幅度之比必须大于18dB.
(3).为什么一次标记点与二次标记点之间有固定波？
由54页表可知：COSb/COSa=0.68，K2探头b=63.44°，
COS63.44°=0.447，COSa=0.447/0.68=0.66，
COSa=6.5/LX，前沿LX=6.5/0.66=9.85mm。（讲义附件6题答案）。
3.如何正确选择双晶直探头:
(1).构造、声场形状、菱形区的选择;
(2).用途:为避开近场区,主要检测薄板工件中面积形缺陷.
(3).发射晶片联接仪器R口,接收晶片联接T口(匹配线圈的作用).
4.探头应用举例:
二.超声波探头的工作原理:
1．通过压电效应发射、接收超声波。
2．640V的交变电压加至压电晶片银层，使面积相同间隔一定距离的两块金属极板分别带上等量异种电荷形成电场，有电场就存在电场力，压电晶片处在电场中，在电场力的作用下发生形变，在交变电场力的作用下，发生变形的效应，称为逆压电效应，也是发射超声波的过程。
3．超声波是机械波，机械波是由振动产生的，超声波发现缺陷引起缺陷振动，其中一部分沿原路返回，由于超声波具有一定的能量，再作用到压电晶体上，使压电晶体在交变拉、压力作用下产生交变电场，这种效应称为正压电效应，是接收超声波的过程。正、逆压电效应统称为压电效应。
※以仪器的电路来说，只能放大电压或电流信号，不能放大声信号。
试块
※强调等效试块的作用。
1．常用试块的结构尺寸、各部位的用途，存在问题；（讲义附件8、10、13、18题答案）。
2．三角槽与线切割裂纹的区别；
3．立孔与工件中缺陷的比较：
4．几种自制试块的使用方法；
A．奥氏体试块：
B．双孔法校准（主要用于纵波斜探头探伤,如螺栓）（讲义附件5、7题答案）。
计算公式：令h2/h1=n；
a=[n（t1+f/2）-（t2+f/2）]/(n-1) …… 1式
t1与t2为一次声程分别发现h1与h2孔时的声程（包含a）；
COSb=h1/（t1+f/2-a），b=COSh1/（t1+f/2-a）；
tgb=K，K=tgCOSh1/（t1+f/2-a） …… 2式
b=（L2-nL1）/（n-1） …… 3式
C．外圆双孔法校准原理（外径f>100mm的工件周向探伤用）：
计算公式：q=（ - ）180/Rp …… 1式
…… 2式
j=Sin[Sinq（R-h2）/A¢B] …… 3式
b=Sin（R-h1）Sinj/R …… 4式
tgb=K=tgSin（R-h1）Sinj/R …… 5式
=ÐeR/57.3- …… 6式
Ðe=Ðj-Ðb.
D.双弧单孔法校准（外径Φ<100mm的工件周向探伤用）:
(1)距离校准同CSK-ⅠA校圆弧;
(2).K值校准 b=COS[R2+(S+f/2)-(R-h)]/2R2(S+f/2) tgb=K
（讲义附件3、15题答案）。
常用的两种探伤方法
1.曲线法;
2.幅值法.

Ⅱ 超声波探伤方法有哪些，并且适用于哪些范围

垂直入射法，纵波直探头，探钢板，锻件什么的，主要用纵波直探头，厚大件也会辅助斜探头
斜射法，横波斜探头，比如焊缝探伤，主要要用到斜射法
这个规定不是很死的，据具体情况定，比如缺陷方向等等
你的问题确实不好回答，看从哪个方面区分，上面是从入射方式分，还可以从波形显示分等等

Ⅲ 钢板超声波探伤主要采用什么探头

直探头纵波检测一般对钢板，锻件等原材料或者正火过后的材料检测。斜探头对焊缝检测（一般）需要根据规格，厚度，材质等决定探头的型号。还有就是一些特殊探头比如双晶直探头是做＜20的，纵波斜探头等具体看你做什么，根据什么标准。

