A. 电子设备可靠性试验包括哪些
可靠性试验按项目可分为环境试验、寿命试验、特殊试验和现场使用试验。
电子产品的可靠性试验大致包括:高低温、温度冲击、运输振动、跌落、高加速寿命试验等。其中高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Testing,简称HALT试验)是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限,从而优化产品的可靠性。
B. 蓝牙耳机要测试哪些东西
蓝牙耳机测试的总是连接的速度吧,比如说你玩游戏,比如说开枪的声音有没有延迟,听音乐有没有延迟?
C. 可靠性试验设备 厂家有哪些
这个太多了,国内国外的都有,就是不知道你需要购买什麽样子的,国内的相对较便宜,但部分可能性能没那么好
目前比较有名的:德国WEISS,美国环测,热测,日本ESPEC,日立,台湾KSON
还有LAB,LDS,UD等等,部分只专某一块
以上只是一小部份,如果需要可以告诉我具体需要哪些方面的设备,我可以做相关推鉴并告知相关销售联络人
我做可靠性检测近10年,对这块还是比较熟悉,相信可以做不错的推鉴
D. 生产耳机都需要哪些检测设备
1、电声测试仪:抄比袭较知名如:丹麦B&K(全球最牛电声测试仪,也是公认的标准,一般用于无响室,价格昂贵不利于用于生产线上测试)、德国DAAS、美国soundcheck/美国LMSSA、意大利CLIO、台湾阳光、国内品牌较多,如吉高(原浙大电声)、佳宏等等。

请参考:http://blog.sina.com.cn/s/blog_b89d38840101djlp.html
E. 可靠性试验包括哪些
电子产品可靠性试验的方法及分类
一、如以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验;
二、以试验项目划分,可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验;
三、若按试验目的来划分,则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验;
四、若按试验性质来划分,也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类。
通常惯用的分类法,是把可靠性试验归纳为五大类:
A.环境试验B.寿命试验C.筛选试验D.现场使用试验E.鉴定试验
一、环境试验
部分可靠性专著把样品置于自然或人工模拟的储存、运输和工作环境中的试验统称为环境试验,是考核产品在各种环境(振动、冲击、离心、温度、热冲击、潮热、盐雾、低气压等)条件下的适应能力,是评价产品可靠性的重要试验方法之一。一般主要有以下几种:
1、稳定性烘培,即高温存储试验
试验目的:考核在不施加电应力的情况下,高温存储对产品的影响。有严重缺陷的产品处于非平衡态,是一种不稳定态,由非平衡态向平衡态的过渡过程既是诱发有严重缺陷产品失效的过程,也是促使产品从非稳定态向稳定态的过渡过程。
这种过渡一般情况下是物理化学变化,其速率遵循阿伦尼乌斯公式,随温度成指数增加.高温应力的目的是为了缩短这种变化的时间.所以该实验又可以视为一项稳定产品性能的工艺。
试验条件:一般选定一恒定的温度应力和保持时间。微电路温度应力范围为75℃至400℃,试验时间为24h以上。试验前后被试样品要在标准试验环境中,既温度为25土10℃、气压为86kPa~100kPa的环境中放置一定时间。多数的情况下,要求试验后在规定的时间内完成终点测试。
2、温度循环试验
试验目的:考核产品承受一定温度变化速率的能力及对极端高温和极端低温环境的承受能力.是针对产品热机械性能设置的。当构成产品各部件的材料热匹配较差,或部件内应力较大时,温度循环试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效。如漏气、内引线断裂、芯片裂纹等。
F. 蓝牙耳机的可靠性测试,相关国家标准
帮你找的不知道是不是你的需要!