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Ⅳ 超声波测厚仪用的是哪种波

一般常用的纵波。

超声波测厚仪探头如果以构造来分类可以分为直探头、.斜探头、带曲率探头、聚焦探头和表面波探头。
1.直探头: 分为单晶纵波直探头和双晶纵波直探头。
2.斜探头: 包括单晶横波斜探头、双晶横波斜探头、单晶纵波斜探头和爬波探头。
3.带曲率探头: 包括周向曲率和径向曲率。
周向曲率探头适合于无缝钢管、直缝焊管、筒型锻件、轴类工件等轴向缺陷的检测。工件直径小于2000mm时为保证耦合良好探头都需磨周向曲率。
径向曲率探头适合于无缝钢管、钢管对接焊缝、筒型锻件、轴类工件等径向缺陷的检测。工件直径小于600mm时为保证耦合良好探头都需磨径向曲率。
4.聚焦探头: 分为点聚焦和线聚焦。
5.表面波探头: 当纵波入射角大于或等于第二临界角，既横波折射角度等于90形成表面波。
超声波测厚仪的探头在使用时需要注意两个方面：
一是探头接触面是否磨损。常用测厚探头表面为丙烯树脂，长期使用会使其表面粗糙度增加，导致灵敏度下降，从而造成显示不正确。可选用500#砂纸打磨，使其平滑并保证平行度。如仍不稳定，则考虑更换探头。
二是关注工件表面粗糙度。工件表面粗糙度过大，造成探头和接触面耦合效果差，反射回波低，甚至无法接收到回波信号。以将氧化物及油漆层去掉，露出金属光泽，使探头和被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果
超声波测厚仪可以咨询中科朴道厂家。

Ⅳ 超声波探伤仪原理技术的其他

4.超声波探伤与X射线探伤相比较有何优的缺点？
答：超声波探伤比X射线探伤具有较高的探伤灵敏度、周期短、成本低、灵活方便、效率高，对人体无害等优点；缺点是对工作表面要求平滑、要求富有经验的检验人员才能辨别缺陷种类、对缺陷没有直观性；超声波探 伤适合于厚度较大的零件检验。
5、超声波探伤的主要特性有哪些？
答：（1）超声波在介质中传播时，在不同质界面上具有反射的特性，如遇到缺陷，缺陷的尺寸等于或大于超声波波长时，则超声波在缺陷上反射回来，探伤仪可将反射波显示出来；如缺陷的尺寸甚至小于波长时，声波将绕过缺陷而不能反射；
（2）波声的方向性好，频率越高，方向性越好，以很窄的波束向介质中辐射，易于确定缺陷的位置。
（3）超声波的传播能量大，如频率为1MHZ（100赫兹）的超生波所传播的能量，相当于振幅相同而频率为1000HZ（赫兹）的声波的100万倍。
6、超生波探伤板厚14毫米时，距离波幅曲线上三条主要曲线的关系怎样？
答：测长线 Ф1 х 6 －12dB
定量线 Ф1 х 6 －6dB
判度线 Ф1 х 6 －2dB
7、用超生波探伤时，底波消失可能是什么原因造成的？
答：（1）近表表大缺陷；（2）吸收性缺陷；（3）倾斜大缺陷；（4）氧化皮与钢板结合不好。
8、简述超生波探伤中，超生波在介质中传播时引起衰减的原因是什么？
答：（1）超声波的扩散传播距离增加，波束截面愈来愈大，单位面积上的能量减少。
（2）材质衰减一是介质粘滞性引起的吸收；二是介质界面杂乱反射引起的散射。
9、CSK－ⅡA试块的主要作用是什么？
答：（1）校验灵敏度；（2）校准扫描线性。
10、用超声波对饼形大锻件探伤，如果用底波调节探伤起始灵敏度对工作底面有何要求？
答：（1）底面必须平行于探伤面；
（2）底面必须平整并且有一定的光洁度。
11．超声波探伤选择探头K值有哪三条原则？
答：（1）声束扫查到整个焊缝截面；
（2）声束尽量垂直于主要缺陷；
（3）有足够的灵敏度。
12、超声波探伤仪主要有哪几部分组成？
答：主要有电路同步电路、发电路、接收电路、水平扫描电路、显示器和电源等部份组成。
13、发射电路的主要作用是什么？
答：由同步电路输入的同步脉冲信号，触发发射电路工作，产生高频电脉冲信号激励晶片，产生高频振动，并在介质内产生超声波。
14、超声波探伤中，晶片表面和被探工件表面之间使用耦合剂的原因是什么？
答：晶片表面和被检工件表面之间的空气间隙，会使超声波完全反射，造成探伤结果不准确和无法探伤。
15、JB1150－73标准中规定的判别缺陷的三种情况是什么？
答：（1）无底波只有缺陷的多次反射波。
（2）无底波只有多个紊乱的缺陷波。
（3）缺陷波和底波同时存在。
16、JB1150－73标准中规定的距离――波幅曲线的用途是什么？
答：距离――波幅曲线主要用于判定缺陷大小，给验收标准提供依据它是由判废线、定量线、测长线三条曲线组成；
判废线――判定缺陷的最大允许当量；
定量线――判定缺陷的大小、长度的控制线；
测长线――探伤起始灵敏度控制线。
17、什么是超声场？
答：充满超声场能量的空间叫超声场。
18、反映超声场特征的主要参数是什么？
答：反映超声场特征的重要物理量有声强、声压声阻抗、声束扩散角、近场和远场区。
19、探伤仪最重要的性能指标是什么？
答：分辨力、动态范围、水平线性、垂直线性、灵敏度、信噪比。
20、超声波探伤仪近显示方式可分几种？
答：（1）A型显示示波屏横坐标代表超声波传递播时间（或距离），纵坐标代表反射回波的高度；（2）B型显示示波屏横坐标代表超声波传递播时间（或距离），这类显示得到的是探头扫查深度方向的断面图；（3）C型显示仪器示波屏代表被检工件的投影面，这种显示能绘出缺陷的水平投影位置，但不能给出缺陷的埋藏深度。
21、超声波探头的主要作用是什么？
答：1、探头是一个电声换能器，并能将返回来的声波转换成电脉冲；2、控制超声波的传播方向和能量集中的程度，当改变探 头入射 角或改变超声波的扩散角时，可使声波的主要能量按不同的角度射入介质内部或改变声波的指向性，提高分辨率；3、实现波型转换；4、控制工作频率；适用于不同的工作条件。
22、为什么要加强超波探伤合录和报告工作？
答：任何工件经过超声波探伤后，都必须出据检验报告以作为该工作质量好坏的凭证，一份正确的探伤报告，除建立可靠的探测方法和结果外，很大程度上取决于原始记录和最后出据的探伤报告是非常重要的，如果我们检查了工件不作记录也不出报告，那么探伤检查就毫无意义。
23、无损检测有哪些应用
应用时机：设计阶段；制造过程；成品检验；在役检查。
应用对象：各类材料（金属、非金属等）；各种工件（焊接件、锻件、铸件等）；各种工程（道路建设、水坝建设、桥梁建设、机场建设等）。
24、超声波焊缝探伤时为缺陷定位仪器时间扫描线的调整有哪几种方法？
答：有水平定位仪、垂直定位、声程定位三种方法
25、在超声波探伤中把焊缝中的缺陷分几类？怎样进行分类？
答：在焊缝超声波探伤中一般把焊缝中的缺陷 分成三类：点状缺陷、线状缺陷、面状缺陷。
在分类中把长度小于10mm的缺陷叫做点状缺陷；一般不测长，小于10mm的缺陷按5mm计。把长度大于10mm的缺陷叫线状缺陷。把长度大于10mm高度大于3mm的缺陷叫面状缺陷。
26、超声波试块的作用是什么？
答：超声波试块的作用是校验仪器和探头的性能，确定探伤起始灵敏度，校准扫描线性。
27、什么是斜探头折射角β的正确值？
答：斜探头折射角的正确值称为K值，它等于斜探头λ射点至反射点的水平距离和相应深度的比值。