蓝牙耳机CE认证/蓝牙耳机CE认证测试/蓝牙耳机CE认证检测/蓝牙耳机 “CE”标志是一种产品认证标志,被视为制造商打开并进入欧洲市场的护照。凡是贴有“CE”标志的产品就可在欧盟各成员国内销售,无须符合每个成员国的要求,从而实现了商品在欧盟成员国范围内的自由流通。在欧盟市场,“CE”标志属强制性认证标志,不论是欧盟内部企业生产的产品,还是其他国家生产的产品,要想在欧盟市场上自由流通,就必须加贴“CE”标志,以表明产品符合欧盟《技术协调与标准化新方法》(以下简称《新方法》)指令的基本要求。这是欧盟法律对产品提出的一种强制性要求。为帮助企业应对欧盟CE认证,亿博科技推出CE认证服务。亿博科技是一家专业从事产品认证的机构,专业从事欧盟CE认证、欧盟ROHS认证、美国FCC认证、美国UL认证、德国GS认证、中国CCC认证等专项业务。我们拥有一批经验丰富的检测工程师及电兼容设计整改工程师,可为您提供标准咨询、组件选择、申请文件制作、产品测试、工厂审查、对策整改及获得认证等“一站式”服务,将保证您用最短的时间、最合理的费用,顺利通往全球市场! 您有任何CE认证方面的问题,请与我们联系!联系人: 余先生 谢小姐 WEB: www.emclab.net 地址: 深圳市福田区竹子林益华大厦北710 公司介绍深圳亿博认证中心(EBO),是一家主要从事电子及电器产品安全(Safty)、电磁兼容(EMC)、有害物质及成品的分析测试和认证(RoHS)及无线电通讯认证测试(RF),医疗器械检测认证的专业服务机构.目前已获得众多国际认证机构的认可,其中包括:德国莱茵(TUV),美国UL,美国联邦通讯委员会(FCC)及美国TIMCO,美国ATCB,MET,挪威NEMKO等,且与中国质量认证中心(CQC),深圳市电子产品质量检测中心(SET),深圳市质量技术监督局,广州赛宝等国家实验室有着良好的合作。我们拥有一批经验丰富的检测工程师及电兼容设计整改工程师,可为您提供标准咨询、组件选择、产品电磁兼容设计、产品安规设计、产品电磁兼容培训咨询、申请文件制作、产品测试、工厂审查、产品电磁兼容对策整改及获得认证等“一站式”服务,将保证您用最短的时间、最合理的费用,顺利通往全球市场! 为您提供专业认证服务: 欧洲认证: 环保RoHS/WEEE CE认证(EMC&LVD) GS认证 全球互认体系CB 德国VDE 北欧四国Nordic (Nemko. Semko, Fimko, Demko )认证 车载E/e Mark认证等; 美洲认证:美国UL FCC FDA ETL 加拿大CSA等; 澳洲认证:澳洲C-Tick 澳洲SAA等; 亚洲认证:日本PSE 新加坡PSB 日本VCCI 韩国Kmark 中国认证:中国3C强制认证 中国CQC自愿性认证 中国ROHS认证; 我们的承诺:诚信 公正 专业 严谨公司网站: www.emclab.net www.ebotech.cn www.rohscn.com
G. 手机可靠性试验需要哪些仪器
7. 可靠性测试程序
7.1. 加速寿命测试ALT (ACCELERATED LIFE TEST)
7.1.1 室温下参数测试(Parametric Test)
7.1.2 温度冲击测试(Thermal Shock)
7.1.3 跌落试验(Drop Test)
7.1.4 振动试验(Vibration Test)
7.1.5 湿热试验(Humidity Test)
7.1.6 静电测试(ESD)
7.2.气候适应性测试(CLIMATIC STRESS TEST)
7.2.1.高温/低温参数测试(Parametric Test)
7.2.2.高温高湿参数测试(Parametric Test)
7.2.3.高温/低温功能测试(Functional Test)
7.2.4.灰尘测试(Dust Test)
7.2.5.盐雾测试(Salt fog Test)
7.3.结构耐久测试(MECHANICAL ENDURANCE TEST)
7.3.1.按键测试(Keypad Test)
7.3.2.侧键测试(Side Key Test
7.3.3.翻盖测试(Flip Life Test)
7.3.4.滑盖测试(Slide Life Test)
7.3.5. 重复跌落测试(Micro-Drop Test)
7.3.6. 充电器插拔测试(Charger Test)
7.3.7.笔插拔测试(Stylus Test)
7.3.8.点击试验 (Point Activation Life Test)
7.3.9划线试验 (Lineation Life Test)
7.3.10.电池/电池盖拆装测试(Battery/Battery Cover Test
7.3.11. SIM Card 拆装测试(SIM Card Test)
7.3.12. 耳机插拔测试(Headset Test)
7.3.13.导线连接强度试验(Cable Pulling Enrance Test--Draft)
7.3.14.导线折弯强度试验(Cable Bending Enrance Test--Draft)
7.3.15.导线摆动疲劳试验(Cable Swing Enrance Test--Draft)
7.4 表面装饰测试(DECORATIVE SURFACE TEST)
7.4.1.磨擦测试(Abrasion Test - RCA)
7.4.2.附着力测试(Coating Adhesion Test)
7.4.3.汗液测试(Perspiration Test)
7.4.4.硬度测试(Hardness Test)
7.4.5. 镜面摩擦测试(Lens Scratch Test)
7.4.6 紫外线照射测试(UV illuminant Test)
7.5. 特殊条件测试(SPECIAL STRESS TEST)
7.5.1. 低温跌落试验(Low temperature Drop Test)
7.5.2. 扭曲测试(Twist Test)
7.5.3. 坐压测试(Squeeze Test)
7.5.4. 钢球跌落测试(Ball Drop Test)
7.6 其他条件测试
7.6.1螺钉的测试(Screw Test)
7.6.2挂绳孔强度的测试(Hand Strap Test)
测试项目对应测试使用仪器,仪器部分是通用的。
H. 如何检测耳机声音强度 即我想监测耳机输出的声音强度。该用什么设备怎么测
专业耳机厂规范测法是采用电声测试仪。将耳机放在规定的治具与MIC规定的距离,用扫频信号提供给耳机,将耳机发声后MIC接收的频响曲线记录,一般摘取1Khz或2Khz点的频响分贝值作为评价值。您如果是个人评价,当然不需要如此规范的做法。用比较听音就好啦!