28、当局部无损探伤检查的焊缝中发现有不允许的缺陷时如何办？
答：应在缺陷的延长方向或可疑部位作补充射线探伤。补充检查后对焊缝质量仍然有怀疑对该焊缝应全部探伤。
29、超声波探伤仪中同步信号发生器的主要作用是什么？它主要控制哪二部分电路工作？
答：同步电路产生同步脉冲信号，用以触发仪器各部分电路同时协调工作，它主要控制同步发射和同步扫描二部分电路。
30、无损检测的目的？
答：1、改进制造工艺；2、降低制造成本；3、提高产品的可能性；4、保证设备的安全运行。
31.超探仪的作用及主要应用行业
超探仪是一种便携式工业无损探伤仪器，它能够快速便捷、无损伤、精确地进行工件内部多种缺陷（焊缝、裂纹、夹杂、折叠、气孔、砂眼等）的检测、定位、评估和诊断。既可以用于实验室，也可以用于工程现场。本仪器能够广泛地应用在制造业、钢铁冶金业、金属加工业、化工业等需要缺陷检测和质量控制的领域，也广泛应用于航空航天、铁路交通、锅炉压力容器等领域的在役安全检查与寿命评估。它是无损检测行业的必备仪器。 编号 应用行业 1 电力 2 锅炉与压力容器 3 机械 4 钢铁工业 5 钢结构 6 石油 7 化工 8 铁路 9 航天航空 10 船舶 11 管道 12 高校 13 永磁 14 科研院所 15 军工 16 陶瓷 32.有关超声波探伤的国家标准和行业标准 超声波探伤国家标准和行业标准有：
1、QB/T 无损检测术语 超声检测
2、JB/T 10061-1999 A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件
3、JJG 746-91 超声探伤仪 中华人民共和国国家计量检定规程 33.斜探头K值与角度的对应关系 NO. K值 对应角度 1 K1 对应45度 2 K1.5 对应56.3度 3 K2 对应63.4度 4 K2.5 对应68.2度 5 K3 对应71.6度 34. 焊缝探伤超声波探头的选择方案参考 编号 被测工件厚度 选择探头和斜率 选择探头和斜率 1 4—5mm 6×6 K3 不锈钢：1.25MHz
铸铁：0.5—2.5 MHz
普通钢：5MHz 2 6—8mm 8×8 K3 3 9—10mm 9×9 K3 4 11—12mm 9×9 K2.5 5 13—16 mm 9×9 K2 6 17—25 mm 13×13 K2 7 26—30 mm 13×13 K2.5 8 31—46 mm 13×13 K1.5 9 47—120 mm 13×13（ K2—K1） 10 121—400 mm 18×18 （ K2—K1）
20×20 （ K2—K1） 注:以上方案仅作参考,各企业可视具体情况稍作改动
35.探头型号表
注：下表所列探头型号仅供探伤时参考 产品名称 频率（MHZ） 晶片面积（mm2） 说明 直探头（硬保护膜） 0.5～10 Φ8 Φ10 Φ14 Φ20 Φ24Φ30 直探头（软保护膜） 0.5～5 Φ10 Φ14 Φ20 Φ24 双晶片直探头 2.5～5 10×12×2Φ14×2Φ20×2 F5 F10 F15 F20 F30 斜探头 1～5 9×9 8×8 10×12 Φ14
12×15 14×16 13×13Φ20 30o40o50oK1 K1.5 K2 K2.5 K3 斜探头 1～5 18×18 双晶片斜探头 2.5 5 8×8×2 10×12×2 K1 K2 K3
F10 F20 F30 表面波探头 2.5 5 9×9 10×12 13×13 HB-50 回波探头 小角管探头 2.5 5 Φ14 Φ20 小角管探头 5 6×6 5×7 K1 K2 K2.5 K3 小角管探头 5 双晶曲面片 板波探头 1～5 20×20? 30×30 入射角由用户定 爬波探头 1～5 薄波探头 5 可检测5MM以下薄板 可变角探头 2.5 5 10×10 角度可变范围0o～90o 液浸式探头 1～5 Φ10 Φ12 Φ14 Φ20 充水探头 1～5 Φ14 Φ20 双晶充水探头 1～5 Φ14 Φ20 交距由用户定 液浸聚焦探头 1～5 Φ14 Φ20 点聚焦线聚焦 接触式聚焦直探头 2.5? 5 Φ14 Φ20 焦距10～60 接触式聚焦斜探头 2.5? 5 Φ14 Φ20 焦距10～60 常规测厚探头 1～5 小径管测厚探头 1～5 Φ8 中温测厚探头 1～5 上限300℃ 高温测厚探头 1～5 上限500℃ 深水探头 1～5 用于水下超声探伤 常用试验块

Ⅵ 关于车位引导超声波探头，有什么类型

超声波探头的种类和结构如下：直探头（纵波探头）直探头用于发射和接收纵波，故又称为纵波探头。直探头主要用于探测与探测面平行的缺陷，如板材、锻件检测。主要由压电晶片、保护膜、吸收块、电缆接头和外壳等部分组成。斜探头又可分为纵波斜探头、横波斜探头和表面波斜探头。横波探头是利用横波检测，主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷，如焊缝检测、汽轮机叶轮检测等。双晶探头双晶探头又称组合式或分割式探头。两块压电晶片装在一个探头架内，晶片发射，另一个晶片接收，它们发射和接收纵波。晶片下的延迟块（有机玻璃或环氧树脂）使声波延迟一段时间后射人工件，从而可检测近表面缺陷，减小了盲区，并可提高分辨力。两晶片之间用隔声层分开,晶片间的倾角通常在3°〜18°之间。两晶片声场的重叠部分是检测灵敏度的最高区域，此区域一般呈菱形。水浸探头可浸在水中检测，不与工件接触，，其结构与直探头相似，但不需要保护膜。