I. 手机可靠性测试包括哪些
可靠性测试包括六个部分:加速寿命测试,气候适应测试,结构耐久测试,表面装饰测试,特殊条件测试,及其他条件测试。手机可靠性测试项目
1.1. 加速寿命测试ALT (Accelerated Life Test)
1.1.1 室温下参数测试 (Parametric Test)
1.1.2 温度冲击测试(Thermal Shock)
1.1.3 跌落试验(Drop Test)
1.1.4 振动试验(Vibration Test)
1.1.5 湿热试验(Humidity Test)
1.1.6 静电测试(ESD)
1.2.气候适应性测试 (Climatic Stress Test)
A: 一般气候性测试:
1.2.1.高温/低温参数测试(Parametric Test)
1.2.2.高温/低温功能测试(Functional Test)
B:恶劣气候性测试
1.2.3.灰尘测试(Dust Test)
1.2.4.盐雾测试(Salt fog Test)
1.3.结构耐久测试 (Mechanical Enrance Test)
1.3.1.按键测试(Keypad Test)
1.3.2.侧键测试(Side Key Test)
1.3.3.翻盖测试(Flip Life Test)
1.3.4.滑盖测试(Slide Life Test)
1.3.5. 重复跌落测试(Micro-Drop Test)
1.3.6. 充电器插拔测试(Charger Test)
1.3.7.笔插拔测试(Stylus Test)
1.3.8点击试验 (Point Activation Life Test)
1.3.9划线试验 (Lineation Life Test)
1.3.10.电池/电池盖拆装测试(Battery/Battery Cover Test)
1.3.11. SIM Card 拆装测试(SIM Card Test)
1.3.12. 耳机插拔测试(Headset Test)
1.3.13.导线连接强度试验(Cable Pulling Enrance Test--Draft)
1.3.14.导线折弯强度试验(Cable Bending Enrance Test--Draft)
1.3.15.导线摆动疲劳试验(Cable Swing Enrance Test--Draft)
1.4 表面装饰测试 (Decorative Surface Test)
1.4.1.磨擦测试(Abrasion Test - RCA)
1.4.2.附着力测试(Coating Adhesion Test)
1.4.3.汗液测试(Perspiration Test)
1.4.4.硬度测试(Hardness Test)
1.4.5. 镜面摩擦测试(Lens Scratch Test)
1.4.6 紫外线照射测试(UV illuminant Test)
1.5.1. 低温跌落试验(Low temperature Drop Test)
1.5.2. 扭曲测试(Twist Test)
1.5.3. 坐压测试(Squeeze Test)
1.5.4. 钢球跌落测试(Ball Drop Test)
1.6 其他条件测试
1.6.1螺钉的测试(Screw Test)
1.6.2挂绳孔强度的测试(Hand Strap Test)
可靠性是指产品在规定的条件下、在规定的时间内完成规定的功能的能力。产品在设计、应用过程中,不断经受自身及外界气候环境及机械环境的影响,而仍需要能够正常工作,这就需要以试验设备对其进行验证,这个验证基本分为研发试验、试产试验、量产抽检三个部分。
1.其中气候环境包含:高温、低温、高低温交变、高温高湿、低温低湿、快速温度变化、温度冲击、高压蒸煮(HAST)、温升测试、盐雾腐蚀(中性盐雾、铜加速乙酸、交变盐雾)、人工汗液、气体腐蚀(SO2/H2S/HO2/CL2)、耐焊接热,沾锡性,防尘等级测试(IP1X-6X),防水等级测试(IPX1-X8)、阻燃测试,UV老化(荧光紫外灯)、太阳辐射(氙灯老化、卤素灯)、等等;
2.其中机械环境包含:振动(随机振动,正弦振动)、机械冲击、机械碰撞、跌落、斜面冲击,温湿度 振动三综合、高加速寿命测试(HALT)、高加速应力筛选(HASS、HASA)、插拔力,保持力,插拔寿命,按键寿命测试、摇摆试验、耐磨测试、附着力测试、百格测试等
J. 芯片可靠性测试有哪几项国内有哪些公司提供可靠性测试服务
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